公开(公告)号：WO2016202749A1

公开(公告)日：2016-12-22

申请号：PCT/EP2016/063525

申请日：2016-06-13

Applicant: THYSSENKRUPP SYSTEM ENGINEERING GMBH ,  THYSSENKRUPP AG

Inventor： JUST, Philipp ,  EBERT, Lars ,  ECHELMEYER, Thomas ,  KRAMER, Marcel ,  ROSCHER, Michael

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01N25/72 ,  G01N2021/1714

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abschirmvorrichtung (1) zur Abschirmung eines Beobachtungsbereichs eines Werkstücks (3) vor einer Sekundäranregungsstrahlung (4) während einer aktiven Thermographie-Werkstoffprüfung mit einer thermischen Anregung des Werkstücks (3) in einem Anregungsbereich mittels einer Primäranregungsstrahlung. Die Abschirmvorrichtung (1) weist ein Abschirmsegment (6) auf zur Positionierung zwischen dem Beobachtungsbereich (2) des Werkstücks (3) und einer Erhebung, wobei das Abschirmsegment (6) eine hohe Transmissivität für die Primäranregungsstrahlung (5) aufweist. Das Abschirmsegment (1) weist keine oder eine geringe Transmissivität für die Sekundäranregungsstrahlung (4) auf. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Durchführung einer aktiven Thermographie-Werkstoffprüfung sowie eine Verwendung.

Abstract translation: 本发明涉及一种屏蔽装置（1），用于与在激励区中的工件（3）的热激发由初级激发辐射的装置的活性热成像材料在测试过程中的二次激发辐射（4）之前的屏蔽的工件（3）的观察部。 屏蔽装置（1）包括一个Abschirmsegment（6），用于在观察区域之间定位所述工件（3）和收集，其中，所述Abschirmsegment（6）具有用于初级激发辐射的高透射率的（2）（5）。 所述Abschirmsegment（1）不具有或具有低透射率的二次激发辐射（4）。 本发明还涉及用于进行活性热成像材料测试的方法，以及用途。

公开(公告)号：WO2016016448A1

公开(公告)日：2016-02-04

申请号：PCT/EP2015/067721

申请日：2015-07-31

Applicant: THYSSENKRUPP SYSTEM ENGINEERING GMBH ,  THYSSENKRUPP AG

Inventor： KRAMER, Marcel ,  JUST, Philipp ,  EBERT, Lars ,  ECHELMEYER, Thomas ,  ROSCHER, Michael

IPC: B23K37/04 ,  B23K20/10 ,  B23K31/12 ,  B23K26/70

CPC classification number: B23K20/10 ,  B23K20/22 ,  B23K26/03 ,  B23K26/244 ,  B23K26/702 ,  B23K31/125 ,  B23K37/0408 ,  B23K37/0435 ,  B23K2201/18 ,  B23K2201/36

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft einen Niederhalter zum Festlegen eines Werkstücks während eines Fügevorgangs mit einer Anpressfläche zum Aufbringen eines Anpressdrucks auf das Werkstück, und mit einer in der Anpressfläche angeordneten Messelektrode zur Durchführung einer Widerstandsmessung. Ferner betrifft die Erfindung eine Schweißvorrichtung zum Laserschweißen oder Ultraschallschweißen mit einem derartigen Niederhalter. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Überprüfen des Vorhandenseins und/oder der Qualität einer Fügeverbindung zwischen mehreren Werkstücken, wobei ein Werkstück über mindestens einen ersten Niederhalter festgelegt wird, der eine Anpressfläche aufweist, über welche ein Anpressdruck auf das Werkstück aufgebracht wird und wobei eine Widerstandsmessung mittels einer in der Anpressfläche angeordneten Messelektrode durchgeführt wird.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于具有用于施加接触压力施加到工件上的按压面的接合操作过程中固定工件的压紧，并与设置在测量电极的按压表面执行电阻测量。 此外，本发明涉及一种用于激光焊接或超声焊接，利用这样的压紧装置的焊接设备。 此外，本发明涉及一种方法，用于检查是否存在和/或多个工件之间的接头连接的质量，通过至少一个第一压紧工件被定义，具有按压面，在其上施加在工件上的压力，并且其中一个电阻测量 通过设置在测量电极的按压面来进行。

公开(公告)号：WO2015058843A1

公开(公告)日：2015-04-30

申请号：PCT/EP2014/002778

申请日：2014-10-15

Applicant: THYSSENKRUPP SYSTEM ENGINEERING GMBH

Inventor： JUST, Philipp ,  ECHELMEYER, Thomas ,  ROSCHER, Michael ,  EBERT, Lars

IPC: H01M4/04 ,  H01M4/139 ,  H01M8/10 ,  H01M10/04 ,  H01M10/42 ,  H01M8/04

CPC classification number: H01M10/0404 ,  G01N25/72 ,  H01G11/26 ,  H01G11/86 ,  H01M4/0435 ,  H01M4/139 ,  H01M8/0432 ,  H01M8/1007 ,  H01M10/4285

Abstract: Es wird ein Verfahren zur Prüfung einer für die Herstellung eines Energiespeichers vorgesehenen Elektrode vorgeschlagen, welches die Schritte aufweist: Bereitstellen der Elektrode in einem ersten Verfahrensschritt, thermisches Anregen der Elektrode in einem zweiten Verfahrensschritt, Erstellen eines Thermogramms der Elektrode in einem dritten Verfahrensschritt und Auswerten des Thermogramms in einem vierten Verfahrensschritt.

Abstract translation: 它提出了一种方法，用于测试的预期为包括以下步骤的能量存储电极的制造：在第一处理步骤中提供的电极，在第二工艺步骤中，电极的热激发，在第三方法步骤创建所述电极的热和评估 温谱图中的第四方法步骤。