公开(公告)号：US20160025755A1

公开(公告)日：2016-01-28

申请号：US14446130

申请日：2014-07-29

申请人： Youngmin Kim ,  Yanning ZHU ,  Yash AGARWAL ,  Xiuzhong WANG ,  Aaron ARMSTRONG ,  Robert BORGERDING ,  Andrew MACGINITIE ,  Antti SEPPO ,  Ilia JCHETOVKIN ,  Michael KILPATRICK ,  Petros TSIPOURAS ,  Triantafyllos P. TAFAS

发明人： Youngmin Kim ,  Yanning ZHU ,  Yash AGARWAL ,  Xiuzhong WANG ,  Aaron ARMSTRONG ,  Robert BORGERDING ,  Andrew MACGINITIE ,  Antti SEPPO ,  Ilia JCHETOVKIN ,  Michael KILPATRICK ,  Petros TSIPOURAS ,  Triantafyllos P. TAFAS

IPC分类号： G01N35/00 ,  G01N21/64

CPC分类号： G01N35/00732 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2021/6441 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2035/00851 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12

摘要： A method for automated microscopic analysis wherein the test protocol is obtained from interrogatable data affixed to each microscope slide. The method further comprises the algorithms that implement the test protocol.

摘要翻译： 一种用于自动显微镜分析的方法，其中从每个显微镜载片上的可询问数据获得测试方案。 该方法还包括实现测试协议的算法。