背散射检查系统
    1.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2022052892A1

    公开(公告)日:2022-03-17

    申请号:PCT/CN2021/116726

    申请日:2021-09-06

    Abstract: 本发明涉及背散射检查系统。公开了一种背散射检查系统,包括:X射线源,用于生成X射线;笔束形成装置,用于将X射线源生成的X射线调制成X射线笔束;两个探测器,用于接收在调制的X射线笔束照射到待检查物体后背散射的X射线,两个探测器间隔开布置以形成缝隙,探测器包括用于朝向待检查物体的接收面;和屏蔽装置,位于邻近两个探测器之间的缝隙和/或探测器的接收面处,用于降低在X射线笔束到达待检查物体之前引起的散射对探测器的影响。

    背散射扫描系统
    2.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2021185239A1

    公开(公告)日:2021-09-23

    申请号:PCT/CN2021/081036

    申请日:2021-03-16

    Abstract: 一种背散射扫描系统,包括:背散射成像装置(100),适于通过对被检目标进行X射线扫描来获取被检目标的背散射图像。背散射扫描系统还包括全向移载车(200),背散射成像装置(100)被搭载在全向移载车(200)上;全向移载车(200)具有自主导航行驶模式和远程控制行驶模式,从而可依据导航规划按照预定路线自主行驶或者可根据远程控制指令按照预定路线行驶。背散射成像装置(100)被搭载在全向移载车(200)上,可以对被检目标实现不间断、全方位的背散射扫描,既可以遥控操作,又可以自动运行,实现了背散射扫描系统的小型化、模块化和便携性。

    背散射检查系统和方法
    9.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2022052891A1

    公开(公告)日:2022-03-17

    申请号:PCT/CN2021/116725

    申请日:2021-09-06

    Abstract: 一种背散射检查系统,包括:一个或多个飞点出射模块(1),飞点出射模块(1)具有出射侧并且包括第一外壳(11)和连接到第一外壳(11)的第一连接部(15),第一外壳(11)包括位于出射侧的第一狭缝(16);和一个或多个探测模块(2),探测模块(2)具有入射侧和接收侧并包括第二外壳(21)、设置在第二外壳(21)中的两个探测器(22)和第二连接部(23),两个探测器(22)间隔开布置以形成第二狭缝(24),第二狭缝(24)贯穿入射侧和接收侧,第二连接部(23)连接到第二外壳(21)。飞点出射模块(1)和探测模块(2)能够通过第一连接部(15)和第二连接部(23)可拆卸地彼此连接。当飞点出射模块(1)和探测模块(2)彼此连接时,第一狭缝(16)与第二狭缝(24))对准,以使得从飞点出射模块(1)发出的X射线笔束能够连续穿过第一狭缝(16)和第二狭缝(24)并且从探测模块(2)的接收侧射出。还涉及一种使用背散射检查系统的背散射检查方法。可以提高背散射检查系统的便携性和操作灵活性,扩展背散射检查系统的可应用场景,提高背散射检查系统的成像质量和检查准确性。

    光电探测器及其制造方法和辐射探测器

    公开(公告)号:WO2014101601A1

    公开(公告)日:2014-07-03

    申请号:PCT/CN2013/087691

    申请日:2013-11-22

    CPC classification number: H01L31/022416 H01L31/0352 H01L31/105

    Abstract: 提供一种光电探测器(100)及其制造方法和辐射探测器。该光电探测器(100)包括:本征半导体层(101),具有顶部表面和底部表面;位于本征半导体层(101)的顶部表面的P型轻掺杂区(104);位于本征半导体层(101)的顶部表面的P型重掺杂区(103);位于本征半导体层(101)的顶部表面的P型接触层(102);以及位于本征半导体层(101)的底部表面的N型接触层(105),其中,P型重掺杂区(103)与P型轻掺杂区(104)邻接,并且P型接触层(102)与P型重掺杂区(103)和P型轻掺杂区(104)相接触。该光电探测器可以实现高光电转换效率,进而实现高灵敏度。

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