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公开(公告)号：US20120113737A1
公开(公告)日：2012-05-10
申请号：US13291492
申请日：2011-11-08
申请人： Seung-Won LEE , Sung-Hee Cho
发明人： Seung-Won LEE , Sung-Hee Cho
CPC分类号： G11C5/147
摘要： An electronic device includes a functional unit and a current compensation unit. The functional unit operates based on a power supplied by an external host through power supply lines and generates a control signal based on an amount of power consumption of the functional unit. The current compensation unit compensates a change in a power supply current based on the control signal, where the power supply current is a current flowing through the power supply lines.
摘要翻译： 电子设备包括功能单元和电流补偿单元。 功能单元基于由外部主机通过电源线提供的电力进行工作，并且基于功能单元的功耗量生成控制信号。 电流补偿单元基于控制信号来补偿电源电流的变化，其中电源电流是流过电源线的电流。
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公开(公告)号：US20090010071A1
公开(公告)日：2009-01-08
申请号：US12164226
申请日：2008-06-30
申请人： Seung-Won LEE
发明人： Seung-Won LEE
IPC分类号： G11C16/16
CPC分类号： G11C16/16
摘要： Disclosed is an erasing method for a nonvolatile memory device that includes erasing selected memory cells and erase-verifying the selected memory cells after increasing their threshold voltage by application of a negative bulk bias voltage.
摘要翻译： 公开了一种用于非易失性存储器件的擦除方法，其包括通过施加负体积偏置电压来增加所选择的存储器单元并且在增加其阈值电压之后对所选存储单元进行擦除验证。
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公开(公告)号：US20080093465A1
公开(公告)日：2008-04-24
申请号：US11763856
申请日：2007-06-15
申请人： Seung-Won LEE
发明人： Seung-Won LEE
IPC分类号： G06K19/07
CPC分类号： G06K19/07 , G01R31/3187 , G06K7/0095 , G11C16/04 , G11C29/16 , G11C2029/0401 , G11C2029/1208
摘要： A smart card includes a non-volatile memory, a CPU, and a plurality of pads. The non-volatile memory stores a test program. The CPU is released from a reset state in response to a test enable signal. The CPU executes the test program stored in the non-volatile memory based on predetermined flag information and stores a result of the test program in the non-volatile memory.
摘要翻译： 智能卡包括非易失性存储器，CPU和多个焊盘。 非易失性存储器存储测试程序。 响应于测试使能信号，CPU从复位状态释放。 CPU基于预定的标志信息执行存储在非易失性存储器中的测试程序，并将测试程序的结果存储在非易失性存储器中。
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