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    Apparatus and method for modifying physical properties of nanostructure using focused electron beam, and nano-barcode and serial-junction nanowire fabricated thereby
    1.
    发明授权
    Apparatus and method for modifying physical properties of nanostructure using focused electron beam, and nano-barcode and serial-junction nanowire fabricated thereby 有权
    使用聚焦电子束改变纳米结构的物理性能的装置和方法，以及由此制造的纳米条形码和串联结纳米线

    公开(公告)号：US08541480B2

    公开(公告)日：2013-09-24

    申请号：US13104444

    申请日：2011-05-10

    申请人： Jinsoo Joo ,  Young Ki Hong ,  Dong Hyuk Park ,  Seong Gi Jo ,  Min Ho Koo

    发明人： Jinsoo Joo ,  Young Ki Hong ,  Dong Hyuk Park ,  Seong Gi Jo ,  Min Ho Koo

    IPC分类号： H05B6/68 ,  C08G61/04

    CPC分类号： H01J37/3056 ,  B82Y40/00 ,  C08G2261/3221 ,  H01J37/26 ,  H01J37/317 ,  H01J2237/31735

    摘要： According to one embodiment of the present invention, a portion of a light-emitting polymer material or a conductive polymer material can be irradiated with a focused electron beam, so that the physical properties of that portion can be modified. For this purpose, one embodiment of the present invention comprises an apparatus for modifying the physical properties of a nanostructure using a focused electron beam, the apparatus comprising: a nanostructure; a focused electron beam-irradiating unit that serves to irradiate a nanoscale electron beam such that it is focused on the nanostructure; and a focused electron beam-controlling unit that serves to control the irradiation position of the nanoscale electron beam so as to modify the physical property of a portion of the nanostructure.

    摘要翻译： 根据本发明的一个实施例，可以用聚焦电子束照射发光聚合物材料或导电聚合物材料的一部分，从而可以改变该部分的物理性质。 为此目的，本发明的一个实施方案包括用于使用聚焦电子束修饰纳米结构的物理性质的装置，该装置包括：纳米结构; 聚焦电子束照射单元，其用于照射纳米级电子束，使得其聚焦在纳米结构上; 以及聚焦电子束控制单元，其用于控制​​纳米级电子束的照射位置，以便改变纳米结构的一部分的物理性质。