公开(公告)号：US20160187876A1

公开(公告)日：2016-06-30

申请号：US14949526

申请日：2015-11-23

申请人： w2bi, Inc.

发明人： Derek DIPERNA ,  IRA LEVENTHAL ,  KEITH SCHAUB ,  ARTUN KUTCHUK

IPC分类号： G05B19/418 ,  G01R31/28

CPC分类号： H04B17/16 ,  B25J9/1679 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/32368 ,  G05B2219/37021 ,  G05B2219/37022 ,  G05B2219/37231 ,  G05B2219/37388 ,  G05B2219/37431 ,  G05B2219/37433 ,  G05B2219/37634 ,  G05B2219/40041 ,  G05B2219/45089 ,  G06F3/0346 ,  G06F11/2221 ,  H02J7/025 ,  H04B17/11 ,  H04B17/21 ,  H04B17/29 ,  H04M1/04 ,  H04M1/24 ,  H04N7/18 ,  H04W4/80 ,  H04W24/02 ,  H04W24/06 ,  H04W84/12

摘要： An automatic system level testing (ASLT) system for testing smart devices is disclosed. The system comprises a system controller coupled to and operable to stress a smart device in an enclosure, wherein the enclosure comprises a plurality of components, and wherein the system controller comprises: (a) a memory comprising test logic; and (b) a processor configured to automatically control the plurality of components and test the smart device in accordance with the test logic. Further, the plurality of components comprises: (a) a robotic arm comprising a stylus affixed thereto, wherein the stylus is operable to manipulate the smart device; and (b) a platform comprising a device holder affixed thereto, wherein the device holder is operable to receive the smart device, and wherein the platform and the robotic arm are robotically controlled to move by the processor.

摘要翻译： 公开了一种用于测试智能设备的自动系统级测试（ASLT）系统。 该系统包括耦合到并可操作地压缩外壳中的智能设备的系统控制器，其中所述外壳包括多个部件，并且其中所述系统控制器包括：（a）包含测试逻辑的存储器; 和（b）被配置为根据测试逻辑自动控制多个组件并测试智能设备的处理器。 此外，多个组件包括：（a）机器人手臂，其包括固定到其上的触针，其中所述触控笔可操作以操纵所述智能装置; 和（b）包括固定在其上的装置保持器的平台，其中，所述装置保持器可操作以接收所述智能装置，并且其中所述平台和所述机械手臂被机器人控制以由所述处理器移动。