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    Method and circuit for testing an analog-to-digital converter module on a data processing system having an intermodule bus
    1.
    发明授权
    Method and circuit for testing an analog-to-digital converter module on a data processing system having an intermodule bus 有权
    用于在具有模块间总线的数据处理系统上测试模拟 - 数字转换器模块的方法和电路

    公开(公告)号：US06297757B1

    公开(公告)日：2001-10-02

    申请号：US09248551

    申请日：1999-02-11

    申请人： Jules D. Campbell, Jr. ,  Jiang Chen ,  Robert S. Jones, III ,  Christian Ahrens ,  Scott Willard Herrin

    发明人： Jules D. Campbell, Jr. ,  Jiang Chen ,  Robert S. Jones, III ,  Christian Ahrens ,  Scott Willard Herrin

    IPC分类号： H03M106

    CPC分类号： H03M1/108 ,  H03M1/12

    摘要： A data processing system (20) includes a plurality of modules (44, 48) and an analog-to-digital converter (ADC) (46). The ADC (46) includes at least one port terminal (66) for transmitting test information from the ADC (46). The plurality of modules (44,48) and the ADC (46) are coupled to a central processing unit (CPU) (22) via an intermodule bus (42). A tester can exchange test information with the ADC (46) directly through the port terminal (66) instead of using the intermodule bus (42). Also, various sub-modules (62, 64, 60, 74) of the ADC (46) can be independently tested without performing a conversion process.

    摘要翻译： 数据处理系统（20）包括多个模块（44,48）和模数转换器（ADC）（46）。 ADC（46）包括用于从ADC（46）发送测试信息的至少一个端口（66）。 多个模块（44,48）和ADC（46）经由模块间总线（42）耦合到中央处理单元（CPU）（22）。 测试人员可以直接通过端口（66）与ADC（46）交换测试信息，而不是使用模块间总线（42）。 此外，可以独立地测试ADC（46）的各个子模块（62,64,60,74），而不进行转换处理。