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    System and method for testing circuitry on a wafer
    1.
    发明授权
    System and method for testing circuitry on a wafer 有权
    用于在晶片上测试电路的系统和方法

    公开(公告)号：US07412639B2

    公开(公告)日：2008-08-12

    申请号：US10155651

    申请日：2002-05-24

    申请人： Erik H. Volkerink ,  Ajay Koche

    发明人： Erik H. Volkerink ,  Ajay Koche

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/318505 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/318511 ,  G01R31/318533

    摘要： A system and method in which a plurality of dice on a semiconductor wafer are interconnected to enable efficient testing thereof. In certain embodiments a plurality of dice are interconnected in a manner that enables test data to be communicated from a tester system to a plurality of dice for concurrent testing of such plurality of dice. Depending on the amount of interconnection, all or a portion of each of the plurality of dice may be tested concurrently. In certain embodiments, a plurality of dice are interconnected in a manner that enables test data to be communicated from one die to at least one other die. In certain embodiments, a plurality of dice are interconnected in a manner that enables such dice to be tested concurrently while maintaining a repeatable pattern at the reticle level for fabricating such dice.

    摘要翻译： 将半导体晶片上的多个骰子互连以实现其有效测试的系统和方法。 在某些实施例中，多个骰子以使得能够将测试数据从测试器系统传送到多个骰子用于并行测试这样的多个骰子的方式相互连接。 根据互连量，可以同时测试多个骰子中的每一个的全部或一部分。 在某些实施例中，以能够使测试数据从一个管芯传递到至少一个其它管芯的方式互连多个管芯。 在某些实施例中，以能够同时测试这样的骰子的方式互连多个骰子，同时在掩模版级别保持可重复的图案以制造这种骰子。

    MODEL-BASED TESTING METHOD AND SYSTEM USING EMBEDDED MODELS
    2.
    发明申请
    MODEL-BASED TESTING METHOD AND SYSTEM USING EMBEDDED MODELS 审中-公开
    基于模型的测试方法和使用嵌入式模型的系统

    公开(公告)号：US20080086668A1

    公开(公告)日：2008-04-10

    申请号：US11539167

    申请日：2006-10-05

    申请人： Stanley T. Jefferson ,  Ajay Koche ,  Nicholas B. Tufillaro

    发明人： Stanley T. Jefferson ,  Ajay Koche ,  Nicholas B. Tufillaro

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2848 ,  G01R31/3163 ,  G01R31/3167

    摘要： A testing system and various methods involving testing of a device under test (DUT) use a device model to model a stimulus-response behavior of a the DUT. The testing system includes a device model of the DUT that is fitted to the stimulus-response behavior of the DUT and a measurement projector connected to an output of the device model. The device model includes a block diagram model and a difference model. Test metrics for the DUT are produced by the measurement projector from an output of the fitted device model.

    摘要翻译： 测试系统和涉及被测设备（DUT）的测试的各种方法使用器件模型来建立DUT的刺激响应行为。 测试系统包括DUT的装置模型，其被配合到DUT的刺激响应行为和连接到装置模型的输出的测量投​​影仪。 设备模型包括框图模型和差异模型。 DUT的测试指标由测量投影仪从装配型号的输出端产生。