公开(公告)号：US07210081B1

公开(公告)日：2007-04-24

申请号：US10465139

申请日：2003-06-19

申请人： Bruce Euzent ,  Roy Wei-Guang Wu ,  Jeffrey Barton ,  Anil Pannikkat ,  Vadali Mahadev ,  Tomas Jonsson

发明人： Bruce Euzent ,  Roy Wei-Guang Wu ,  Jeffrey Barton ,  Anil Pannikkat ,  Vadali Mahadev ,  Tomas Jonsson

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2803 ,  G01R31/2818 ,  G01R31/318516

摘要： An apparatus performs reliability assessment of electronic hardware. The apparatus includes a test assembly. The test assembly includes at least one programmable logic device (PLD). The PLD is configured to provide a logic function, such as the function of a plurality of inverters coupled in a cascade manner. The apparatus further includes a signal source coupled to the test assembly. The signal source provides a stimulus signal to the test assembly. The apparatus also includes a signal monitor coupled to the test assembly. The signal monitor monitors a response signal generated by the test assembly.

摘要翻译： 一种装置执行电子硬件的可靠性评估。 该装置包括一个测试组件。 测试组件包括至少一个可编程逻辑器件（PLD）。 PLD被配置为提供诸如以级联方式耦合的多个反相器的功能的逻辑功能。 该装置还包括耦合到测试组件的信号源。 信号源向测试组件提供刺激信号。 该装置还包括耦合到测试组件的信号监视器。 信号监视器监视由测试组件产生的响应信号。