INFRARED CONTRASTING COLOR TEMPERATURE MEASUREMENT SYSTEM,
    1.
    发明申请
    INFRARED CONTRASTING COLOR TEMPERATURE MEASUREMENT SYSTEM, 审中-公开
    红外对比色温测量系统,

    公开(公告)号:WO2015002964A1

    公开(公告)日:2015-01-08

    申请号:PCT/US2014/045073

    申请日:2014-07-01

    Abstract: Devices and corresponding methods are provided to measure temperature and/or emissivity of a target. Emissivity of the target need not be known or assumed, and any temperature difference between a sensor and the target need not be zeroed or minimized. No particular bandpass filter is required. Devices can include one or two sensors viewing the same target as the target views different respective viewed temperatures. The respective viewed temperatures can be sensor temperatures, and a single sensor can be set to each of the respective viewed temperatures at different times. An analyzer determines the temperature and/or emissivity of the target based on the respective viewed temperatures and on plural net heat fluxes detected by the sensors and corresponding to the respective viewed temperatures.

    Abstract translation: 提供设备和相应的方法来测量目标的温度和/或发射率。 不需要知道或假设目标的发射率,传感器和目标之间的任何温度差不需要归零或最小化。 不需要特殊的带通滤波器。 设备可以包括观察与目标相同的目标的一个或两个传感器观看不同的相应观察温度。 相应的观察温度可以是传感器温度,并且可以在不同时间将单个传感器设置到各个相应的观察温度。 分析仪基于相应的观察温度和由传感器检测并对应于各个观察温度的多个净热通量来确定目标的温度和/或发射率。

    FIRE HAZARD PREVENTION SYSTEM
    4.
    发明申请
    FIRE HAZARD PREVENTION SYSTEM 审中-公开
    消防危害预防系统

    公开(公告)号:WO2003034011A2

    公开(公告)日:2003-04-24

    申请号:PCT/IL2002/000810

    申请日:2002-10-06

    IPC: G01K

    Abstract: This invention provides a new safety device for monitoring the cooking process of conventional range-top by adding a temperature measurement unit and algorithm to detect abnormal cooking scenarios. The safety device includes an active radiation signal generator, which emits radiation at a known frequency. The system differentiates between the passive signal and reflected signal of the total emitted radiation signal in order to calculate the accurate emissivity value of the target object. The safety device is programmed to identify different heating scenarios by comparing the actual temperature/time curve of target object to temperature/time curves of known cooking scenarios. When a hazardous situation is identified, actions are taken to prevent fire.

    Abstract translation: 本发明提供了一种新的安全装置,用于通过添加温度测量单元和算法来检测异常烹饪场景来监测传统范围顶部的烹饪过程。 安全装置包括以已知频率发射辐射的主动辐射信号发生器。 该系统对被发射的辐射信号的被动信号和反射信号进行区分,以计算目标物体的精确发射率值。 将安全装置编程为通过将目标物体的实际温度/时间曲线与已知烹饪场景的温度/时间曲线进行比较来识别不同的加热场景。 当发现危险情况时,采取行动防止火灾。

    METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TEMPERATURE
    7.
    发明申请
    METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TEMPERATURE 审中-公开
    测量温度的方法和装置

    公开(公告)号:WO2011045558A1

    公开(公告)日:2011-04-21

    申请号:PCT/GB2010/001865

    申请日:2010-10-06

    Abstract: A method for measuring the temperature of a first material (10) comprises measuring a temperature-related characteristic of a microparticle of a second material (12) in thermal contact with the first material (10) and calculating the temperature of the first material (10) using the measured temperature-related characteristic of the microparticle of the second material (12). The microparticle of the second material (12) can be located on a surface (10a) of the first material (10) in point thermal contact with the surface (10a), thus enabling the measurement of the surface temperature of the first material (10) at the point of contact. An apparatus (14) for measuring the surface temperature of the first material (10) is also described.

    Abstract translation: 用于测量第一材料(10)的温度的方法包括测量与第一材料(10)热接触的第二材料(12)的微粒的温度相关特性,并计算第一材料(10)的温度 )使用第二材料(12)的微粒的测量温度相关特性。 第二材料(12)的微粒可以位于与表面(10a)热接触的第一材料(10)的表面(10a)上,从而能够测量第一材料(10)的表面温度 )在接触点。 还描述了用于测量第一材料(10)的表面温度的装置(14)。

    成膜装置、温度算出方法及びプログラム
    9.
    发明申请
    成膜装置、温度算出方法及びプログラム 审中-公开
    成膜装置,温度计算方法和程序

    公开(公告)号:WO2015041273A1

    公开(公告)日:2015-03-26

    申请号:PCT/JP2014/074644

    申请日:2014-09-18

    Abstract:  被加工材料の放射率と異なる放射率を有する膜の成膜中における被加工材料の表面温度を、放射温度計を用いて低誤差で測定することが可能となる成膜装置を提供する。処理容器内に配置された被加工材料の処理表面に沿ってプラズマを生成させるためのマイクロ波をマイクロ波供給口を介して供給するマイクロ波供給部と、被加工材料の処理表面に沿うシース層を拡大させる負のバイアス電圧を負電圧電極を介して被加工材料に印加する負電圧印加部と、処理容器に設けられた窓部の外側に配置されて被加工材料の処理表面の温度を測定する放射温度計と、成膜処理経過に応じて被加工材料の第1放射率と被加工材料の処理表面に成膜される皮膜の第2放射率とに基づいて設定された補正放射率と放射温度計の出力温度と放射温度計に設定された温度計設定放射率とを基に、成膜処理中における被加工材料の処理表面の表面温度を算出する温度算出部と、を備える。

    Abstract translation: 提供一种成膜装置,其能够使用辐射温度计以低误差率测量当形成具有不同于待加工材料的发射率的发射率的膜时待加工材料的表面温度 。 本发明包括:微波供应单元,其经由微波供应端口沿着待处理材料的处理表面提供用于产生等离子体的微波,所述处理表面设置在处理容器内; 负电压施加单元,其通过负电压电极施加负极化电压,所述负偏压使得护套层沿着待加工材料的加工表面扩展到待加工材料; 辐射温度计,设置在设置于处理容器的窗单元的外侧,并测量待加工材料的加工面的温度; 以及温度计算单元,其计算在成膜处理期间待加工材料的处理表面的表面温度。 基于辐射温度计设定的校正发射率,辐射温度计的输出温度和温度计组发射率来计算表面温度。 校正发射率是根据成膜处理的进行情况设定的,其基于待加工材料的第一发射率和形成在待加工材料的加工表面上的涂膜的第二发射率。

    A METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE
    10.
    发明申请
    A METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE 审中-公开
    一种测量温度的方法

    公开(公告)号:WO2014067549A1

    公开(公告)日:2014-05-08

    申请号:PCT/EP2012/071393

    申请日:2012-10-29

    Inventor: HAGQVIST, Petter

    CPC classification number: G01J5/004 G01J2005/0051 G01J2005/0074

    Abstract: A method for measuring temperature of a sample based on the sample'sthermally emitted radiation is provided. The method is based on the assumption that the temperature of the sample at a specific point in time may be determined by using an emissivity of the sample at a preceding point in time, provided that the frequency at which the thermally emitted radiation is measured is sufficiently high. That is, by measuring the radiance from the sample at a high frequency, the change in emissivity and temperature over a short time interval are small enough for the emissivity at one point in time to be used for determining the temperature in a subsequent point in time. Thus, the invention provides for a method for real-time temperature measurements, while allowing for a time-varying emissivity.

    Abstract translation: 提供了一种基于样品的发射辐射来测量样品的温度的方法。 该方法基于以下假设:可以通过使用先前时间点的样品的发射率来确定特定时间点处的样品的温度,条件是测量热发射辐射的频率足够 高。 也就是说,通过在高频下测量样品的辐射度,短时间间隔内的发射率和温度的变化足够小,以便在一个时间点的发射率用于确定随后的时间点中的温度 。 因此,本发明提供了用于实时温度测量的方法,同时允许时变发射率。

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