Abstract:
A measurement circuit is arranged to make several measurements, either at different times or in respect of different frequency components of currents measured by current sensors in respective phases of a multiphase supply system. The measurments are then used to correct for discrepencies in the transfer function of the sensors.
Abstract:
Procedimiento para calibrar un error de medida ε ref de un primer transformador de medida (10) conectado a una fase (30) de una línea de alta tensión, que comprende los siguientes pasos: a) establecer dicho primer transformador como transformador de referencia (20) e inicialmente establecer que dicho error de medida ε ref es cero; b) medir en un instante de tiempo un primer valor de tensión V ref de dicho transformador de referencia (20) para unas condiciones de carga; c) medir en dicho mismo instante de tiempo un segundo valor de tensión V med de un segundo transformador (10) conectado a esa fase (30), estando trabajando este segundo transformador (10) según unas determinadas condiciones de carga; d) calcular un error de medida ε relativo del segundo transformador (10) según: ε med = (V med - V ref )/ V ref ; [1 ] e) calcular el error de medida ε absoluto del segundo transformador (10) según: ε = εmed + ε ref [2] f) reiterar los pasos b)-e) para una pluralidad i de segundos transformadores (10); g) dar valores al error de medida ε ref del transformador de referencia (20) para minimizar la diferencia entre dicho error de medida ε absoluto de cada segundo transformador (10) y un error esperado para cada segundo transformador en sus condiciones de carga.
Abstract:
A current transformer system with characterization is disclosed. The current transformer system (100) comprises at least one current transformer unit (102) generating a secondary current output (112) relative to a primary current input (110), and a characterizing circuit (104) storing a set of characteristics measured under test conditions in a memory of the characterizing circuit which characteristics represent the relation between the primary current input (110) and the secondary current output (112) of the current transformer unit (102) under various operating conditions, the characterizing circuit (104) further communicating at least one of the characteristics via the communication interface (106) to an onward device to allow dynamic compensation for any errors in the characteristics of the at least one current transformer unit (102) at the device.
Abstract:
Es wird ein Wandlertester (400) zum Testen eines induktiven Durchsteckstromwandlers (101) geschaffen. Der Wandlertester (400) weist eine steuerbare Spannungsquelle (401) zum Ausgeben einer Prüfspannung (Up) auf die Sekundärspule (404) des zu testenden Wandlers (101) auf. Ferner hat der Wandlertester (400) einen mit der steuerbaren Spannungsquelle (401) gekoppelten Regler (407) zum Regeln der elektrischen Spannung einer an Eingänge (411) des Wandlertesters (400) anzuschließenden Leiterschleife (408), wobei der Regler (407) dazu eingerichtet ist, in einem durch den Wandler durchgesteckten Zustand der Leiterschleife (408) die in der Leiterschleife (408) induzierte Spannung (Ui) auf einen vorbestimmten Sollwert unter Verwendung der Prüfspannung (Up) als Stellgröße zu regeln. Ferner wird ein entsprechendes Verfahren zum Testen des Durchsteckstromwandlers (101) geschaffen.
Abstract:
Um die Funktionsfähigkeit eines herkömmlichen Stromwandlers kostengünstig überwachen zu können, wird eine Vorrichtung zum Prüfen eines Stromwandlers mit einem Teststromleiter (1) und einer Testimpulsschaltung (5), die einen Energiespeicher (6), Auflademittel (13) zum Aufladen des Energiespeichers (6) und ein Schaltelement (7) zum Entladen des Energiespeichers über den Teststromleiter (1) aufweist, bereitgestellt, so dass ein Entladungsstrom in dem Teststromleiter erzeugbar ist, wobei eine Auswerteeinheit zum Erfassen eines durch den Entladungsstrom hervorgerufenen Stromwandlersignals vorgesehen ist.
Abstract:
An IC testing device by which the timings for sending out test signals and the timings for taking in IC response output signals can be corrected according to delay times (T1 - Tn) of transmission lines (L1 - Ln) of an IC connection board (81) to which terminals (P1 - Pn) of an IC (1) to be tested are connected. A nonvolatile storage (83) is provided on the IC connection board (81) and the data on the delay times (T1 - Tn) are stored in it beforehand. Even if the IC connection board (81) is replaced by another one, a main body (10) of the testing device reads out the data from the storage (83) when starting the test and corrects the timings using the data. Thus, the testing time can be shortened. Also, there is no necessity to identify the individual IC connection boards (81).