-
公开(公告)号：US07548105B2
公开(公告)日：2009-06-16
申请号：US11395079
申请日：2006-03-31
CPC分类号： G06F11/24 , G01R31/31725 , G01R31/31726 , G01R31/31727
摘要： A method and apparatus for source synchronous testing have been disclosed. In one case a data signal is delayed and a selectively activated delay is applied to a clock. This allows the clock to be positioned before the data and also after the data.
摘要翻译： 已经公开了用于源同步测试的方法和装置。 在一种情况下，数据信号被延迟并且选择性地激活的延迟被施加到时钟。 这使得时钟可以位于数据之前和数据之后。
-
公开(公告)号：US20060294411A1
公开(公告)日：2006-12-28
申请号：US11395079
申请日：2006-03-31
申请人： Robert Shrank , Moussa Sobaiti , Prashant Shamarao , Brian Butka , Jim Harris
发明人： Robert Shrank , Moussa Sobaiti , Prashant Shamarao , Brian Butka , Jim Harris
IPC分类号： G06F1/00
CPC分类号： G06F11/24 , G01R31/31725 , G01R31/31726 , G01R31/31727
摘要： A method and apparatus for source synchronous testing have been disclosed.
摘要翻译： 已经公开了用于源同步测试的方法和装置。
-
公开(公告)号：US07275188B1
公开(公告)日：2007-09-25
申请号：US10683205
申请日：2003-10-10
申请人： Moussa Sobaiti , Robert Shrank , Sudhakar Reddy , Yousif Jirjis
发明人： Moussa Sobaiti , Robert Shrank , Sudhakar Reddy , Yousif Jirjis
CPC分类号： G11C29/06 , G11C15/00 , G11C29/12 , G11C2029/5602
摘要： A method and apparatus for burn-in of semiconductor devices is disclosed. A semiconductor device that includes built-in self test circuitry is coupled to a socket on a burn-in board. The burn in board and the semiconductor device are heated. Burn-in instructions can be transmitted to the semiconductor device through a JTAG terminal of the semiconductor device. Upon receiving a burn-in instruction through a JTAG terminal, the built-in self test circuitry is operable to perform one or more burn-in function. This allows for burn-in of a semiconductor device without any transfer of data through the data input terminals of the semiconductor device.
摘要翻译： 公开了一种用于老化半导体器件的方法和装置。 包括内置自检电路的半导体器件耦合到老化板上的插座。 板上的燃烧和半导体器件被加热。 老化指令可以通过半导体器件的JTAG端子传输到半导体器件。 当通过JTAG端子接收到老化指令时，内置的自检电路可以执行一个或多个老化功能。 这允许半导体器件的老化，而不会通过半导体器件的数据输入端子传输数据。
-
-
搜索结果
3 条记录 (耗时 0.021 秒)
