基板の検査装置
    1.
    发明申请
    基板の検査装置 审中-公开
    基板检查装置

    公开(公告)号:WO2008026559A1

    公开(公告)日:2008-03-06

    申请号:PCT/JP2007/066597

    申请日:2007-08-28

    Inventor: 角田 佳久

    CPC classification number: H05K1/0269 H05K3/341 H05K3/3484 H05K2201/09936

    Abstract:  基板Pを検査する検査ユニット50と、この検査ユニット50に手動で基板Pを供給可能な基板供給ユニット24と、上記基板Pの検査結果を含んだ所定の情報を表示する液晶モニタ4とを備えた基板の検査装置1において、上記基板Pに付与される識別情報を認識するカメラ52と、このカメラ52を通じて取得された識別情報に基づいて上記基板Pの検査履歴を確認するとともに、その基板Pが検査済みであることが確認された場合に、上記液晶モニタ4にその旨の表示を行わせるとともに、上記検査ユニット50による基板Pの検査動作の実行を禁止するように制御するコントロールユニット60と、を設ける。

    Abstract translation: 基板检查装置(1)具有用于检查基板(P)的检查单元(50)。 基板供给单元(24),通过该基板供给单元(24)能够将检查单元(50)手动供给基板(P); 以及用于显示包括基板(P)的检查结果的规定信息的液晶监视器(4)。 检查装置还设置有用于识别给予基板(P)的识别信息的照相机(52)和控制单元(60)。 控制单元基于通过照相机(52)获取的识别信息,确认基板(P)的检查历史,控制液晶监视器(4)显示基板(P)已被检查时,确认 已经检查了基板,并且禁止由检查单元(50)检查基板(P)。

    レーザリフロー装置
    2.
    发明申请
    レーザリフロー装置 审中-公开
    激光反射装置

    公开(公告)号:WO2008081939A1

    公开(公告)日:2008-07-10

    申请号:PCT/JP2007/075301

    申请日:2007-12-28

    Inventor: 角田 佳久

    Abstract:  本体部Mに複数の端子部を設けた表面実装部品Eに対しレーザ光またはレーザビームを照射してプリント基板P上に実装するリフロー方式を採用しているレーザリフロー装置1である。照射ユニット20にはレーザ光源からのレーザ光を発散させる光拡散レンズ21が設けられ、光拡散レンズ21は入射光の断面積D 1 に対する照射スポットの面積D 2 の比が1より大きくなるようにレーザ光を拡大し、本体部Mを通じて下面に照射熱を熱伝導させて半田ボールSを溶融させる。BGA等の表面実装部品を照射熱により損傷させることなく、半田付けができるようにする。

    Abstract translation: 激光回流装置(1)采用将激光或激光束施加到具有多个端子部分的表面安装部分E的回流法,该表面安装部分E用于安装在印刷板P上。照射单元(20) 包括用于漫射来自激光光源的激光的光漫射透镜(21)。 光漫射透镜(21)增加激光,使得照射光斑面积D 2 2与入射光的截面面积D 1的比例大于 并且照射热量经由主体M被热传导到下表面以熔化焊球S.因此,可以进行焊接而不损坏诸如BGA的表面安装部分通过照射热。

    検査装置および検査方法
    3.
    发明申请
    検査装置および検査方法 审中-公开
    检查装置和检查方法

    公开(公告)号:WO2008018591A1

    公开(公告)日:2008-02-14

    申请号:PCT/JP2007/065736

    申请日:2007-08-10

    CPC classification number: G01N21/95684 G01B11/24 H05K1/0269 H05K3/3484

    Abstract: Provided are an inspecting apparatus and an inspecting method, which can detect the internal state of cream solder. An illumination device (5) irradiates a substrate, to which the cream solder has been applied, with an infrared ray of a predetermined intensity. An imaging device (6) takes the image of the substrate irradiated with the infrared ray. A main control unit (95) of a control device (9) can detect the sectional shape of the cream solder from the graphic data of the taken image of the imaging device (6), on the basis of the intensity distribution of the infrared ray reflected from the substrate. Moreover, an eliminating unit (95c) can eliminate the reflected light from the cream solder surface so that the sectional shape of the solder can be more precisely detected.

    Abstract translation: 提供了可以检测奶油焊料的内部状态的检查装置和检查方法。 照明装置(5)用预定强度的红外线照射已经涂敷了膏状焊膏的基板。 成像装置(6)拍摄用红外线照射的基板的图像。 控制装置(9)的主控制单元(95)可以根据成像装置(6)的拍摄图像的图形数据,基于红外线的强度分布来检测奶油焊料的截面形状 从基底反射。 此外,消除单元(95c)可以消除来自奶油焊料表面的反射光,从而可以更精确地检测焊料的截面形状。

    電子部品用テープフィーダ
    4.
    发明申请
    電子部品用テープフィーダ 审中-公开
    电子部件的胶带进给器

    公开(公告)号:WO2009110597A1

    公开(公告)日:2009-09-11

    申请号:PCT/JP2009/054303

    申请日:2009-03-06

    Inventor: 村松 啓且

    CPC classification number: H05K13/0417

    Abstract:  本発明は、テープフィーダ用フレーム部材に回転自在に支持され、複数の電子部品が収納されたテープを送る歯を外周に有するテープ送り用スプロケットと、このスプロケットを回動する電動式駆動装置とを備え、前記電動式駆動装置は、前記フレーム部材に支持されたモータと、前記スプロケットと同心に配置され、且つ前記モータの回転が入力される波動発生器を有するとともに、この波動発生器の回動を減速して前記スプロケットに伝達する波動歯車装置を用いた減速機とを備えている電子部品用テープフィーダである。

    Abstract translation: 本发明公开的用于电子部件的带式给料器配备有用于输送带的链轮,该链条可旋转地支撑在带馈送器框架构件上并具有用于馈送多个电子部件的带的齿,以及电驱动装置, 旋转所述链轮。 所述电气驱动装置配备有由所述框架构件支撑的马达和与所述链轮同心设置的减速器,具有输入所述马达的旋转的波发生器,并且使用减小旋转的波齿轮装置 所述波发生器的速度并将其传送到所述链轮。

    検査装置
    5.
    发明申请
    検査装置 审中-公开
    检查装置

    公开(公告)号:WO2008035765A1

    公开(公告)日:2008-03-27

    申请号:PCT/JP2007/068400

    申请日:2007-09-21

    Abstract:  クリームはんだの組成にかかわらず、クリームはんだの形状を正確に検出することができるようにする。 照明設定部(95b)は、クリームはんだの組成に応じて照明装置(5)により照射する赤外光の強度を設定する。撮像装置(6)は、照明装置(5)により設定された光強度の赤外光をクリームはんだが塗布された基板に照射する。撮像装置(6)は、照明装置(5)により赤外光が照射された基板を撮像する。これにより、基板表面からの反射光の像を含む画像を取得することができる。

    Abstract translation: 准确地检测出奶油焊料的形状,而与奶油焊料组合物无关。 照明设定部(95b)根据膏状焊料组合设定照射装置(5)的红外线的强度。 成像装置(6)将具有由照明装置(5)设定的强度的红外光施加到涂布有膏状焊料的基板上。 成像装置(6)通过照明装置(5)对由红外光照射的基板进行成像。 因此,可以获得包括来自基板表面的反射光的图像的图像。

    基板の外観検査方法および装置
    6.
    发明申请
    基板の外観検査方法および装置 审中-公开
    董事会外观检查方法和设备

    公开(公告)号:WO2008026562A1

    公开(公告)日:2008-03-06

    申请号:PCT/JP2007/066603

    申请日:2007-08-28

    Inventor: 角田 佳久

    Abstract: 【課題】簡単な構成で効率よく基板の外観検査を行う。 【解決手段】カメラ52により撮像された基板Pの撮像画像を、記憶部61に記憶された基準画像データと比較して基板の良否を判定する処理をコントロールユニット60に実行させ、ここで基板Pが不良品と判定されたときに、液晶モニタ4に基板Pの画像を表示して作業者に基板Pを目視判定させ、この目視判定において基板Pが良品と判定された場合に、その良品と判定された基板Pの撮像画像を上記基準画像データとして記憶部61に追加記憶させる。

    Abstract translation: [待解决的问题]要解决的问题是简单的结构设备有效地执行板外观检查。 [解决问题的手段]控制单元(60)将由摄像机(52)拾取的单板(P)的图像与存储在存储单元(61)中的标准图像数据进行比较,并且执行关于是否 董事会是好还是差 当控制单元判断板差时,将液晶显示器(P)显示在操作者的液晶监视器上,通过目视检查来判断板(P)。 当判断出板(P)在目视检查中良好时,判断为良好的板(P)的拍摄图像被附加地存储在存储单元(61)中作为标准图像数据 。

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