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公开(公告)号：US20120201091A1
公开(公告)日：2012-08-09
申请号：US13022404
申请日：2011-02-07
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/56016 , G11C29/48 , G11C2029/5602
摘要： A memory card and methods for testing memory cards are disclosed herein. The memory card has a test interface that allows testing large numbers of memory cards together. Each memory card may have a serial data I/O contact and a test select contact. The memory cards may only send data via the serial data I/O contact when selected, which may allow many memory cards to be connected to the same serial data line during test. Moreover, existing test socket boards may be used without adding additional external circuitry. Thus, cost effective testing of memory cards is provided. In some embodiments, the test interface allows for a serial built in self test (BIST).
摘要翻译： 本文公开了存储卡和用于测试存储卡的方法。 存储卡具有允许一起测试大量存储卡的测试接口。 每个存储卡可以具有串行数据I / O触点和测试选择触点。 当选择时，存储卡只能通过串行数据I / O触点发送数据，这可能允许许多存储卡在测试期间连接到相同的串行数据线。 此外，可以使用现有的测试插座板，而不增加额外的外部电路。 因此，提供了对存储卡的成本有效的测试。 在一些实施例中，测试接口允许串行内置自检（BIST）。
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公开(公告)号：US08826086B2
公开(公告)日：2014-09-02
申请号：US13022404
申请日：2011-02-07
CPC分类号： G11C29/56016 , G11C29/48 , G11C2029/5602
摘要： A memory card and methods for testing memory cards are disclosed herein. The memory card has a test interface that allows testing large numbers of memory cards together. Each memory card may have a serial data I/O contact and a test select contact. The memory cards may only send data via the serial data I/O contact when selected, which may allow many memory cards to be connected to the same serial data line during test. Moreover, existing test socket boards may be used without adding additional external circuitry. Thus, cost effective testing of memory cards is provided. In some embodiments, the test interface allows for a serial built in self test (BIST).
摘要翻译： 本文公开了存储卡和用于测试存储卡的方法。 存储卡具有允许一起测试大量存储卡的测试接口。 每个存储卡可以具有串行数据I / O触点和测试选择触点。 当选择时，存储卡只能通过串行数据I / O触点发送数据，这可能允许许多存储卡在测试期间连接到相同的串行数据线。 此外，可以使用现有的测试插座板，而不增加额外的外部电路。 因此，提供了对存储卡的成本有效的测试。 在一些实施例中，测试接口允许串行内置自检（BIST）。
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公开(公告)号：US20130033935A1
公开(公告)日：2013-02-07
申请号：US13198606
申请日：2011-08-04
申请人： Loc Tu , Charles Moana Hook , Nyi Nyi Thein
发明人： Loc Tu , Charles Moana Hook , Nyi Nyi Thein
CPC分类号： G11C29/832 , Y10T29/49004
摘要： Techniques are disclosed herein for automatically self-disabling a memory die in the event that a programmable element on the memory die for indicating whether the memory die is defective cannot be trusted. Memory die are provided with chip enable circuitry to allow particular memory die to be disabled. If the programmable element can be trusted, the state of the programmable element is provided to the chip enable circuitry to enable/disable the memory die based on the state. However, if the programmable element cannot be trusted, then the chip enable circuitry may automatically disable the memory die. This provides a greater yield for multi-chip memory packages because packages having memory die with a programmable element that cannot be trusted can still be used.
摘要翻译： 在本文中公开了在存储器管芯上用于指示存储器管芯是否有缺陷的可编程元件不能被信任的情况下，自动自身禁用存储器管芯的技术。 存储器管芯具有芯片使能电路，以允许禁止特定存储器管芯。 如果可编程元件可信任，则可编程元件的状态被提供给芯片使能电路，以基于该状态来启用/禁用存储器管芯。 然而，如果可编程元件不能被信任，则芯片使能电路可以自动地禁用存储器管芯。 这为多芯片存储器封装提供了更大的收益，因为仍然可以使用具有不可信任的可编程元件的具有存储器管芯的封装。
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公开(公告)号：US08446772B2
公开(公告)日：2013-05-21
申请号：US13198606
申请日：2011-08-04
申请人： Loc Tu , Charles Moana Hook , Nyi Nyi Thein
发明人： Loc Tu , Charles Moana Hook , Nyi Nyi Thein
IPC分类号： G11C11/34
CPC分类号： G11C29/832 , Y10T29/49004
摘要： Techniques are disclosed herein for automatically self-disabling a memory die in the event that a programmable element on the memory die for indicating whether the memory die is defective cannot be trusted. Memory die are provided with chip enable circuitry to allow particular memory die to be disabled. If the programmable element can be trusted, the state of the programmable element is provided to the chip enable circuitry to enable/disable the memory die based on the state. However, if the programmable element cannot be trusted, then the chip enable circuitry may automatically disable the memory die. This provides a greater yield for multi-chip memory packages because packages having memory die with a programmable element that cannot be trusted can still be used.
摘要翻译： 在本文中公开了在存储器管芯上用于指示存储器管芯是否有缺陷的可编程元件不能被信任的情况下，自动自身禁用存储器管芯的技术。 存储器管芯具有芯片使能电路，以允许禁止特定存储器管芯。 如果可编程元件可信任，则可编程元件的状态被提供给芯片使能电路，以基于该状态来启用/禁用存储器管芯。 然而，如果可编程元件不能被信任，则芯片使能电路可以自动地禁用存储器管芯。 这为多芯片存储器封装提供了更大的收益，因为仍然可以使用具有不可信任的可编程元件的具有存储器管芯的封装。
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