MEASURING ROTATIONAL POSITION OF LENTICULAR LENS SHEET
    1.
    发明申请
    MEASURING ROTATIONAL POSITION OF LENTICULAR LENS SHEET 审中-公开
    测量透镜片的旋转位置

    公开(公告)号:WO2017036531A1

    公开(公告)日:2017-03-09

    申请号:PCT/EP2015/070138

    申请日:2015-09-03

    CPC classification number: G06T7/73 G06T2207/30121 H04N13/305 H04N13/327

    Abstract: A system and method are provided for measuring a rotational position of a lenticular lens sheet (020), which involves a light source (120) emitting light onto at least part of a surface of the lenticular lens sheet, a camera (140) capturing an image of the light reflected (040) by, or transmitted (042) through, the surface, thereby obtaining an image showing a light pattern (060), and a processor (160) determining the rotational position of the lenticular lens sheet relative to a coordinate system associated with the image based on an analysis of the light pattern in the image. Accordingly, the rotational position of the lenticular lens sheet may be determined from an analysis of the captured image of the light emitted from the light source that is reflected or transmitted by the lenticular lens sheet. It is therefore not needed to use specially prepared images nor markers.

    Abstract translation: 提供了一种用于测量双凸透镜片(020)的旋转位置的系统和方法,该双凸透镜片(020)包括将光发射到双凸透镜片的表面的至少一部分上的光源(120),相机(140) 通过表面反射(040)或透射(042)的光的图像,从而获得示出光图案(060)的图像,以及确定双凸透镜片相对于该图案的旋转位置的处理器(160) 基于对图像中的光图案的分析,与图像相关联的坐标系统。 因此,双凸透镜片的旋转位置可以根据由双凸透镜片反射或透射的从光源发出的光的拍摄图像的分析来确定。 因此不需要使用特别准备的图像或标记。

    亮度函数获取方法以及相关装置
    4.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2013044642A1

    公开(公告)日:2013-04-04

    申请号:PCT/CN2012/076157

    申请日:2012-05-28

    CPC classification number: G06T7/0004 G06T2207/10012 G06T2207/30121

    Abstract: 本发明实施例公开了一种亮度函数获取方法以及相关装置,用于在任意角度下获取显示屏幕的亮度函数。本发明实施例方法包括:获取从第一角度拍摄的显示屏幕的第一图像获取从第二角度拍摄的显示屏幕的第二图像以及亮度图像根据所述第一图像计算摄像机参数;根据所述摄像机参数和所述显示屏幕的位置参数建立第一坐标映射关系;根据所述第一图像和所述第二图像建立第二坐标映射关系;根据所述第一坐标映射关系和第二坐标映射关系计算得到第三坐标映射关系;根据所述第三坐标映射关系和所述亮度图像计算得到所述显示屏幕的线性化亮度函数。

    欠陥検査装置および欠陥検査方法
    5.
    发明申请
    欠陥検査装置および欠陥検査方法 审中-公开
    缺陷检查装置和缺陷检查方法

    公开(公告)号:WO2011036846A1

    公开(公告)日:2011-03-31

    申请号:PCT/JP2010/005312

    申请日:2010-08-30

    Abstract:  照明光学系と、検出光学系と、前記検出光学系により検出された散乱光に基づき抽出された欠陥候補の各々について特徴量を算出する欠陥特徴量算出部と、前記欠陥特徴量算出部により算出された特徴量に基づき前記欠陥候補をグルーピングする欠陥候補グルーピング部と、前記欠陥特徴量算出部により算出された特徴量に基づき、前記欠陥候補の欠陥分類評価値を算出する欠陥分類評価値算出部と、前記欠陥分類評価値算出部により算出された評価値を、教示に基づいて更新する欠陥分類評価値更新部と、前記欠陥分類評価値更新部により更新された評価値に基づいて、前記欠陥候補の欠陥種を分類するためのしきい値である分類境界を決定する欠陥分類しきい値決定部と、前記欠陥分類しきい値決定部により決定されたしきい値を用いて欠陥を検出する欠陥検出部と、を有する欠陥検査装置である。

    Abstract translation: 公开了一种具有照明光学系统的缺陷检查装置, 检测光学系统; 缺陷特征量计算单元,其基于由所述检测光学系统检测到的散射光计算提取的每个缺陷候选的特征量; 缺陷候选分组单元,其基于由所述缺陷特征量计算单元计算出的特征量对上述缺陷候选进行分组; 缺陷分类评估值计算单元,其基于由所述缺陷特征量计算单元计算的特征量来计算上述缺陷候选的缺陷分类评估值; 缺陷分类评估值更新单元,其基于指令更新由所述缺陷分类评估值计算单元计算出的评估值; 缺陷分类阈值确定单元,其基于由所述缺陷分类评估值更新单元更新的评估值,确定作为用于分类上述缺陷候选的缺陷类型的阈值的分类边界; 以及缺陷检测单元,其使用由所述缺陷分类阈值确定单元确定的阈值来检测缺陷。

    画像処理方法、画像処理装置及び該画像処理装置を用いた表面検査装置
    6.
    发明申请
    画像処理方法、画像処理装置及び該画像処理装置を用いた表面検査装置 审中-公开
    图像处理方法,图像处理装置和使用图像处理装置的表面检查装置

    公开(公告)号:WO2010044433A1

    公开(公告)日:2010-04-22

    申请号:PCT/JP2009/067808

    申请日:2009-10-14

    Abstract: 【課題】物体表面画像の縁部分の領域において適正な画像処理済の施された画像を得ることのできる画像処理方法を提供するものである。 【解決手段】画素単位の濃淡値により構成され、物体表面画像を含む被処理画像を取得する画像取得ステップ(S11)と、前記被処理画像において設定された前記物体表面画像の縁線を含み、該縁線に直交する方向に所定幅となる領域の画像を縁部画像として特定する縁部画像特定ステップ(S13)と、前記縁部画像を前記所定幅に相当する幅の矩形画像に変換する変換ステップ(S14)と、前記矩形画像に対して、その幅方向に直交する方向に並ぶ複数画素の濃淡値を順次処理する1次元画像処理を施す画像処理ステップ(S15)と、前記1次元画像処理の施された前記矩形画像を元の領域の画像に逆変換して処理済縁部画像を生成する逆変換ステップ(S16)とを有する構成となる。

    Abstract translation: 提供了一种用于获得物体表面的边缘部分的适当处理的图像的图像处理方法。 图像处理方法包括图像获取步骤(S11),其获得包括对象的表面图像并由每个像素的灰度值表示的待处理图像,边缘部分图像确定步骤(S13),用于 将作为边缘部分图像的图像指定为包含要处理的图像中的物体表面图像的边缘线的区域的图像,并且在与边缘线垂直的方向上具有预定宽度;转换步骤(S14), 将所述边缘部分图像转换成具有对应于所述预定宽度的宽度的矩形图像;图像处理步骤(S15),执行矩形图像的一维图像处理,其中布置在所述预定宽度中的像素的灰度值 顺序处理垂直于宽度方向的方向,以及逆变换步骤(S16),通过对经受t的矩形图像进行逆变换来生成经处理的边缘部分图像 他将一维图像处理成原始区域的图像。

    VERFAHREN UND SYSTEM ZUR OPTISCHEN INSPEKTION EINER PERIODISCHEN STRUKTUR
    7.
    发明申请
    VERFAHREN UND SYSTEM ZUR OPTISCHEN INSPEKTION EINER PERIODISCHEN STRUKTUR 审中-公开
    方法和系统的周期结构光学检测

    公开(公告)号:WO2007079934A2

    公开(公告)日:2007-07-19

    申请号:PCT/EP2006/012233

    申请日:2006-12-19

    Abstract: Es werden ein Verfahren und ein System zur Inspektion einer periodischen Struktur (1) durch einen optischen Bildaufnehmer mit einer Pixelstruktur (2) beschrieben, dessen aufgenommenes Bild (6) mit einem fehlerfreien Referenzbild (4) der periodischen Struktur (1) verglichen wird. Um die Fehler mit einfachen Mitteln zuverlässig erkennen zu können, wird in dem Referenzbild (4) an mindestens einer Position (X, Y) die Phasenlage (Phase X, Phase Y) der periodischen Struktur (1) zu der Pixelstruktur (2) des optischen Bildaufnehmers ermittelt. Das aufgenommene Bild (6) wird in Inspektionsbereiche (7) eingeteilt und für jeden Inspektionsbereich (7) wird die Phasenlage (Phase X, Phase Y) der periodischen Struktur (1) zu der Pixelstruktur (2) des optischen Bildaufnehmers ermittelt. Für den Vergleich eines Inspektionsbereichs (7) mit dem Referenzbild (4) wird dann ein Referenzbildbereich (8) ausgewählt, dessen Phasenlage (Phase X, Phase Y) mit dem Inspektionsbereich (7) korrespondiert.

    Abstract translation: 将描述一种方法和用于进行比较用的像素结构(2),所拍摄的图像(6)与所述周期性结构(1)的无故障的参考图像(4)通过的光学图像传感器检测的周期性结构(1)的系统。 为了检测错误用简单的装置可靠,是参考图像(4)中的至少一个位置的周期性结构(1)的相位位置(X,Y)(相X,Y相)的像素结构(2)的光的 成像器来确定。 所捕获的图像(6)被分成服务区(7)和用于每个检查区域(7),所述周期性结构(1)的相位角(相X,Y相),以确定所述光学图像接收器的像素结构(2)。 对于一个检查区域(7)的与所述参考图像的比较(4)被选中,那么参考图像区域(8),其相位角(相X,Y相)对应于所述检查区域(7)。

    A SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATICALLY INSPECTING AN ARRAY OF PERIODIC ELEMENTS
    8.
    发明申请
    A SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATICALLY INSPECTING AN ARRAY OF PERIODIC ELEMENTS 审中-公开
    自动检查周期性元素阵列的系统和方法

    公开(公告)号:WO0246726A9

    公开(公告)日:2002-08-15

    申请号:PCT/US0145666

    申请日:2001-12-05

    Abstract: The present invention relates to a system and method for scanning electronically acquired periodic images from an object and thereafter, inspecting the periodic images by using predetermined rules. The method to inspect the image includes an algorithm for analyzing the periodic patterns of the image and detecting deviations from numerical acceptance norms. In the system, the field of view of a camera, such as a video camera, viewing the object includes a two-dimensional image of the object. The camera captures the two-dimensional image of the object and converts the image into an array of scan lines, whereby each scan line represents a one-dimensional "slice" of target shape of the object. Hence, while all two dimensional images do not have periodic pattern, the array of scan lines represents a periodic pattern that is used by the algorithm in the inventive system.

    Abstract translation: 本发明涉及用于从对象扫描电子获取的周期性图像并随后通过使用预定规则检查周期性图像的系统和方法。 检查图像的方法包括一种算法,用于分析图像的周期性图案并检测数值接受准则的偏差。 在该系统中,观看对象的相机(例如摄像机)的视野包括对象的二维图像。 相机捕捉物体的二维图像并将图像转换为扫描线阵列,由此每条扫描线表示物体的目标形状的一维“切片”。 因此,尽管所有二维图像都不具有周期性图案,但扫描线阵列表示由本发明系统中的算法使用的周期性图案。

    基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统

    公开(公告)号:WO2019127708A1

    公开(公告)日:2019-07-04

    申请号:PCT/CN2018/073057

    申请日:2018-01-17

    Inventor: 王艳雪

    Abstract: 本发明公开了一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统,检测方法包括:S1、获取原始灰阶图像;S2、根据灰阶图像获取二值化图像;S3、通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。本发明通过霍夫变换确定显示区图像,从而获得面内mura检测区域,使用高斯函数拟合,通过拟合而来的参数,评价面内mura的严重程度,实现了面内mura的快速检测。

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