公开(公告)号：US08103980B2

公开(公告)日：2012-01-24

申请号：US12566525

申请日：2009-09-24

申请人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iljima ,  Jun Yashima

发明人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iljima ,  Jun Yashima

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F19/00 ,  G03F1/00 ,  G03C5/00 ,  G06K9/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31764 ,  H01J2237/31769

摘要： A beam dose computing method includes specifying a matrix of rows and columns of regions as divided from a surface area of a target object to include first, second and third regions of different sizes, the third regions being less in size than the first and second regions, determining first corrected doses of a charged particle beam for correcting fogging effects in the first regions, determining corrected size values for correcting pattern line width deviations occurring due to loading effects in the second regions, using said corrected size values in said second regions to create a map of base doses of the beam in respective ones of said second regions, using said corrected size values to prepare a map of proximity effect correction coefficients in respective ones of said second regions, using the maps to determine second corrected doses of said beam for correction of proximity effects in said third regions, and using the first and second corrected doses to determine an actual beam dose at each position on the surface of said object.

摘要翻译： 光束剂量计算方法包括：从目标对象的表面区域划分出区域的行和列的矩阵，以包括不同大小的第一，第二和第三区域，第三区域的尺寸小于第一和第二区域 确定用于校正所述第一区域中的雾化效应的带电粒子束的第一校正剂量，确定用于校正由于所述第二区域中的负载效应而导致的图案线宽度偏差的校正大小值，使用所述第二区域中的所述校正大小值来创建 使用所述校正的大小值，在所述第二区域的各个区域中的所述光束的基本剂量的映射，以使用所述映射来确定所述第二区域中的相应的所述第二区域中的邻近效应校正系数的映射，以确定所述光束的第二校正剂量 校正所述第三区域中的邻近效应，并且使用第一和第二校正剂量来确定实际波束d 在所述对象的表面上的每个位置上。

公开(公告)号：US08352889B2

公开(公告)日：2013-01-08

申请号：US13323986

申请日：2011-12-13

申请人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Jun Yashima

发明人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Jun Yashima

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F19/00 ,  G03F1/00 ,  G06K9/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31764 ,  H01J2237/31769

摘要： A beam dose computing method includes dividing a surface area of a target object into include first, second and third regions of different sizes, the third regions being less in size than the first and second regions, determining first corrected doses of a charged particle beam for correcting fogging effects in the first regions, determining corrected size values for correcting pattern line width deviations occurring due to loading effects in the second regions to create a map of base doses of the beam in respective of said second regions and to prepare a map of proximity effect correction coefficients in respective of said second regions, using the maps to determine second corrected doses of the beam for proximity effect correction in the third regions, and using the first and second corrected doses to determine an actual beam dose at each position on the surface of said object.

摘要翻译： 射束剂量计算方法包括将目标物体的表面积分成包括不同尺寸的第一，第二和第三区域，第三区域的尺寸小于第一和第二区域，确定带电粒子束的第一校正剂量，以便 校正第一区域中的雾化效果，确定用于校正由于第二区域中的负载效应而发生的图案线宽度偏差的校正大小值，以在所述第二区域的各自中创建所述光束的基本剂量图，并且准备接近的图 在所述第二区域的各个区域中的效应校正系数，使用该图确定在第三区域中用于邻近效应校正的光束的第二校正剂量，并且使用第一和第二校正剂量来确定表面上每个位置处的实际光束剂量 的所述物体。

公开(公告)号：US07740991B2

公开(公告)日：2010-06-22

申请号：US11460848

申请日：2006-07-28

申请人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Jun Yashima

发明人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Jun Yashima

IPC分类号： G06F1/00 ,  G06F19/00 ,  G06F17/50 ,  G06K9/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31764 ,  H01J2237/31769

摘要： A beam dose computing method includes specifying a matrix of rows and columns of regions as divided from a surface area of a target object to include first, second and third regions of different sizes, the third regions being less in size than the first and second regions, determining first corrected doses of a charged particle beam for correcting fogging effects in the first regions, determining corrected size values for correcting pattern line width deviations occurring due to loading effects in the second regions, using said corrected size values in said second regions to create a map of base doses of the beam in respective ones of said second regions, using said corrected size values to prepare a map of proximity effect correction coefficients in respective ones of said second regions, using the maps to determine second corrected doses of said beam for correction of proximity effects in said third regions, and using the first and second corrected doses to determine an actual beam dose at each position on the surface of said object.

摘要翻译： 光束剂量计算方法包括：从目标对象的表面区域划分出区域的行和列的矩阵，以包括不同大小的第一，第二和第三区域，第三区域的尺寸小于第一和第二区域 确定用于校正所述第一区域中的雾化效应的带电粒子束的第一校正剂量，确定用于校正由于所述第二区域中的负载效应而导致的图案线宽度偏差的校正大小值，使用所述第二区域中的所述校正大小值来创建 使用所述校正的大小值，在所述第二区域的各个区域中的所述光束的基本剂量的映射，以使用所述映射来确定所述第二区域中的相应的所述第二区域中的邻近效应校正系数的映射，以确定所述光束的第二校正剂量 校正所述第三区域中的邻近效应，并且使用第一和第二校正剂量来确定实际波束d 在所述对象的表面上的每个位置上。

公开(公告)号：US20070114453A1

公开(公告)日：2007-05-24

申请号：US11460848

申请日：2006-07-28

申请人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Jun Yashima

发明人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Jun Yashima

IPC分类号： A61N5/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31764 ,  H01J2237/31769

摘要： A beam dose computing method includes specifying a matrix of rows and columns of regions as divided from a surface area of a target object to include first, second and third regions of different sizes, the third regions being less in size than the first and second regions, determining first corrected doses of a charged particle beam for correcting fogging effects in the first regions, determining corrected size values for correcting pattern line width deviations occurring due to loading effects in the second regions, using said corrected size values in said second regions to create a map of base doses of the beam in respective ones of said second regions, using said corrected size values to prepare a map of proximity effect correction coefficients in respective ones of said second regions, using the maps to determine second corrected doses of said beam for correction of proximity effects in said third regions, and using the first and second corrected doses to determine an actual beam dose at each position on the surface of said object.

摘要翻译： 光束剂量计算方法包括：从目标对象的表面区域划分出区域的行和列的矩阵，以包括不同大小的第一，第二和第三区域，第三区域的尺寸小于第一和第二区域 确定用于校正所述第一区域中的雾化效应的带电粒子束的第一校正剂量，确定用于校正由于所述第二区域中的负载效应而导致的图案线宽度偏差的校正大小值，使用所述第二区域中的所述校正大小值来创建 使用所述校正的大小值，在所述第二区域的各个区域中的所述光束的基本剂量的映射，以使用所述映射来确定所述第二区域中的相应的所述第二区域中的邻近效应校正系数的映射，以确定所述光束的第二校正剂量 校正所述第三区域中的邻近效应，并且使用第一和第二校正剂量来确定实际波束d 在所述对象的表面上的每个位置上。

公开(公告)号：US20070192757A1

公开(公告)日：2007-08-16

申请号：US11671243

申请日：2007-02-05

申请人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe

发明人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe

IPC分类号： G06F17/50 ,  A61N5/00 ,  G21G5/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31764

摘要： A pattern generation method includes changing a dimension of a pattern included in each mesh-like region of a plurality of mesh-like regions by using an area of the pattern and a total sum of lengths of circumferential sides of the pattern included in each mesh-like region to correct a dimension error of the pattern, wherein the dimension error being caused by loading effects and the plurality of mesh-like regions being virtually divided from a pattern forming region of a target object, and generating a pattern of the dimension changed on the target object.

摘要翻译： 图案生成方法包括通过使用图案的区域和包括在每个网状区域中的图案的周边的长度的总和来改变包括在多个网状区域的每个网格区域中的图案的尺寸， 以校正图案的尺寸误差，其中所述尺寸误差是由加载效应引起的，并且所述多个网状区域从目标对象的图案形成区域虚拟地分割，并且生成维度上的尺寸的图案 目标对象。

公开(公告)号：US07619230B2

公开(公告)日：2009-11-17

申请号：US11535725

申请日：2006-09-27

申请人： Junichi Suzuki ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Hideyuki Tsurumaki

发明人： Junichi Suzuki ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Hideyuki Tsurumaki

IPC分类号： G21K5/10 ,  H01J37/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J37/3026 ,  H01J2237/31769

摘要： A charged particle beam writing method includes inputting pattern data for writing a writing region, predicting a writing time for writing the pattern of the pattern data, acquiring, by using a correlation among a time required from a writing start time, the predicted writing time and a base dose of a charged particle beam, a base dose of the charged particle beam after an optional time from a writing start in the case in which the pattern are written, acquiring, by using a correlation among the time required from the writing start time, the predicted writing time and a proximity effect correction coefficient, a proximity effect correction coefficient after an optional time from the writing start in the case in which the pattern are written, calculating, by using the base dose and the proximity effect correction coefficient after the optional time, an exposure dose of the charged particle beam after an optional time from a writing start in the writing time, and writing an optional position in the writing region by using the charged particle beam corresponding to the dose.

摘要翻译： 带电粒子束写入方法包括输入用于写入写入区域的图形数据，预测用于写入图案数据的图案的写入时间，通过使用从写入开始时间所需的时间，预测写入时间和 带电粒子束的基本剂量，在写入图案的情况下从写入开始的任意时间之后的带电粒子束的基本剂量，通过使用写入开始时间所需的时间之间的相关性来获取 ，预测写入时间和接近效应校正系数，在写入图案的情况下从写入开始的可选时间之后的邻近效应校正系数，通过使用基本剂量和后面的邻近效应校正系数 可选时间，在写入时间从写入开始的可选时间之后的带电粒子束的曝光剂量，以及写入可选的posi 通过使用与剂量对应的带电粒子束，在写入区域中进行。

公开(公告)号：US20070114459A1

公开(公告)日：2007-05-24

申请号：US11535725

申请日：2006-09-27

申请人： Junichi SUZUKI ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Hideyuki Tsurumaki

发明人： Junichi SUZUKI ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima ,  Hideyuki Tsurumaki

IPC分类号： G21K5/10

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J37/3026 ,  H01J2237/31769

摘要： A charged particle beam writing method includes inputting pattern data for writing a writing region, predicting a writing time for writing the pattern of the pattern data, acquiring, by using a correlation among a time required from a writing start time, the predicted writing time and a base dose of a charged particle beam, a base dose of the charged particle beam after an optional time from a writing start in the case in which the pattern are written, acquiring, by using a correlation among the time required from the writing start time, the predicted writing time and a proximity effect correction coefficient, a proximity effect correction coefficient after an optional time from the writing start in the case in which the pattern are written, calculating, by using the base dose and the proximity effect correction coefficient after the optional time, an exposure dose of the charged particle beam after an optional time from a writing start in the writing time, and writing an optional position in the writing region by using the charged particle beam corresponding to the dose.

摘要翻译： 带电粒子束写入方法包括输入用于写入写入区域的图形数据，预测用于写入图案数据的图案的写入时间，通过使用从写入开始时间所需的时间，预测写入时间和 带电粒子束的基本剂量，在写入图案的情况下从写入开始的任意时间之后的带电粒子束的基本剂量，通过使用写入开始时间所需的时间之间的相关性来获取 ，预测写入时间和接近效应校正系数，在写入图案的情况下从写入开始的可选时间之后的邻近效应校正系数，通过使用基本剂量和后面的邻近效应校正系数 可选时间，在写入时间从写入开始的可选时间之后的带电粒子束的曝光剂量，以及写入可选的posi 通过使用与剂量对应的带电粒子束，在写入区域中进行。

公开(公告)号：US07511290B2

公开(公告)日：2009-03-31

申请号：US11671814

申请日：2007-02-06

申请人： Junichi Suzuki ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima

发明人： Junichi Suzuki ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima

IPC分类号： A61N5/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31769 ,  H01J2237/31793

摘要： A method for writing a pattern on a workpiece by use of a charged particle beam, the method includes calculating a corrected dose including at least a proximity effect correction dose for correction of proximity effect, calculating a corrected residual difference-corrected dose for correcting a correction residual difference of the corrected dose, calculating a exposure dose of the charged particle beam to be corrected by the corrected dose as corrected by the correction residual difference-corrected dose, and irradiating the charged particle beam onto the workpiece in such a way as to become the exposure dose.

摘要翻译： 一种通过使用带电粒子束在工件上写入图案的方法，所述方法包括计算包括至少邻近效应校正剂量的校正​​剂量以校正邻近效应，计算用于校正校正的校正残差校正剂量 校正剂量的残差，通过由校正残差差校正剂量校正的校正剂量计算要校正的带电粒子束的曝光剂量，并将该带电粒子束照射到工件上以使其成为 曝光剂量。

公开(公告)号：US20070194250A1

公开(公告)日：2007-08-23

申请号：US11671814

申请日：2007-02-06

申请人： Junichi Suzuki ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima

发明人： Junichi Suzuki ,  Keiko Emi ,  Takayuki Abe ,  Tomohiro Iijima

IPC分类号： A61N5/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31769 ,  H01J2237/31793

摘要： A method for writing a pattern on a workpiece by use of a charged particle beam, the method includes calculating a corrected dose including at least a proximity effect correction dose for correction of proximity effect, calculating a corrected residual difference-corrected dose for correcting a correction residual difference of the corrected dose, calculating a exposure dose of the charged particle beam to be corrected by the corrected dose as corrected by the correction residual difference-corrected dose, and irradiating the charged particle beam onto the workpiece in such a way as to become the exposure dose.

摘要翻译： 一种通过使用带电粒子束在工件上写入图案的方法，所述方法包括计算包括至少邻近效应校正剂量的校正​​剂量以校正邻近效应，计算用于校正校正的校正残差校正剂量 校正剂量的残差，通过由校正残差差校正剂量校正的校正剂量计算要校正的带电粒子束的曝光剂量，并将该带电粒子束照射到工件上以使其成为 曝光剂量。

公开(公告)号：US07669174B2

公开(公告)日：2010-02-23

申请号：US11671243

申请日：2007-02-05

申请人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe

发明人： Keiko Emi ,  Junichi Suzuki ,  Takayuki Abe

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F19/00 ,  G21K5/00 ,  G03F1/00

CPC分类号： H01J37/3174 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  H01J2237/31764

摘要： A pattern generation method includes changing a dimension of a pattern included in each mesh-like region of a plurality of mesh-like regions by using an area of the pattern and a total sum of lengths of circumferential sides of the pattern included in each mesh-like region to correct a dimension error of the pattern, wherein the dimension error being caused by loading effects and the plurality of mesh-like regions being virtually divided from a pattern forming region of a target object, and generating a pattern of the dimension changed on the target object.

摘要翻译： 图案生成方法包括通过使用图案的区域和包括在每个网状区域中的图案的周边的长度的总和来改变包括在多个网状区域的每个网格区域中的图案的尺寸， 以校正图案的尺寸误差，其中所述尺寸误差是由加载效应引起的，并且所述多个网状区域从目标对象的图案形成区域虚拟地分割，并且生成维度上的尺寸的图案 目标对象。