公开(公告)号：US07501617B2

公开(公告)日：2009-03-10

申请号：US11374093

申请日：2006-03-14

申请人： Isao Hayami ,  Toru Nishikawa ,  Masaya Tateyanagi ,  Syouichi Tanaka

发明人： Isao Hayami ,  Toru Nishikawa ,  Masaya Tateyanagi ,  Syouichi Tanaka

IPC分类号： H01J5/02 ,  H01J40/14

CPC分类号： G01J1/42 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J2001/4247

摘要： A tester according to the present invention can conduct a test on optical devices each having a different positional relation between a position of a contact face of an external contact terminal and a direction of light emitted from a semiconductor laser element.

摘要翻译： 根据本发明的测试器可以对在外部接触端子的接触面的位置和从半导体激光元件发射的光的方向之间具有不同位置关系的光学器件进行测试。

公开(公告)号：US20060208183A1

公开(公告)日：2006-09-21

申请号：US11374093

申请日：2006-03-14

申请人： Isao Hayami ,  Toru Nishikawa ,  Masaya Tateyanagi ,  Syouichi Tanaka

发明人： Isao Hayami ,  Toru Nishikawa ,  Masaya Tateyanagi ,  Syouichi Tanaka

IPC分类号： H01J5/02 ,  H01J40/14

CPC分类号： G01J1/42 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J2001/4247

摘要： A tester according to the present invention can conduct a test on optical devices each having a different positional relation between a position of a contact face of an external contact terminal and a direction of light emitted from a semiconductor laser element.

摘要翻译： 根据本发明的测试器可以对在外部接触端子的接触面的位置和从半导体激光元件发射的光的方向之间具有不同位置关系的光学器件进行测试。