公开(公告)号：US06900628B2

公开(公告)日：2005-05-31

申请号：US10136398

申请日：2002-05-02

申请人： Hidenori Shirahama ,  Masaaki Mihara

发明人： Hidenori Shirahama ,  Masaaki Mihara

IPC分类号： H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  H03K19/00 ,  G01R31/02

CPC分类号： G01R31/2853

摘要： In a pin contact test, a voltage across an external pin is measured by setting a voltage to be supplied to the power supply nodes in input protection circuits in their respective chips at a prescribed amount by means of voltage control circuits and by supplying a prescribed constant current to external pin. Based on the measurement results, a pin contact failure in chips can be detected.

摘要翻译： 在引脚接触测试中，通过设置通过电压控制电路将规定量的各个芯片中的输入保护电路中的输入保护电路中的电源节点设置为电压，并通过提供规定的常数来测量外部引脚上的电压 电流到外部引脚。 基于测量结果，可以检测到芯片中的引脚接触故障。