公开(公告)号：US5562473A

公开(公告)日：1996-10-08

申请号：US294299

申请日：1994-08-23

申请人： Kiyokaza Ikeya ,  Osamu Yamazaki

发明人： Kiyokaza Ikeya ,  Osamu Yamazaki

IPC分类号： H01R33/76 ,  H01L23/32 ,  H01R13/24 ,  H05K7/10 ,  H01R13/62

CPC分类号： H01R13/2442 ,  H05K7/1023

摘要： A socket (100) for the temporary mounting of an electric part such as an IC package (130) for burn-in testing and the like is shown in which a plurality of contact elements (10, 10') are mounted in the socket each having a stationary part (10a), a spring cantilever arm part (10b) and a contact edge part (10e). The contact elements (10, 10') are mounted so that the leads (130a) of an IC package (130) are each received on a respective contact edge part (10e). When the cover (102) of the socket is closed, wall member (105a) engages the top portion of the leads (130a) and exerts a generally vertical downward force on the contact edges (10e) causing them to be depressed to effect electrical connection between leads (130a) and respective contact elements (10, 10').

摘要翻译： 示出了用于临时安装诸如用于老化测试的IC封装（130）的电气部件的插座（100）等，其中多个接触元件（10,10'）安装在插座中 具有固定部分（10a），弹簧悬臂臂部分（10b）和接触边缘部分（10e）。 接触元件（10,10'）被安装成使得IC封装（130）的引线（130a）各自容纳在相应的接触边缘部分（10e）上。 当插座的盖（102）关闭时，壁构件（105a）接合引线（130a）的顶部并且在接触边缘（10e）上施加大体上垂直的向下的力，使其被压下以实现电连接 引线（130a）和相应的接触元件（10,10'）之间。