公开(公告)号：WO2011144333A1

公开(公告)日：2011-11-24

申请号：PCT/EP2011/002480

申请日：2011-05-18

Applicant: FACHHOCHSCHULE TRIER ,  SCHUTH, Michael ,  ROBERT, Dietmar ,  NÄGEL, Daniel

Inventor： SCHUTH, Michael ,  ROBERT, Dietmar ,  NÄGEL, Daniel

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/24

CPC classification number: G01B11/164 ,  G01B9/0201 ,  G01B9/02072 ,  G01B9/02095

Abstract: Die Erfindung betrifft optische Messsysteme und optische Messverfahren basierend auf Digital-Holografie zur Messung zumindest einer Komponente der Verformung und/oder Dehnung eines Messobjekts in zumindest einer vorgegebenen oder vorgebbaren Richtung mittels Digital-Holographie. Das optische Messsystem umfasst eine Digital-Holographie Vorrichtung (12, 12-1, 12-2, 12-3) zum Beleuchten eines Abtastbereichs eines Messobjekts, welche eine out-of-plane und/oder eine in-plane Digital-Holographie Anordnung mit zumindest zwei kohärenten Strahlen aufweist, und ein Mikroskopobjektiv (24) dessen optische Achse im Wesentlichen parallel zu einer vertikalen Richtung ist und welches in dem optischen Pfad des zumindest einen Teils des vom Messobjekt (22) reflektierten Lichts angeordnet ist, wobei, wenn gesehen in der vertikalen Richtung, die Digital-Holographie Vorrichtung (12, 12-1, 12-2, 12-3) unterhalb oder oberhalb des Mikroskopobjektivs (24) und/oder eines Mikroskopgrundkörpers angeordnet ist.

Abstract translation: 本发明涉及一种基于数字全息用于通过数字全息来测量测试对象的变形和/或伸长率的至少一个部件中的至少一个预定的或可预定方向的光学测量系统和光学测量方法。 光学测量系统包括用于与测量对象物的扫描范围照明的数字全息装置（12，12-1,12-2，12-3）其中外的平面和/或面内数字全息装置 具有至少两个相干光束，和一个显微镜物镜（24），其光轴基本上平行于垂直方向和光配置在测定对象物（22），其中，当在可见的至少一部分的光路，其反射 垂直方向上，上述数字全息装置（12，12-1,12-2，12-3）设置的下方或上方的显微镜物镜（24）和/或显微镜主体。

公开(公告)号：WO2017085457A1

公开(公告)日：2017-05-26

申请号：PCT/GB2016/053425

申请日：2016-11-03

Applicant: OPTONOR AS ,  WILSON, Timothy James

Inventor： VIKHAGEN, Eiolf

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/16 ,  G01P3/36 ,  G01H9/00

CPC classification number: G01B9/02045 ,  G01B9/02089 ,  G01B9/02095 ,  G01B9/02098 ,  G01B11/162 ,  G01D5/266 ,  G01H9/00 ,  G01P3/36 ,  G01P15/093 ,  G01S7/4917 ,  G01S17/32 ,  G01S17/58 ,  G01S17/89

Abstract: An optical interferometer (1) is used to determine information about the position, gradient or motion of a surface of an object (2) at each of a plurality of points on the surface. An image is projected onto the surface of the object (2), such that, for each of the plurality of points, the intensity or spectrum of the projected image at that point depends on the determined information about the position, gradient or motion of the surface at that point.

Abstract translation: 光学干涉仪（1）用于确定关于表面上的多个点中的每一个处的物体（2）的表面的位置，梯度或运动的信息。 将图像投影到物体（2）的表面上，使得对于多个点中的每一个点，投影图像在该点处的强度或光谱取决于所确定的关于该物体（2）的位置，梯度或运动的信息 表面在那一点。

公开(公告)号：WO1997029340A1

公开(公告)日：1997-08-14

申请号：PCT/GB1997000331

申请日：1997-02-05

Applicant: THE SECRETARY OF STATE FOR TRADE & INDUSTRY ,  VIRDEE, Manohar, Singh

Inventor： THE SECRETARY OF STATE FOR TRADE & INDUSTRY

IPC: G01B09/02

CPC classification number: G01B9/02052 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02095

Abstract: An interferometer includes an He-Ne laser coupled into a probe part by an optical feed, a beam splitter (14) splitting the beam between a target and a narrow angle scatterer (16). The beam splitter (14) also combines the reflected signals from the target and the scatterer (16) and feeds them to signal conditioning optics (20, 22). The resultant amplified signal is received by a quadrature detector (26, D1-D4) which obtains four detector signals which are subsequently combined to eliminate noise and dc offsets. The combination of narrow angle scatterer (16) and quadrature detector considerably increases resolution and accuracy.

Abstract translation: 干涉仪包括通过光学馈送耦合到探针部分中的He-Ne激光器，在目标和窄角度散射体（16）之间分割光束的分束器（14）。 分束器（14）还组合来自目标和散射体（16）的反射信号并将其馈送到信号调节光学器件（20,22）。 得到的放大信号由正交检测器（26，D1-D4）接收，该正交检测器获得四个检测器信号，随后将其组合以消除噪声和直流偏移。 窄角度散射体（16）和正交检测器的组合显着提高了分辨率和精度。

公开(公告)号：WO2010066751A3

公开(公告)日：2010-08-05

申请号：PCT/EP2009066654

申请日：2009-12-08

Applicant: TECH FACHHOCHSCHULE WILDAU ,  FOITZIK ANDREAS

Inventor： FOITZIK ANDREAS

IPC: G02B21/00 ,  G01B9/02 ,  G01B11/16

CPC classification number: G01B9/02095 ,  G01B9/02007 ,  G01B9/02096 ,  G02B21/0016

Abstract: The present invention relates to a device (4) comprising a speckle interferometer part and a microscope part, wherein the speckle interferometer part comprises one or more lasers (5), one or more beam splitters (3), and a piezo mirror (8), and the microscope part comprises at least one tube (2) and a lens (11) arranged at the lower end of the at least one tube (2), wherein at least one beam splitter (3) of the speckle interferometer part is partially or completely integrated in the at least one tube (2) of the microscope part in such a way that the reference beam (6-1) and the object beam (6-2) can be conducted through the lens (11) of the microscope part. The device according to the invention is substantially a microscope that comprises at least one optical component of a speckle interferometer in the tube of the microscope. A substantially more compact construction for speckle interferometer devices is thereby additionally effected, whereby said speckle interferometer devices can be operated even with diode lasers.

Abstract translation: 本发明描述一种设备（4）包括一个干涉仪散斑部分，并在显微镜部分，所述干涉仪散斑部分（一个或多个激光器（5），一个或多个分束器（3）和压电镜8 ），并且所述至少一个管的显微镜部分（2）和布置在所述至少一个Tubusses（2）的透镜（11所覆盖），至少一个分束器的下端（3）斑点干涉仪部的部分或完全以这样的方式 集成在显微镜部分的所述至少一个管（2），即通过显微镜部的透镜（11）所述参考光束（6-1）和所述物光束（6-2）中进行。 本发明的装置基本上是具有在显微镜的管的光斑干涉仪中的至少一个光学部件的显微镜。 这另外导致更紧凑的设计对于干涉仪散斑器件，由此他们甚至可以二极管激光器运行。

公开(公告)号：WO2002101327A1

公开(公告)日：2002-12-19

申请号：PCT/GB2002/002696

申请日：2002-06-07

Applicant: BOOTH, Anthony, G.

Inventor： BOOTH, Anthony, G.

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01B9/02095 ,  G01B9/02049

Abstract: A z-movement detector utilises an optical interferometer with a laser diode as a light source (301) and an optical interference detector (302) which detects changes in the speckle pattern of the light from the laser as a result of movements of a target (307) in the z-direction. Key element of the interferometer is the use of a single block of glass (318) which physically integrates the beam splitting functions and some of the reflection functions of the interferometer.

Abstract translation: z运动检测器利用具有激光二极管的光学干涉仪作为光源（301）和光学干涉检测器（302），其检测来自激光器的光的斑点图案的变化（由于目标的移动 307）在z方向。 干涉仪的关键要素是使用单个玻璃块（318），其将束分离功能和干涉仪的一些反射功能物理地整合。

公开(公告)号：WO2013185937A1

公开(公告)日：2013-12-19

申请号：PCT/EP2013/052680

申请日：2013-02-11

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

Inventor： MUIJS, Remco, Theodorus, Johannes ,  DAMKAT, Chris ,  DE BRUIJN, Frederik, Jan

IPC: G01B11/16

CPC classification number: G01B11/162 ,  A61B5/0059 ,  G01B9/02095

Abstract: An apparatus for determining a propagation velocity for a surface wave comprises a coherent light source (105) for generating at least a first and a second light spot on a surface (103). A camera (111) captures at least one out-of-focus image of at least a part of the surface (103) comprising the light spots. The out-of-focus image comprises light spot image objects for the light spots where the light spot image objects have speckle patterns. An analyzer (113) determines the propagation velocity in response to a time difference between speckle pattern changes in the two speckle patterns. The camera may specifically use a rolling shutter allowing the determination of the propagation velocity to be based on a spatial analysis of the speckle patterns. The approach may in particular allow an efficient remote measuring of pulse wave velocities e.g. in animal tissue and in particular, in human tissue.

Abstract translation: 用于确定表面波的传播速度的装置包括用于在表面（103）上产生至少第一和第二光点的相干光源（105）。 相机（111）捕获至少一个包含光斑的表面（103）的至少一部分的离焦图像。 离焦图像包括用于光点图像对象具有斑点图案的光点的光点图像对象。 分析器（113）响应于两个斑纹图案中的斑纹图案变化之间的时间差来确定传播速度。 相机可以具体地使用滚动快门，其允许基于散斑图案的空间分析来确定传播速度。 该方法可以特别地允许对脉搏波速度进行有效的远程测量。 在动物组织中，特别是在人体组织中。

公开(公告)号：WO2010066751A2

公开(公告)日：2010-06-17

申请号：PCT/EP2009/066654

申请日：2009-12-08

Applicant: TECHNISCHE FACHHOCHSCHULE WILDAU ,  FOITZIK, Andreas

Inventor： FOITZIK, Andreas

IPC: G02B21/00 ,  G01B9/02 ,  G01B11/16

CPC classification number: G01B9/02095 ,  G01B9/02007 ,  G01B9/02096 ,  G02B21/0016

Abstract: Die vorliegende Erfindung beschreibt eine Vorrichtung (4), umfassend einen Speckle-Interferometer-Teil und einen Mikroskop-Teil, wobei der Speckle-Interferometer-Teil einen oder mehrere Laser (5), einen oder mehreren Strahlenteiler (3) und einen Piezospiegel (8) umfasst, und der Mikroskop-Teil mindestens einen Tubus (2) und ein am unteren Ende des mindestens einen Tubusses (2) angeordnetes Objektiv (11) umfasst, wobei mindestens ein Strahlenteiler (3) des Speckle-Interferometer-Teils teilweise oder vollständig derart in dem mindestens einen Tubus (2) des Mikroskop-Teils integriert ist, dass der Referenzstrahl (6-1) und der Objektstrahl (6-2) durch das Objektiv (11) des Mikroskop-Teils leitbar sind. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist im Wesentlichen ein Mikroskop, welches wenigstens eine optische Komponente eines Speckle-Interferometers in dem Tubus des Mikroskops aufweist. Dadurch wird zusätzlich eine wesentlich kompaktere Bauweise für Speckle-Interferometer-Vorrichtungen bewirkt, wodurch diese selbst mit Diodenlasern betrieben werden können.

Abstract translation: 本发明描述一种设备（4）包括一个干涉仪散斑部分，并在显微镜部分，所述干涉仪散斑部分（一个或多个激光器（5），一个或多个分束器（3）和压电镜8 ），并且所述至少一个管的显微镜部分（2）和布置在所述至少一个Tubusses（2）的透镜（11所覆盖），至少一个分束器的下端（3）斑点干涉仪部的部分或完全以这样的方式 集成在显微镜部分的所述至少一个管（2），即通过显微镜部的透镜（11）所述参考光束（6-1）和所述物光束（6-2）中进行。 本发明的装置基本上是具有在显微镜的管的光斑干涉仪中的至少一个光学部件的显微镜。 这另外导致更紧凑的设计对于干涉仪散斑器件，由此他们甚至可以二极管激光器运行。

公开(公告)号：WO99023450A1

公开(公告)日：1999-05-14

申请号：PCT/US1998/022938

申请日：1998-10-29

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/16 ,  G01L5/00

CPC classification number: G01B11/162 ,  G01B9/02095 ,  G01L5/0047

Abstract: An improved method for measuring residual stress in a material comprising the steps of applying a spot of temperature indicating coating to the surface to be studied, establishing a speckle pattern surrounds the spot of coating with a first laser then heating the spot of coating with a far infrared laser until the surface plastically deforms. Comparing the speckle patterns before and after deformation by subtracting one pattern from the other will produce a fringe pattern that serves as a visual and quantitative indication of the degree to which the plasticized surface responded to the stress during heating and enables calculation of the stress.

Abstract translation: 一种用于测量材料中的残余应力的改进方法，包括以下步骤：将温度指示涂层点涂覆到待研究的表面上，建立斑点图案，用第一激光围绕涂层点，然后用远处加热涂层点 红外激光直到表面塑性变形。 通过从另一个方式减去一个图案来比较变形之前和之后的斑点图案将产生条纹图案，其作为塑化表面对加热期间的应力响应的程度的视觉和定量指示，并且能够计算应力。

公开(公告)号：WO99023446A1

公开(公告)日：1999-05-14

申请号：PCT/EP1998/006949

申请日：1998-11-03

IPC: G01B9/02 ,  G01B1/00

CPC classification number: G01B9/02022 ,  G01B9/02014 ,  G01B9/02069 ,  G01B9/02095

Abstract: To improve the contrast of images obtained using the pulsed image-addition ESPI technique and relative to a mechanically stressed object, a preliminary measuring cycle is performed, with the object in the unstressed condition, to obtain a predetermined number of interference images (110-160) differing from one another by a controlled phase shift of a fraction of the pulses traveling along one of the branches of the interferometer; a mean luminous intensity value is calculated (170) from the interference images, is memorized (180), and is subtracted (220) from each of the interference images obtained during the actual measuring cycle to improve the contrast of the images.

Abstract translation: 为了提高使用脉冲图像添加ESPI技术和相对于机械应力对象获得的图像的对比度，执行初步测量循环，其中物体处于不受应力状态，以获得预定数量的干涉图像（110-160 ）通过沿着干涉仪的一个分支行进的脉冲的一部分的受控相移而彼此不同; 从干涉图像计算平均发光强度值（170），存储（180），并从实际测量周期中获得的每个干涉图像中减去（220）以改善图像的对比度。