公开(公告)号：US20130176774A1

公开(公告)日：2013-07-11

申请号：US13778173

申请日：2013-02-27

Applicant: QUALCOMM Incorported

Inventor： Jung Pill Kim ,  Taehyun Kim ,  Hari M. Rao

IPC: G11C7/06 ,  G06F17/50 ,  G11C11/16

CPC classification number: G11C7/062 ,  G06F17/50 ,  G11C11/16 ,  G11C29/24

Abstract: Systems and methods of testing a reference cell in a memory array are disclosed. In a particular embodiment, a method includes coupling a first reference cell of a first reference cell pair of a memory array to a first input of a first sense amplifier of the memory array. The method also includes providing a reference signal to a second input of the first sense amplifier. The reference signal is associated with a second reference cell pair of the memory array.

Abstract translation: 公开了测试存储器阵列中的参考单元的系统和方法。 在特定实施例中，一种方法包括将存储器阵列的第一参考单元对的第一参考单元耦合到存储器阵列的第一读出放大器的第一输入。 该方法还包括向第一读出放大器的第二输入提供参考信号。 参考信号与存储器阵列的第二参考单元对相关联。