Abstract:
Ein Verfahren zum Verkapseln einer MEMS-Struktur in einer Stapelstruktur umfasst ein Bereitstellen einer funktionalen Waferstruktur, die zumindest teilweise die MEMS-Struktur umfasst. Das Verfahren umfasst ein Anordnen der funktionalen Waferstruktur und eines Glaswafers in der Stapelstruktur und entlang einer Stapelrichtung zueinander und wird ausgeführt, so dass eine Kavität, in welcher zumindest ein Teil der MEMS-Struktur angeordnet ist, an einer Seite entlang der Stapelrichtung mit dem Glaswafer verschlossen ist und, so dass eine Abstandsstruktur zwischen dem Teil der MEMS-Struktur und dem Glaswafer in der Stapelstruktur angeordnet wird, um einen Abstand zwischen dem Teil der MEMS-Struktur und dem Glaswafer entlang der Stapelrichtung bereitzustellen, so dass die Abstandsstruktur einen Teil der Kavität umschließt.
Abstract:
The present disclosure provides a deflection device (100, 200, 300, 400) for use in a scanner. The deflection device (100, 200, 300, 400) includes a substrate (102, 202), a mirror (106, 206, 304, 404) and actuator means (110). The mirror (106, 206, 304, 404) arranged in a recess (104, 204, 306, 406) in the substrate (102, 202) by connector means (108) in such a way that it can rotate about at least two axes in an oscillatory manner. The actuator means (110) causes the mirror (106, 206, 304, 404) to oscillate. The actuator means (110) are arranged in one or more trenches (112A-D) in the substrate (102, 202) surrounding the recess (104, 204, 306, 406), in such a way that a change of shape of the actuator means (110) will cause a movement in the substrate (102, 202), thereby inducing oscillatory movement of the mirror (106, 206, 304, 404).
Abstract:
Es wird eine Mikrospiegelanordnung vorgeschlagen, die umfasst einen ersten Feder-Masse-Schwinger, der einen eine Spiegelplatte (1) bildenden Schwingkörper und erste Federelemente (2) aufweist, einen zweiten Feder-Masse-Schwinger, der eine Antriebsplatte (3) und zweite Federelemente (4) aufweist und der über die zweiten Federelemente (4) mit einer Trägeranordnung {5, 8, 9) verbunden ist, wobei der erste Feder-Masse-Schwinger über die ersten Federelemente (2) in dem zweiten Feder-Masse-Schwinger aufgehängt ist, und eine Antriebsanordnung (11), die der Antriebsplatte zugeordnet ist und ausgebildet ist, die Antriebsplatte (3) zum Schwingen anzuregen. Der Schwingkörper (1) ist zweiachsig beweglich über die ersten Federelemente (2) an der Antriebsplatte (3) aufgehängt und die Antriebsplatte (3) ist zweiachsig beweglich mit der Trägeranordnung (5, 8, 9) verbunden, wobei die Antriebsanordnung (11) als zweiachsiger Antrieb ausgeführt und ausgebildet ist, die Antriebsplatte (3) zweiachsig anzutreiben, derart, dass der Schwingkörper (1) zweiachsig mit jeweils einer seiner orthogonalen Eigenmoden oder nahe dieser Eigenmoden schwingt.
Abstract:
Die vorliegende Anmeldung betrifft ein mikromechanisches Bauteil (1) und ein Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauteils (1). Das vorgeschlagene mikromechanische Bauteil (1) umfasst einen Schichtaufbau und mindestens ein piezoelektrisches Element (10). Das piezoelektrische Element (10) enthält eine erste Elektrode (5) und zweite Elektrode (27) zur Erzeugung und/oder Erfassung von Auslenkungen eines Auslenkungselementes (16). Das Auslenkungselement (16) ist mit einer Halterung (17) verbunden. Der Schichtaufbau des mikromechanischen Bauteils (1) weist ein Siliziumsubstrat (2), eine leitfähige Halbleiterschicht (26), eine piezoelektrische Schicht (7) und einen leitfähigen Schichtfilm (12) auf. Die leitfähige Halbleiterschicht (26) bildet die erste Elektrode (5) und der leitfähige Schichtfilm (12) bildet die zweite Elektrode (27) des piezoelektrischen Elementes, wobei die leitfähige Halbleiterschicht (26) gleichzeitig eine Trägerschicht (28) für das Auslenkungselement (16) bildet.
Abstract:
A micromechanical resonator wafer assembly includes an actuator wafer supporting an outer actuator layer. The outer actuator layer includes an oscillating part configured to be driven by an electrical drive signal. The micromechanical resonator wafer assembly further includes a device wafer mounted on top of the actuator wafer. The device wafer includes a plurality of inner actuators. Each of the inner actuators include an oscillation body configured to oscillate about one or more axes. The device wafer is physically connected to the actuator wafer such that each of the inner actuators forms with the outer actuator layer a coupled oscillation system for excitation of the oscillation body of the respective inner actuator. The micromechanical resonator wafer assembly provides external actuation of the oscillation body of each of the inner actuators by use of the outer actuator layer and hence, provides improved scan angles with fast start-up time.
Abstract:
There is provided a micro-electromechanical system (MEMS) device (102, 200, 300, 404) for cancelling noise generated by oscillation of a movable micro-electromechanical system (MEMS) element (104, 204, 304, 406). The micro-electromechanical system (MEMS) device (102, 200, 300, 404) includes the movable micro-electromechanical system (MEMS) element (104, 204, 304, 406), an actuator (106, 208, 306, 408), a controller (108, 410) and a movable noise cancelling element (110, 202, 312, 412). The controller (108, 410) provides electrical signals to drive the actuator (106, 208, 306, 408) and the movable noise cancelling element (110, 202, 312, 412) in a way to cancel the noise generated in the micro-electromechanical system (MEMS) device (102, 200, 300, 404) by oscillation of the movable MEMS element (104, 204, 304, 406). The movable noise-cancelling element (110, 202, 312, 412) produces anti-phase noise based on the electrical signals received from the controller (108, 410) to cancel noise caused by oscillation of the movable MEMS element (104, 204, 304, 406) based on the control signals received from the controller (108, 410).
Abstract:
A deflection device for Lissajous scanning is provided. The deflection device includes a frame and a mirror. The mirror is movably arranged in a recess in the frame by means of a suspension mount including one or more springs. The mirror may be configured to swing back and forth about each of two or three axes with a respective eigenfrequency for reflecting incoming light at different angles to form a two-dimensional Lissajous pattern. The deflection device may include a driving device configured to excite swing motion of the mirror about each of the two or three axes at or near the respective eigenfrequency. Each of the one or more springs has a shape of a path segment along a circumference of the mirror together covering more than 360 degrees. An arrangement of the one or more springs provides a compact suspension for the mirror and larger tilt angles.
Abstract:
Es wird eine Mikrospiegelanordnung mit einer über Federelemente an einem Substrat befestigten Spiegelplatte (2), wobei der Spiegelplatte eine Antriebseinheit (9, 10) zugeordnet ist, die ausgebildet ist, die Spiegelplatte um mindestens eine Achse zur Schwingung um diese Achse anzutreiben, vorgeschlagen. Die Federelemente sind als mehrere, die Spiegelplatte (2) im Wesentlichen in ihrer Spiegelplattenebene umgebenden Federringrahmen (3) ausgebildet, wobei der innerste, an die Spiegeiplatte (2) angrenzende Federringrahmen (3) an zwei gegenüberliegenden Verbindungsstellen (5) mit der Spiegelplatte (2) verbunden ist, die Federringrahmen untereinander jeweils an zwei gegenüberliegenden Verbindungstellen (7, 8, 13) verbunden sind und der äußerste, an das Substrat (4) angrenzende Federringrahmen (3) an zwei gegenüberliegenden Verbindungsstellen (6, 12) mit dem Substrat (4) verbunden ist. Dabei sind die Verbindungsstellen (5, 7, 8, 13, 12) zwischen Spiegelplatte (2) und innerstem Federringrahmen (3), zwischen den Federringrahmen (3) selbst und zwischen äußerstem Federringrahmen (3) und Substrat (4) gegeneinander versetzt.
Abstract:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit mindestens einer freitragenden Struktur, bei dem eine Leiterbahnebene (11) und eine Opferschicht (4) aus einem elektrisch nicht leitenden Material so auf ein Substrat (2) aufgebracht werden, dass die Leiterbahnebene (11) zwischen Substrat (2) und Opferschicht (4) oder innerhalb der Opferschicht (4) liegt, auf die Opferschicht (4) eine die freitragende Struktur bildende Schicht (3) abgeschieden wird und die Opferschicht (4) zur Fertigstellung der freitragenden Struktur durch einen Ätzprozess teilweise entfernt wird. Bei dem vorgeschlagenen Verfahren wird oberhalb eines zu schützenden Bereichs der Leiterbahnebene (11) eine elektrisch leitfähige Schutzschicht (15) in die Opferschicht (4) eingebettet, die als Ätzstoppschicht beim Ätzprozess für die Entfernung der Opferschicht (4) dient. Die Schutzschicht (15) wird in einem nachfolgenden Prozess wieder entfernt, wobei eine darunter liegende dünne Opferschicht (17) als Passivierungsschicht auf den Leiterbahnen verbleibt. Das Verfahren ermöglicht den Schutz der Leiterbahnebene in sensiblen Bereichen und lässt sich einfach mit bestehenden Oberflächen-mikromechanischen Prozessen umsetzen.