公开(公告)号：US07467365B2

公开(公告)日：2008-12-16

申请号：US11521095

申请日：2006-09-14

申请人： George H. Chang ,  Yi-Kan Cheng ,  Chen-Teng Fan ,  Chen-Lin Yang ,  Yung-Chin Hou ,  Chu-Ping James Wang

发明人： George H. Chang ,  Yi-Kan Cheng ,  Chen-Teng Fan ,  Chen-Lin Yang ,  Yung-Chin Hou ,  Chu-Ping James Wang

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5081

摘要： This invention discloses a method for sanity checking integrated circuit (IC) designs based on one or more predefined sub-circuits with at least one predefined checking criteria, the method comprising automatically reading one or more netlists, identifying one or more sub-circuits in the netlists isomorphic to at least one of predefined sub-circuits, identifying one or more device parameters for sanity checking the identified sub-circuits, and comparing the identified device parameters against the predefined checking criteria.

公开(公告)号：US20080072191A1

公开(公告)日：2008-03-20

申请号：US11521095

申请日：2006-09-14

申请人： George H. Chang ,  Yi-Kan Cheng ,  Chen-Teng Fan ,  Chen-Lin Yang ,  Yung-Chin Hou ,  Chu-Ping James Wang

发明人： George H. Chang ,  Yi-Kan Cheng ,  Chen-Teng Fan ,  Chen-Lin Yang ,  Yung-Chin Hou ,  Chu-Ping James Wang

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F9/45

CPC分类号： G06F17/5081

摘要： This invention discloses a method for sanity checking integrated circuit (IC) designs based on one or more predefined sub-circuits with at least one predefined checking criteria, the method comprising automatically reading one or more netlists, identifying one or more sub-circuits in the netlists isomorphic to at least one of predefined sub-circuits, identifying one or more device parameters for sanity checking the identified sub-circuits, and comparing the identified device parameters against the predefined checking criteria.

摘要翻译： 本发明公开了一种基于具有至少一个预定义的检查标准的一个或多个预定义子电路的完整性检查集成电路（IC）设计的方法，所述方法包括自动读取一个或多个网表，识别所述子电路中的一个或多个子电路 网表与至少一个预定义的子电路同构，识别一个或多个设备参数，以便确认所识别的子电路，以及将所识别的设备参数与预定义的检查标准进行比较。