Abstract:
A system and method are provided for measuring a rotational position of a lenticular lens sheet (020), which involves a light source (120) emitting light onto at least part of a surface of the lenticular lens sheet, a camera (140) capturing an image of the light reflected (040) by, or transmitted (042) through, the surface, thereby obtaining an image showing a light pattern (060), and a processor (160) determining the rotational position of the lenticular lens sheet relative to a coordinate system associated with the image based on an analysis of the light pattern in the image. Accordingly, the rotational position of the lenticular lens sheet may be determined from an analysis of the captured image of the light emitted from the light source that is reflected or transmitted by the lenticular lens sheet. It is therefore not needed to use specially prepared images nor markers.
Abstract:
Es werden ein Verfahren und ein System zur Inspektion einer periodischen Struktur (1) durch einen optischen Bildaufnehmer mit einer Pixelstruktur (2) beschrieben, dessen aufgenommenes Bild (6) mit einem fehlerfreien Referenzbild (4) der periodischen Struktur (1) verglichen wird. Um die Fehler mit einfachen Mitteln zuverlässig erkennen zu können, wird in dem Referenzbild (4) an mindestens einer Position (X, Y) die Phasenlage (Phase X, Phase Y) der periodischen Struktur (1) zu der Pixelstruktur (2) des optischen Bildaufnehmers ermittelt. Das aufgenommene Bild (6) wird in Inspektionsbereiche (7) eingeteilt und für jeden Inspektionsbereich (7) wird die Phasenlage (Phase X, Phase Y) der periodischen Struktur (1) zu der Pixelstruktur (2) des optischen Bildaufnehmers ermittelt. Für den Vergleich eines Inspektionsbereichs (7) mit dem Referenzbild (4) wird dann ein Referenzbildbereich (8) ausgewählt, dessen Phasenlage (Phase X, Phase Y) mit dem Inspektionsbereich (7) korrespondiert.
Abstract:
The present invention relates to a system and method for scanning electronically acquired periodic images from an object and thereafter, inspecting the periodic images by using predetermined rules. The method to inspect the image includes an algorithm for analyzing the periodic patterns of the image and detecting deviations from numerical acceptance norms. In the system, the field of view of a camera, such as a video camera, viewing the object includes a two-dimensional image of the object. The camera captures the two-dimensional image of the object and converts the image into an array of scan lines, whereby each scan line represents a one-dimensional "slice" of target shape of the object. Hence, while all two dimensional images do not have periodic pattern, the array of scan lines represents a periodic pattern that is used by the algorithm in the inventive system.