Abstract:
A pellicle for use in a microlithographic exposure apparatus (10) has, for an operating wavelength of the apparatus, a maximum transmittance for light rays (56) that obliquely impinge on the pellicle (34; 134; 234) . This ensures smaller variations of the transmittance over a broad range of angles of incidence, as it occurs in very high numerical aperture projection lenses.
Abstract:
Eine Sanitärarmatur enthält eine Lichtquelle zur farbigen Ausleuchtung von Wasser, das aus der Sanitärarmatur aus- oder in diese eintritt. Die Lichtquelle (16) enthält erfindungsgemäß einen Träger (22), über den mindestens vier gehäuselose und als Halbleiterbauelemente ausgebildete lichtemittierende Elemente (241, 242, 243, 244; 241a', 241b', 242a', 242b', 243a', 243b') verteilt sind, wobei mindestens zwei erste lichtemittierende Elemente Licht einer ersten Farbe und mindestens zwei zweite lichtemittierende Elemente Licht einer zweiten Farbe erzeugen. Vorzugsweise sind mehrere lichtemittierende Elemente zu Baugruppen (24) zusammengefaßt, die matrixartig auf dem Träger (20) verteilt sind. Zur Bündelung und Mischung des von den lichtemittierenden Elementen erzeugten Lichts sind dabei diffraktive optische Elemente (27) unmittelbar vor jeder Baugruppe angeordnet.
Abstract:
An illumination system for a microlithographic projection exposure apparatus has a light source (14) emitting linearly polarized light that has a fixed polarization direction (PDi). A polarization rotation unit (PRU, PRU', PRU '') is provided that is configured to rotate the polarization direction on demand by a rotational angle α ≠ 0 0 . This makes it possible to adapt the polarization direction to different masks (M) with minimal losses of the light intensity.
Abstract:
An illumination system of a microlithographic exposure apparatus (PEA) has an optical axis (OA) and a beam transforming device (20; 120; 220; 320; 420; 520; 1020; 1120; 1220; 1320; 1420; 1520). This device comprises a first mirror (122; 222; 322; 422; 522; 1122; 1222; 1322; 1422; 1522) with a first reflective surface (124; 224; 424; 524; 1124; 1224) having a shape that is defined by rotating a straight line, which is inclined with respect to the optical axis (OA), around the optical axis (OA). The device further comprises a second mirror (126, 126a, 126b; 226a, 226b; 326a, 326b; 426a; 426b; 526; 1126; 1226; 1326a, 1326b; 1426a, 1426b; 1526a, 1526b) with a second reflective surface (130, 130a, 130b; 1130) having a shape that is defined by rotating a curved line around the optical axis (OA). At least one of the mirrors has a central aperture (128) containing the optical axis (OA). This device may form a zoom-collimator (1020; 1120; 1220; 1320; 1420; 1520) for an EUV illumination system that transforms a diverging light bundle into a collimated light bundle of variable shape and/or diameter.
Abstract:
Eine Vorrichtung (10) zur Messung einer Abbildungseigenschaft eines optischen Systems (12) erzeugt in einer Brennebene (26) des optischen Systems (12) ein Lichtmuster. Die Vorrichtung umfasst eine Anordnung von N voneinander getrennten Kameras (280; 2811 bis 2814., 2821 bis 2828), wobei jede Kamera ein Objektiv (30) und einen Lichtsensor (32) aufweist, der in einer Brennebene des Objektivs angeordnet ist. Die Kameras sind derart auf einer der Liehtmustererzeugungseinrichtung (14) gegenüberliegenden Seite angeordneten, dass jede Kamera mit ihrem Lichtsensor das unter der Mitwirkung des optischen Systems entstandene Bild von genau einem Ausschnitt des Lichtmusters erfasst. Erfindungsgemäß ist mindestens ein Strahlablenkelement (4211 bis 4214, 4221 bis 4228) derart zwischen dem optischen System und mindestens einer der Kameras (2811 bis 2814, 2821 bis 2828) angeordnet, dass es das auf die mindestens eine Kamera auftreffende Licht (271, 272) von einer Referenzachse (24) der Vorrichtung, an welcher das optische System ausgerichtet ist, ablenkt.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Auslesen einer belichteten Speicherfolie, umfassend eine Lichtquelle, mit der Ausleselicht erzeugbar ist, eine Ablenkeinheit, mit der das Ausleselicht zum Auslesen der Speicherfolie (12) sequenziell mit einem Auslesefleck auf die Speicherfolie richtbar ist, wodurch dort ein wandernder Auslesefleck erzeugbar ist, eine Detektoreinheit für Fluoreszenzlicht, das von der Speicherfolie beim Auslesen mit dem Ausleselicht abgegeben wird, eine Steuereinrichtung, die dazu eingerichtet ist, die Lichtquelle, die Ablenkeinheit und die Detektoreinheit zu steuern. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass die Steuereinrichtung dazu eingerichtet ist, ein Vorauslesen der Speicherfolie zur Ermittlung von Ausleseparametern durchzuführen und nachfolgend ein Auslesen der Speicherfolien mit den ermittelten Ausleseparametern durchzuführen. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Auslesen einer Speicherfolie, mit den Schritten eines Auslesens eines Teils einer auf der Speicherfolienfläche befindlichen Information, einem Ermitteln von Ausleseparametern anhand des ausgelesenen Teils der Information und einem Auslesen des verbleibenden Teils der Information der Speicherfolienfläche mit den Ausleseparametern.
Abstract:
A microlithographic apparatus comprises a light source producing projection light having a center wavelength λ and a projection objective having an optical axis and a transmission filter system. The latter comprises a first and a second diffractive optical element (44, 46). A drive (48) is configured to change the relative position between the first and the second diffractive optical element between an active position, in which the combination of the two diffractive optical elements diffracts more projection light on a light absorbing element than in a neutral position. The axial distance Δz between the two diffractive optical elements (44, 46) fulfils the condition 0 ≤Δz ≤ 3λ.
Abstract:
A microlithographic projection exposure apparatus (10) configured in particular for EUV light includes a projection objective (26) having an adaptive mirror (M2) comprising, for its part, a mirror substrate (44) and an actuation unit (42) for deforming the mirror substrate (44). Using imaging aberrations measured previously, a set of control commands for the actuation unit (42) is determined, and when said set of control commands is transferred to the actuation unit (42), the mirror substrate (44) is deformed such that the imaging aberrations measured previously are corrected. Said set of control commands is stored in a nonvolatile data memory (66) and transferred to the actuation unit (42). If the operation of the projection exposure apparatus is interrupted after relatively long operating durations, the correction state previously present can be rapidly reestablished by simply reloading the stored control commands, without a renewed measurement of the imaging aberrations of the projection objective (26) being required.
Abstract:
A projection objective of a microlithographic projection exposure apparatus comprises a wavefront correction device (42) comprising a refractive optical element (44; 44a, 44b) that has two opposite optical surfaces (46, 48), through which projection light passes, and a circumferential rim surface (50) extending between the two optical surfaces (46, 48). A first and a second optical system (OS1, OS2) are configured to direct first and second heating light (HL1, HL2) to different portions of the rim surface (50) such that at least a portion of the first and second heating light enters the refractive optical element (44; 44a, 44b). A temperature distribution caused by a partial absorption of the heating light (HL1, HL2) results in a refractive index distribution inside the refractive optical element (44; 44a, 44b) that corrects a wavefront error. At least the first optical system (OS1) comprises a focusing optical element (55) that focuses the first heating light in a focal area (56) such that the first heating light emerging from the focal area (56) impinges on the rim surface (50).
Abstract:
A computer program for spine mobility simulation is configured, if running on a computer, to cause the computer to perform the following steps: a) accessing biometric data which relate to the spine of a patient, the spine having at least one compromised spine segment; b) displaying a model of the spine of the patient comprising a plurality of vertebrae; c) enabling a user to change the position of at least one of the vertebrae of the spine model; d) computing the effects of the position change on the remaining vertebrae; e) displaying the spine model in a new configuration, thereby taking into account the position changed by the user in step c) and the position changes of the remaining vertebrae computed in step d).