公开(公告)号：US06911815B2

公开(公告)日：2005-06-28

申请号：US10644727

申请日：2003-08-21

申请人： Taek-Joon Jeon ,  Jae-Hong Yun ,  In-Cheol Kim ,  Duk-Soon Choi

发明人： Taek-Joon Jeon ,  Jae-Hong Yun ,  In-Cheol Kim ,  Duk-Soon Choi

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3167 ,  G01R1/04

CPC分类号： G01R31/2887 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/2893 ,  G01R31/3167

摘要： A semiconductor test system and method for the same. A handler is capable of moving and classifying semiconductor packages, a logic tester is capable of receiving a semiconductor package from the handler, and for testing a logic component of the semiconductor package. An analog tester may be coupled to the logic tester, where the analog tester is capable of testing an analog component of the semiconductor package. An interface unit may be included for selectively outputting a logic signal to enable the analog tester.

摘要翻译： 半导体测试系统及其方法。 处理器能够移动和分类半导体封装，逻辑测试器能够从处理器接收半导体封装，并且用于测试半导体封装的逻辑元件。 模拟测试器可以耦合到逻辑测试器，其中模拟测试器能够测试半导体封装的模拟部件。 可以包括接口单元以选择性地输出逻辑信号以使得模拟测试器能够使用。