전자기식 그리드, 전자기식 그리드 제어 장치 및 이를 이용한 엑스선 장치
    2.
    发明申请
    전자기식 그리드, 전자기식 그리드 제어 장치 및 이를 이용한 엑스선 장치 审中-公开
    电磁网,电磁网控制装置和使用其的X射线装置

    公开(公告)号:WO2011162438A1

    公开(公告)日:2011-12-29

    申请号:PCT/KR2010/004700

    申请日:2010-07-19

    CPC classification number: G21K1/025

    Abstract: 엑스선 장치의 전자기식 그리드는 제 1 전극들 및 상기 제 1 전극들 사이에 형성되는 제 2 전극들을 포함하는 상부 기판과, 상기 제 1 전극들에 대향하여 형성되는 제 3 전극들 및 상기 제 3 전극들 사이에 상기 제 2 전극들에 대향하여 형성되는 제 4 전극들이 형성된 하부 기판; 및 상기 상부 기판 및 상기 하부 기판 사이에 존재하고, 상기 제 1 전극들, 제 2 전극들, 제 3 전극들 및 상기 제 4 전극들 사이에 생성되는 전자기장에 의해 집적되어 다수의 벽을 형성하는 금속 입자를 가둘 수 있는 저장부를 포함할 수 있다.

    Abstract translation: X射线装置的电磁栅格包括:上基板,包括形成在第一电极之间的第一电极和第二电极; 包括形成为面对第一电极的第三电极的下基板和形成在第三电极之间以面对第二电极的第四电极; 以及存储单元,设置在所述上​​基板和所述下基板之间,用于存储由在所述第一电极,第二电极,第三电极和第四电极之间产生的电磁场积分的金属颗粒,以形成多个壁。

    엑스선 검출기 및 검출방법
    3.
    发明申请
    엑스선 검출기 및 검출방법 审中-公开
    X射线探测器和检测方法

    公开(公告)号:WO2012008635A1

    公开(公告)日:2012-01-19

    申请号:PCT/KR2010/004653

    申请日:2010-07-16

    CPC classification number: H01L31/085

    Abstract: 엑스선 검출기는 기판 상부에 형성된 제 1 전극과, 상기 제 1 전극의 상부에 형성된 제 1 절연층과 상기 제 1 절연층의 상부에 형성되고, 구멍(hole)을 포함하는 제 2 전극과, 상기 제 2 전극의 상부에 형성된 제 2 절연층과, 상기 제 2 절연층의 상부 양단에 형성된 격벽과, 상기 제 1 절연층, 상기 제 2 전극의 구멍 내부 및 상기 제 2 절연층을 통과하여 형성된 공간의 내부에 형성되는 제 1 영역과, 상기 제 1 영역 및 상기 제 2 절연층의 상부에 형성되는 제 2 영역을 포함하고, 전하를 수집할 수 있는 전하 수집층과, 상기 전하 수집층의 상부에 형성되고, 엑스선 신호가 조사되면 전하를 생성하는 포토 컨덕터층 및 상기 포토 컨덕터층의 상부에 형성된 제 3 전극을 포함할 수 있다.

    Abstract translation: X射线检测器包括:形成在基板上的第一电极; 形成在第一电极上的第一绝缘层; 形成在第一绝缘层上并包括孔的第二电极; 形成在第二电极上的第二绝缘层; 形成在所述第二绝缘层的上部的两端的分隔壁; 电荷收集层,其包括形成在通过第一绝缘层形成的空间内的第一区域,第二电极孔和第二绝缘层,以及形成在第一区域和第二绝缘层上的第二区域, 收取电费; 形成在电荷收集层上并在X射线信号被照射时产生电荷的光导体层; 以及形成在光导体层上的第三电极。

    격벽이 형성된 디지털 엑스선 영상 검출장치 및 그 제조방법
    5.
    发明申请
    격벽이 형성된 디지털 엑스선 영상 검출장치 및 그 제조방법 审中-公开
    具有分割块的数字X射线图像检测装置及其生产方法

    公开(公告)号:WO2012128415A1

    公开(公告)日:2012-09-27

    申请号:PCT/KR2011/002512

    申请日:2011-04-11

    CPC classification number: H01L27/14676 H01L27/14632 H01L27/14696

    Abstract: 격벽이 형성된 디지털 엑스선 영상 검출장치 및 그 제조방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 디지털 엑스선 영상 검출장치는 엑스선을 전기적 신호로 변환하는 광도전층과, 광도전층을 픽셀단위로 분리시키는 격벽과, 광도전층에서 변환된 전기적 신호를 검출하여 엑스선 영상을 생성하는 영상 처리부를 포함한다. 이에 따라 결정구조를 갖는 광 도전물질을 대면적으로 증착할 수 있어서 대면적의 디지털 엑스선 영상 검출장치를 쉽게 구현할 수 있다.

    Abstract translation: 公开了一种其中形成有分隔块的数字X射线图像检测装置及其制造方法。 根据本发明的一个实施例,数字X射线图像检测装置包括:用于将X射线转换成电信号的光电导层; 用于将光电导层分离成像素单元的分隔块; 以及图像处理单元,用于在检测通过光电导层中的转换获得的电信号时产生X射线图像。 因此,可以在大面积上蒸镀具有晶体结构的光电导物质,并且可以容易地获得大直径的数字X射线图像检测装置。

    방사선 검출 장치 및 방사선 검출 방법
    6.
    发明申请
    방사선 검출 장치 및 방사선 검출 방법 审中-公开
    辐射检测装置及其检测方法

    公开(公告)号:WO2012043907A1

    公开(公告)日:2012-04-05

    申请号:PCT/KR2010/006690

    申请日:2010-09-30

    CPC classification number: G01T1/246 H01L31/115

    Abstract: 영상의 해상도를 높일 수 있는 방사선 검출 장치 및 방사선 검출 방법이 제공된다. 일 측면에 따른 방사선 검출 장치는, 방사선을 전달하는 상부 전극층과, 상부 전극층으로부터 유입되는 전하를 막는 제1 절연층과, 방사선에 의해 광 도전성을 나타내는 광 도전층과, 플라즈마 방전으로부터 광 도전층을 보호하는 제2 절연층과, 제2 절연층에 대향하도록 형성된 하부 기판과, 제2 절연층 및 하부 기판 내부에 셀 구조를 형성하는 격벽과, 격벽에 의해 형성되는 셀 구조의 내부 챔버에 포함되어 플라즈마 발광을 일으키는 가스층과, 하부 기판에 형성되는 바닥 전극과, 바닥 전극 상부에 형성되며, 접지 연결되는 제1 RF 전극 및 플라즈마 발생을 위한 RF 전원이 인가되도록 형성된 제2 RF 전극과, 제1 RF 전극 및 제2 RF 전극을 둘러싸도록 형성되어 제1 RF 전극 및 제2 RF 전극을 가스층 및 바닥 전극과 절연하는 제3 절연층을 포함한다.

    Abstract translation: 提供能够提高图像分辨率的放射线检测装置和用于检测辐射的方法。 根据一个实施例的放射线检测装置包括:用于传送辐射的上电极层; 用于阻挡从上电极层施加的电荷的第一绝缘层; 用于通过辐射指示光电导率的光导层; 用于保护光电导层免受等离子体放电的第二绝缘层; 形成为面对第二绝缘层的下基板; 用于在第二绝缘层和下基板内形成电池结构的阻挡肋; 包括在由隔壁形成的电池结构的内部室中以引起等离子体发射的气体层; 形成在下基板上的底电极; 第一RF电极,其形成在所述底部电极的上部并且连接到所述地面; 形成为接收用于产生等离子体的RF功率的第二RF电极; 以及第三绝缘层,其被形成为围绕所述第一RF电极和所述第二RF电极并且使所述第一RF电极和所述第二RF电极与所述气体层和所述底部电极绝缘。

    방사선 검출기 및 방사선 검출 방법
    7.
    发明申请
    방사선 검출기 및 방사선 검출 방법 审中-公开
    辐射检测器和检测辐射的方法

    公开(公告)号:WO2012043908A1

    公开(公告)日:2012-04-05

    申请号:PCT/KR2010/006691

    申请日:2010-09-30

    Abstract: 영상의 해상도를 높이고 복잡한 제조 공정을 개선할 수 있는 방사선 검출기 및 방사선 검출 방법이 제공된다. 방사선 검출기는, 방사선을 전달하는 상부 전극층과, 방사선에 의해 광 도전성을 나타내는 제1 광 도전층과, 제1 광 도전층에서 광 도전성에 의한 전하를 수집하는 전하 수집층과, 판독을 위한 배면광에 의해 광 도전성을 나타내는 제2 광 도전층과, 전하 수집층에 의해 수집된 전하에 의해 대전되는 하부 투명 전극층과, 하부 투명 전극층 및 배면광 조사부 사이에 배치되며, 픽셀 단위로 형성된 마이크로렌즈 층과, 픽셀 단위로 마이크로렌즈 층 및 하부 투명 전극층을 통해 제2 광 도전층으로 배면광을 인가하는 배면광 조사부를 포함한다.

    Abstract translation: 提供了能够提高图像分辨率并且改进复杂的制造过程的辐射检测器和用于检测辐射的方法。 辐射检测器包括:用于传送辐射的上电极层; 用于通过辐射指示光电导率的第一光导层; 电荷收集层,用于从第一光导层收集由于光电导率的电荷; 用于通过回读光指示光电导率的第二光导层; 下部透明电极层,其通过电荷收集层收集的电荷带电; 微透镜层,设置在下透明电极层和背光照射单元之间,并以像素单位形成; 以及背光照射单元,用于将像素单元中的背光通过微透镜层和下透明电极层施加到第二光导体层。

    방사선 검출기 및 방사선 검출 방법
    8.
    发明申请
    방사선 검출기 및 방사선 검출 방법 审中-公开
    辐射检测器和检测辐射的方法

    公开(公告)号:WO2012043906A1

    公开(公告)日:2012-04-05

    申请号:PCT/KR2010/006689

    申请日:2010-09-30

    CPC classification number: G01T1/246 H01L31/115

    Abstract: 영상의 해상도를 높이고 복잡한 제조 공정을 개선할 수 있는 방사선 검출기 및 방사선 검출 방법이 제공된다. 방사선 검출기는, 방사선을 전달하는 상부 전극층과, 방사선에 의해 광 도전성을 나타내는 제1 광 도전층과, 제1 광 도전층에서 광 도전성에 의한 전하를 수집하며 플로팅 전극으로 동작하는 전하 수집층과, 판독을 위한 배면광에 의해 광 도전성을 나타내는 제2 광 도전층과, 전하 수집층에 의해 수집된 전하에 의해 대전되는 하부 투명 전극층과, 픽셀 단위로 하부 투명 전극층을 통해 제2 광 도전층으로 배면광을 인가하는 배면광 조사부를 포함하고, 배면광 조사에 따라 하부 투명 전극층으로부터 전하 수집층에 수집된 전하에 대응하는 신호를 판독하고, 판독된 신호를 이용하여 방사선 영상을 생성하는 데이터 처리부를 포함한다.

    Abstract translation: 公开了一种辐射检测器和用于检测辐射的方法,其可以增加图像分辨率并且改善复杂的制造过程。 辐射检测器包括:透射辐射的上电极层; 第一光电导层,其通过辐射表示光电导率; 电荷收集层,其通过第一光电导层处的光电导收集电荷,并作为浮动电极工作; 通过读取背光表示光电导率的第二光电导层; 通过由电荷收集层收集的电荷带电的下部透明电极层; 以及背光照射单元,其通过下部透明电极层将像素单元中的背光源施加到第二光电导层,其中,本发明包括数据处理单元,其读取与在电荷充电单元中收集的电荷相对应的信号, 根据背光源的照射从下部透明电极层收集层,并且通过使用读取信号来生成放射线图像。

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