公开(公告)号：WO2015100777A1

公开(公告)日：2015-07-09

申请号：PCT/CN2014/070386

申请日：2014-01-09

Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司

Inventor： 黄海波

IPC: G02F1/13 ,  G01N21/88 ,  G06T7/00

CPC classification number: G06T7/0006 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2021/9513 ,  G06T2207/30121

Abstract: 一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置。该缺陷检测方法包括步骤：A）获取显示面板的边缘图像及该边缘图像中每个像素的灰阶值；B）在该边缘图像中选择一特定区域，并获得该特定区域中的每个像素的灰阶值；C）获得该特定区域中的所有像素的平均灰阶值；D）基于该平均灰阶值对该特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，分界线上的像素的灰阶值与除分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；E）过滤若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；F）对若干剩余的分界线压缺陷规格线，当所述剩余的分界线的宽度不小于与缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。

公开(公告)号：WO2015030158A1

公开(公告)日：2015-03-05

申请号：PCT/JP2014/072687

申请日：2014-08-29

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 松本　力也

IPC: G09F9/00 ,  G01M11/00 ,  G01N21/84 ,  G01N21/88 ,  G02B5/30 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1335

CPC classification number: G01N21/84 ,  B29D11/0073 ,  G01N2021/8477 ,  G01N2021/9513 ,  G02F1/1303 ,  G02F1/1309

Abstract: 　光学部材貼合体の製造方法は、帯状の光学部材シートを原反ロールから巻き出し、光学部材シートを切断して得られる複数の光学部材を、複数の光学表示部品に貼合して、複数の光学部材貼合体を形成する光学部材貼合体形成工程（Ｓ１３）と、複数の光学部材貼合体を加熱加圧処理する第１オートクレーブ処理工程（Ｓ１４）と、第１オートクレーブ処理工程の後に、加熱加圧処理された複数の光学部材貼合体のそれぞれについて欠陥を光学的に検査する検査工程（Ｓ１５）と、を有し、光学部材貼合体形成工程と第１オートクレーブ処理工程と検査工程とを、連続した製造ラインにおいて行う。

Abstract translation: 一种叠层光学元件的制造方法，其特征在于，具有：层叠光学部件形成工序（S13），其中带状光学部件片材从原料辊卷绕，通过切割所述光学部件片而获得的多个光学部件被层叠 在多个光学显示部件上形成多个层叠光学部件; 第一高压釜处理步骤（S14），其中所述多个层叠光学构件被加热和加压; 以及检查步骤（S15），其中在第一高压釜加工步骤之后，对所述多个加热和加压的层压光学部件进行光学检查。 在连续生产线中进行层压光学部件形成步骤，第一高压釜加工步骤和检查步骤。

公开(公告)号：WO2014121555A1

公开(公告)日：2014-08-14

申请号：PCT/CN2013/074033

申请日：2013-04-10

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 ,  北京京东方光电科技有限公司

Inventor： 冀新友 ,  郭建

IPC: G01R31/02 ,  H01L21/66

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01N21/958 ,  G01N2021/9513 ,  G01N2201/062 ,  G01R31/02 ,  G02F1/136259 ,  G02F2001/136254 ,  G02F2001/136268 ,  G09G3/006 ,  H01L2225/06596

Abstract: 提供一种阵列基板，包括设置在基板（8）上的待检测结构，待检测结构的下方设置有用于检测待检测结构是否断开的附加层（11），该附加层（11）的颜色与待检测结构的颜色不同并且图案形状一致。还提供一种用于阵列基板的检测方法和检测装置。通过阵列基板及其检测方法和检测装置，可以实现对阵列基板生产过程中出现的断开型不良的早期检测，从而可以尽早实现不良原因的发现和消除，提高生产效率和产品量率。

公开(公告)号：WO2014101304A1

公开(公告)日：2014-07-03

申请号：PCT/CN2013/070005

申请日：2013-01-04

Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司

Inventor： 林勇佑

IPC: G01N21/958 ,  G01N21/896 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/9513

Abstract: 一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置，该检测方法包括：使用多种不同颜色的光，优选是红光、绿光和蓝光，依次照射显示面板（S101）；获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图（S102）；判断显示面板是否具有缺陷，若多个灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷（S103）。上述方式优选是针对显示面板的像素电极进行成像。通过上述方式能够提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。

公开(公告)号：WO2014015559A1

公开(公告)日：2014-01-30

申请号：PCT/CN2012/081734

申请日：2012-09-21

Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司 ,  林勇佑

Inventor： 林勇佑

IPC: G01N21/958

CPC classification number: G01N21/95 ,  G01N21/958 ,  G01N2021/9513

Abstract: 一种自动光学检测装置，该自动光学检测装置包括基板承载平台（23）、传感器固定平台（22）、图像传感器（21）以及背光源（25）。该自动光学检测装置可检测到基板的内部缺陷，解决了现有的自动光学检测装置无法检测到基板内部缺陷的技术问题。

公开(公告)号：WO2013077282A1

公开(公告)日：2013-05-30

申请号：PCT/JP2012/079914

申请日：2012-11-19

Applicant: シャープ株式会社 ,  西村 吉弘

Inventor： 西村　吉弘

IPC: G01M11/00 ,  G01N21/95 ,  G01B11/00 ,  G01B11/30 ,  G02F1/13 ,  G09F9/00

CPC classification number: G01B11/00 ,  G01B11/30 ,  G01N21/94 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/9513

Abstract: 　液晶表示パネルの検査を行う際の工程を簡素化すると共に、液晶表示パネルの検査に要する時間を短縮化する。以下の工程を実行する液晶表示パネル１０の検査方法である。カメラ３０のレンズ３０ａの繰り出し量を調節して、液晶表示パネル１０およびパネル１０の表裏面の異物２１、２２にフォーカスを合わせて液晶表示パネル１０の表面を撮像する。撮像されたそれぞれの画像データ４０、４０ａ、４０ｂに基づいて、液晶表示パネル１０の表裏面の異物２１、２２及び液晶表示パネル１０の内部の欠陥２０のいずれかに対応する位置２１Ｐ、２２Ｐ又は２０Ｐにおけるコントラスト強度指標値ｔ１、ｔ２、ｔ３を得る。コントラスト強度指標値ｔ１、ｔ２、ｔ３を対比することにより、液晶表示パネル１０の表裏面の異物２１、２２と液晶表示パネル１０の内部の欠陥２０とを区別する。

Abstract translation: 该检查方法简化了液晶显示面板的检查处理，缩短了对液晶显示面板进行检查所需的时间。 用于检查液晶显示面板（10）的方法包括执行以下步骤：调整照相机（30）的透镜（30a）的延伸量，将焦点调节为异物（21,22） 在液晶显示面板（10）的表面和表面上，对液晶显示面板（10）的表面进行成像; 与液晶显示面板的正面和背面上的异物（21,22）相对应的位置（21P），（22P）或（20P）的对比度强度指标值（t1，t2，t3） 根据每个拍摄图像数据（40,40a，40b）获得液晶显示面板（10）中的内部缺陷（20）或内部缺陷（20）。 通过比较液晶显示面板（10）的前后表面和液晶显示面板（10）中的内部缺陷（20）的异物（21,22），通过比较对比度强度指数 值（t1，t2，t3）。

公开(公告)号：WO2013058360A1

公开(公告)日：2013-04-25

申请号：PCT/JP2012/077090

申请日：2012-10-19

Applicant: 株式会社目白ゲノッセン

Inventor： 上原　誠

IPC: G01N21/84

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/956 ,  G01N2021/9513

Abstract: 　ケーラー照明系を用いたより安価な検査用照明装置を提供する。　検査用照明装置１０は、光源部２０と、光源部２０から発せられた光を平行光に変換するコリメータレンズ３０と、コリメータレンズ３０を通過した光を被検物体Ｗに向けて集光するためのフレネルコンデンサレンズ４０と、コリメータレンズ３０とフレネルコンデンサレンズ４０の間に配置されたシグマ絞り５０と、を備える。シグマ絞り５０とフレネルコンデンサレンズ４０の間には、アポダイジングフィルタ７０が設置されている。

Abstract translation: 提供了一种更便宜的照明设备，用于检查，其使用Koehler照明系统。 用于检查的照明装置（10）设置有：光源部（20）; 将由所述光源（20）发射的光转换为平行光的准直透镜（30） 用于将已经通过准直透镜（30）的光朝向测试对象（W）聚焦的菲涅尔聚光透镜（40）; 以及位于准直透镜（30）和菲涅尔聚光透镜（40）之间的西格玛光圈（50）。 一个变迹过滤器（70）安装在西格玛膜片（50）和菲涅耳聚光透镜（40）之间。

公开(公告)号：WO2013039340A2

公开(公告)日：2013-03-21

申请号：PCT/KR2012/007352

申请日：2012-09-13

Applicant: (주)인텍플러스 ,  손재호 ,  이현민 ,  강민구 ,  이상윤 ,  임쌍근

Inventor： 손재호 ,  이현민 ,  강민구 ,  이상윤 ,  임쌍근

IPC: G01N21/956 ,  G01B11/30 ,  G02F1/13

CPC classification number: G06T7/0004 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/9513 ,  G02F1/1309 ,  G06T2207/30121 ,  H04N7/18

Abstract: 평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다. 평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계를 포함한다.

Abstract translation: 公开了一种用于检查平板的方法。 用于检查平板的方法包括以下步骤：通过水平移动平板和相机中的至少一个来将相机布置在平板的测量位置; 在测量位置相对于平板测量对象自动聚焦相机; 在对照相机进行聚焦时，基于相机的当前位置垂直移动设定区域内的相机，来获取测量对象的多个图像; 在所获取的图像中选择具有用于测量目标的最高定义的图像; 处理所选图像; 并且确定测量目标是否有缺陷。

公开(公告)号：WO2012141061A2

公开(公告)日：2012-10-18

申请号：PCT/JP2012/059314

申请日：2012-04-05

Applicant: 株式会社モリテックス ,  田ノ岡 大輔

Inventor： 田ノ岡　大輔

IPC: G01N21/21

CPC classification number: G01N21/21 ,  G01N2021/9513

Abstract: 　入射光を試料に対して垂直に照射させることにより装置全体の小型化を図ると同時に、光学軸の向き及び異方性の大きさをきわめて短時間で測定可能とする。　レーザ（６）から試料（３）に対し垂直方向に入射光を照射し、垂直方向に反射された反射光をハーフミラー（７）を介して受光素子（９）に導く測定光学系（４）が形成され、レーザ（６）とハーフミラー（７）の間に偏光子（Ｐ）が配されると共に、ハーフミラー（７）と受光素子（９）との間に検光子（Ａ）が配され、ハーフミラー（７）と試料（３）との間には、偏光子（Ｐ）により生成される直線偏光を回転させる１／２波長板（１２）と、遅相軸の向きを１／２波長板（１２）の遅相軸に対して±δ（δ≠ｎπ／４，ｎは整数）ずらした初期位置から１／２波長板（１２）に対して回転角度が２倍となるように同期的に回転駆動される１／４波長板（１３）を配した。

Abstract translation: 通过垂直照射入射光的样品，可以使整个器件更紧凑，同时可以在非常短的时间内测量光轴的程度和光轴的方向。 形成光学系统（4），其中来自激光器（6）的入射光沿垂直方向入射到样品（3）上，并且沿垂直方向反射的反射光通过 半反射镜（7），偏振器（P）位于激光器（6）和半反射镜（7）之间，分析器（A）位于半反射镜（7）和感光体元件 9）和旋转由偏振器（P）产生的线偏振光的1/2波长板（12），以及1/4波长板（13），其使延迟相位轴的方向循环旋转 相对于1/2波长板（12）的延迟相位轴的相对于1/2波长板（12）的旋转角度与从初始位置相交的±d（d≤np/ 4，其中n是整数） 2波片被加倍，位于半反射镜（7）和样品（3）之间。

公开(公告)号：WO2011158901A1

公开(公告)日：2011-12-22

申请号：PCT/JP2011/063800

申请日：2011-06-16

Applicant: シャープ株式会社 ,  松本 直基

Inventor： 松本　直基

IPC: G02F1/13 ,  G01M11/00 ,  G09F9/00

CPC classification number: G01M99/008 ,  G01N21/8803 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/9513

Abstract: 　点灯検査における検査結果の入力を容易にする点灯検査装置を提供する。表示パネル１０の点灯を検査する点灯検査装置１００であって、表示パネル１０がセットされる検査ステージ３０と、表示パネル１０の検査結果としての表示欠陥を入力する入力装置４０とを備え、入力装置４０は、それぞれ異なる音を発する７個以下の入力ボタン４２を有している、点灯検査装置１００である。

Abstract translation: 提供了一种便于在检查期间输入照明检查结果的照明检查装置。 用于检查显示面板（10）的照明的照明检查装置（100）设置有设置显示面板（10）的检查台（30）和用于输入显示缺陷作为检查的输入装置（40） 显示面板（10）的结果，并且输入装置（40）具有七个或更少的用于产生不同声音的输入按钮（42）。