公开(公告)号：WO2015192967A1

公开(公告)日：2015-12-23

申请号：PCT/EP2015/001240

申请日：2015-06-19

Applicant: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH

Inventor： ROSCHER, Burkhard ,  WILHELM, Stefan ,  MÖHLER, Gunter

IPC: G02B21/00 ,  G01J3/12 ,  G02F1/11

CPC classification number: G01J3/1256 ,  G02B21/002 ,  G02B21/16 ,  G02F1/113 ,  G02F2203/21

Abstract: Verfahren und Vorrichtung zur Ansteuerung eines akustooptischen Bauteils zum Beeinflussen hindurchtretenden Lichtes, insbesondere zur Beeinflussung des Beleuchtungs- und/ oder Detektionslichtes im Strahlengang eines Mikroskops, vorzugsweise eines Laser-Scanning-Mikroskops, wobei eine Einstellung der Beleuchtungs und/oder Detektionswellenlänge mit mindestens einem Frequenzgenerator erfolgt der mit dem akustooptischen Bauteil verbunden ist und die Beeinflussung steuert, wobei, vorzugsweise zur Gewährleistung einer temperaturunabhängigen Beeinflussung, der Frequenzgenerator ein Signal erzeugt das für die Intensitätsverteilung der Wellenlänge des Beleuchtungs und/oder Detektionslichtes eine spektrale Spreizung erzeugt wobei die Ansteuerung durch zwei oder mehrere Ansteuersignale derart erfolgt dass zwei oder mehr sich überlappende und/ oder überlagernde Hauptkeulen der Übertragungsfunktion des akustooptischen Bauteils oder Hauptmaxima erzeugt werden.

Abstract translation: 用于驱动声光元件，用于通过操纵光通过，特别是用于在显微镜下，优选激光扫描显微镜，其中所述照明和/或检测波长的调整与至少一个频率发生器进行的光束路径影响的照明和/或检测光的方法和装置 其被连接到所述声光元件并控制的干扰，其中，优选地，以确保与温度无关的干扰，频率发生器生成用于强度的分布来照明和/或检测光的波长，由两个或多个驱动信号与所述控制所产生的频谱扩展的信号 两个或更多个重叠和/或重叠的发生在声光元件或主峰的传递函数的这样的主瓣被生成。

公开(公告)号：WO2016202612A1

公开(公告)日：2016-12-22

申请号：PCT/EP2016/062644

申请日：2016-06-03

Applicant: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH

Inventor： ANHUT, Tiemo ,  HAASE, Daniel ,  KLEMM, Frank ,  ROSCHER, Burkhard ,  SCHWEDT, Daniel ,  KAUFHOLD, Tobias

IPC: G02B21/00

CPC classification number: G06T5/006 ,  G02B21/008 ,  G02B27/0031 ,  G06T5/50 ,  G06T7/0002 ,  G06T7/97 ,  G06T2207/10056 ,  G06T2207/30168

Abstract: Die Erfindung betrifft Verfahren zur Bestimmung und Kompensation von geometrischen Abbildungsfehlern, die bei der Abbildung eines Objektes durch sequentielle Einzel- oder Multispotabtastung mittels eines mikroskopischen Abbildungssystems entstehen, umfassend folgende Verfahrensschritte: - Festlegen eines Bezugsobjektes mit einer definierten ebenen Struktur, - Erzeugung eines von geometrischen Abbildungsfehlern freien elektronischen Bilddatensatzes dieser Struktur, - Erzeugen mindestens eines elektronischen Ist-Bilddatensatzes mit dem Abbildungssystem, - Vergleichen des Ist-Bilddatensatzes mit dem Referenz-Bilddatensatz bezüglich der Orte derjenigen Bildpunkte, die jeweils denselben Objektpunkt als Ursprung haben, - Bestimmen von Orts-Abweichungen im Ist-Bilddatensatz gegenüber dem Referenz-Bilddatensatz, - Speichern ermittelter Orts-Abweichungen als Korrektionsdaten, - Kompensation der geometrischen Abbildungsfehler durch Korrektur der Orts-Abweichungen im Ist-Bilddatensatz anhand der Korrektionsdaten.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于确定和几何像差补偿，通过包括以下步骤的显微镜成像系统的装置，发生通过顺序单或多点扫描的物体的图像的方法： - 设置具有限定平坦结构的参考对象， - 产生几何像差 自由电子图像数据设置该结构， - 产生至少一个电子实际图像数据与成像系统设置， - 比较所述实际图像数据与基准图像数据相对于设定为这些像素的位置设置，每一个都具有相同的对象点为原点， - 确定局部变化 相比于参考图像数据集实际图像数据集， - 通过在所述基于实际图像数据集去校正所述局部变化的几何像差的补偿 - 保存决定局部差异作为校正数据， [R校正数据。

公开(公告)号：WO2018202607A1

公开(公告)日：2018-11-08

申请号：PCT/EP2018/061008

申请日：2018-04-30

Applicant: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH

Inventor： LIEDTKE, Mirko ,  KÜHM, Andreas ,  ROSCHER, Burkhard ,  PRESSER, Nico

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/36 ,  G06F1/10

CPC classification number: G02B21/008 ,  G02B21/002 ,  G02B21/365 ,  G06F1/10

Abstract: Ein Mikroskopsystem umfasst mehrere Mikroskopmodule, welche zur Datenübertragung miteinander verbunden sind. Das Mikroskopsystem ist gekennzeichnet durch einen zentralen Taktgeber, dessen Taktsignal an alle Mikroskopmodule gegeben wird. Die Mikroskopmodule sind dazu eingerichtet, das Taktsignal oder einen hieraus abgeleiteten Takt als internen Takt zu verwenden. Zudem wird ein entsprechendes Verfahren zum Betreiben eines solchen Mikroskopsystems beschrieben.