公开(公告)号：WO03089941A2

公开(公告)日：2003-10-30

申请号：PCT/US0311470

申请日：2003-04-14

Applicant: TERADYNE INC

Inventor： BENTLEY NEIL R ,  CHIU MICHAEL A ,  PETITTO WAYNE

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/01 ,  G01R31/28 ,  G01R31/319 ,  G01R

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/31905

Abstract: A subassembly to aid in changing the interface unit for an automatic test system. The disclosed embodiment shows an automatic test system with a handler and a tester. The interface unit is a device interface board (DIB). The subassembly allows the DIB to be easily accessed, yet can be properly aligned to the test system. No special tools are required to change the DIB.

Abstract translation: 一个子组件，用于改变自动测试系统的接口单元。 所公开的实施例示出了具有处理器和测试器的自动测试系统。 接口单元是设备接口板（DIB）。 子组件允许DIB容易访问，但可以正确对准测试系统。 没有必要的工具来更改DIB。