PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN DEL ERROR DE MEDIDA EN TRANSFORMADORES DE MEDIDA
    2.
    发明申请
    PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN DEL ERROR DE MEDIDA EN TRANSFORMADORES DE MEDIDA 审中-公开
    校准仪器变压器测量误差的方法

    公开(公告)号:WO2014162021A1

    公开(公告)日:2014-10-09

    申请号:PCT/ES2013/070216

    申请日:2013-04-02

    CPC classification number: G01R35/02 H01F38/24

    Abstract: Procedimiento para calibrar un error de medida ε ref de un primer transformador de medida (10) conectado a una fase (30) de una línea de alta tensión, que comprende los siguientes pasos: a) establecer dicho primer transformador como transformador de referencia (20) e inicialmente establecer que dicho error de medida ε ref es cero; b) medir en un instante de tiempo un primer valor de tensión V ref de dicho transformador de referencia (20) para unas condiciones de carga; c) medir en dicho mismo instante de tiempo un segundo valor de tensión V med de un segundo transformador (10) conectado a esa fase (30), estando trabajando este segundo transformador (10) según unas determinadas condiciones de carga; d) calcular un error de medida ε relativo del segundo transformador (10) según: ε med = (V med - V ref )/ V ref ; [1 ] e) calcular el error de medida ε absoluto del segundo transformador (10) según: ε = εmed + ε ref [2] f) reiterar los pasos b)-e) para una pluralidad i de segundos transformadores (10); g) dar valores al error de medida ε ref del transformador de referencia (20) para minimizar la diferencia entre dicho error de medida ε absoluto de cada segundo transformador (10) y un error esperado para cada segundo transformador en sus condiciones de carga.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于校准连接到高压线相位(30)的第一测量变压器(10)的测量误差和方法,所述方法包括以下步骤:a)将第一变压器建立为 参考变压器(20),并且最初确定测量误差&egr ref为零; b)在时间上获得用于加载条件的参考变压器(20)的第一电压值Vref的测量; c)在上述时刻,测量连接到上述相(30)的第二变压器(10)的第二电压值Vmed,所述第二变压器(10)在预定负载条件下运行; d)计算相对测量误差 根据& med =(Vmed-Vref)/ Vref,第二变压器(10) [1]; e)计算绝对测量误差 的第二变压器(10) =&egr; med +&egr; ref [2]; f)对于多个i个第二变压器(10)重复步骤(b) - (e); g)为参考变压器(20)的测量误差和参考值分配值,以便最小化绝对测量误差&egr; 的每个第二变压器(10)和每个第二变压器在其负载条件下的预期误差。

    一种电流互感器抗直流分量和偶次谐波测试系统

    公开(公告)号:WO2017045488A1

    公开(公告)日:2017-03-23

    申请号:PCT/CN2016/092115

    申请日:2016-07-28

    CPC classification number: G01R35/02

    Abstract: 一种电流互感器抗直流分量和偶次谐波测试系统,所述测试系统包括升流器、标准电流互感器(8)、半波整流装置、阻抗匹配装置和半波互感器校验仪(9);所述测试系统一次侧包括第一半波整流装置(1)、第二半波整流装置(2)和第一阻抗匹配装置(5);所述第一半波整流装置(1)和第一阻抗匹配装置(5)串联后与同是串联的第二半波整流装置(2)和被测电流互感器(7)并联;所述测试系统二次侧包括:第三半波整流装置(3)、第四半波整流装置(4)和第二阻抗匹配装置(6);所述第四半波整流装置(4)、第二阻抗匹配装置(6)、标准电流互感器(8)与第三半波整流装置(3)串联;所述升流器连接标准电流互感器(8)。

    CURRENT TRANSFORMER SYSTEM WITH CHARACTERIZATION CIRCUIT FOR COMPENSATION OF ERRORS.
    5.
    发明申请
    CURRENT TRANSFORMER SYSTEM WITH CHARACTERIZATION CIRCUIT FOR COMPENSATION OF ERRORS. 审中-公开
    具有用于补偿错误的特征电路的电流互感器系统。

    公开(公告)号:WO2015025332A3

    公开(公告)日:2015-06-04

    申请号:PCT/IN2014000529

    申请日:2014-08-19

    Inventor: KAJI SAMIR

    CPC classification number: G01R15/183 G01R35/02 H01F38/32 H01F38/38

    Abstract: A current transformer system with characterization is disclosed. The current transformer system (100) comprises at least one current transformer unit (102) generating a secondary current output (112) relative to a primary current input (110), and a characterizing circuit (104) storing a set of characteristics measured under test conditions in a memory of the characterizing circuit which characteristics represent the relation between the primary current input (110) and the secondary current output (112) of the current transformer unit (102) under various operating conditions, the characterizing circuit (104) further communicating at least one of the characteristics via the communication interface (106) to an onward device to allow dynamic compensation for any errors in the characteristics of the at least one current transformer unit (102) at the device.

    Abstract translation: 公开了具有表征的电流互感器系统。 电流互感器系统(100)包括相对于初级电流输入(110)产生二次电流输出(112)的至少一个电流互感器单元(102),以及存储在测试中测量的一组特性的表征电路(104) 表征电路的存储器中的条件,其特征表示在各种操作条件下电流互感器单元(102)的初级电流输入(110)和次级电流输出(112)之间的关系,表征电路(104)进一步连通 经由通信接口(106)到向前设备的特征中的至少一个,以允许动态补偿该设备处的至少一个电流互感器单元(102)的特性中的任何错误。

    自动展开式高压互感器现场检定车

    公开(公告)号:WO2015074538A1

    公开(公告)日:2015-05-28

    申请号:PCT/CN2014/091395

    申请日:2014-11-18

    CPC classification number: G01R31/027 G01R35/02

    Abstract: 一种自动展开式高压互感器现场检定车,包括驾驶室(1)、车厢(2)和电力互感器检定系统,车厢(2)后部设有带后车门(4)的移动车厢(3),车厢(2)与移动车厢(3)之间的收纳空间包括试验区(2a)和操作区(2b),操作区(2b)内安装有控制柜(5),试验区(2a)内安装有移动平台(6),电力互感器检定系统包括电压互感器校验仪器(7),电压互感器校验仪器(7)包括安装在移动平台(6)上的试验变压器与标准电压互感器总成(7a)和补偿电抗器(7b),以及安装在控制柜(5)内的互感器校验仪(7c)、电压负载箱(7d)和调压器(7e),试验变压器与标准电压互感器总成(7a)包括卧式试验变压器(7a1)、卧式标准电压互感器(7a2)和带均压环(7a3)的绝缘套管(7a4),卧式标准电压互感器(7a2)安装在卧式试验变压器(7a1)的顶部,绝缘套管(7a4)斜向安装在卧式试验变压器(7a1)的端部。该检定车解决了因需调整移动平台与被试品之间的位置而导致的工作效率低的问题;不存在轨道对接费时和可靠性差以及后车门容易受压变形的问题;缩短了检定车的整体长度,降低了检定车的整体高度。

    微型电流互感器比率误差自校准系统

    公开(公告)号:WO2014008707A1

    公开(公告)日:2014-01-16

    申请号:PCT/CN2012/081267

    申请日:2012-09-12

    Inventor: 王乐仁 金波 何斌

    CPC classification number: G01R35/02

    Abstract: 一种微型电流互感器比率误差自校准系统,它由一台10段单盘微型感应分流器、一台5A/0.5A微型电流比较仪、三台多变比微型电流比较仪、供电电流互感器、试验电流源、误差测量装置、调零阻抗箱、检流计共同组成自校准系统,采用参考电流法自校线路和电流比较仪级联单盘感应分流器比率扩展线路导出5A/0.5A~0.001A比率量值;其特征在于,所述电流比率量程分为5A/0.5A~0.1A、5A/0.05A~0.01A、5A/0.005A~0.001A三段,并用三台多变比微型电流比较仪分段覆盖;本发明的优点是自校准操作步骤少,量程扩展效率高,量值复现性好。

    WANDLERTESTER UND VERFAHREN ZUM TESTEN EINES DURCHSTECKSTROMWANDLERS
    8.
    发明申请
    WANDLERTESTER UND VERFAHREN ZUM TESTEN EINES DURCHSTECKSTROMWANDLERS 审中-公开
    转换器测试仪和方法进行测试BY插头电源转换器

    公开(公告)号:WO2012155886A1

    公开(公告)日:2012-11-22

    申请号:PCT/DE2012/000492

    申请日:2012-05-10

    CPC classification number: G01R35/02 G01R29/20 G01R31/027

    Abstract: Es wird ein Wandlertester (400) zum Testen eines induktiven Durchsteckstromwandlers (101) geschaffen. Der Wandlertester (400) weist eine steuerbare Spannungsquelle (401) zum Ausgeben einer Prüfspannung (Up) auf die Sekundärspule (404) des zu testenden Wandlers (101) auf. Ferner hat der Wandlertester (400) einen mit der steuerbaren Spannungsquelle (401) gekoppelten Regler (407) zum Regeln der elektrischen Spannung einer an Eingänge (411) des Wandlertesters (400) anzuschließenden Leiterschleife (408), wobei der Regler (407) dazu eingerichtet ist, in einem durch den Wandler durchgesteckten Zustand der Leiterschleife (408) die in der Leiterschleife (408) induzierte Spannung (Ui) auf einen vorbestimmten Sollwert unter Verwendung der Prüfspannung (Up) als Stellgröße zu regeln. Ferner wird ein entsprechendes Verfahren zum Testen des Durchsteckstromwandlers (101) geschaffen.

    Abstract translation: 提供了一种用于测试的感应馈电电流转换器(101)的转换器测试仪(400)。 所述换能器测试仪(400)包括用于测试(101)输出一测试电压(向上)到转换器的次级线圈(404)可控制的电压源(401)。 此外,转换器测试仪(400)具有将要连接一个耦合(401)控制器(407),用于调节的电电压施加到所述换能器测试器的输入端(411)可控电压源(400)的导体回路(408),其中所述控制器(407),适合于 是,在插通通过换能器的状态,导体环(408)来调节在导体环(408)的感应电压(UI),以使用所述测试电压(最多),为操作量的规定的目标值。 提供了一种用于测试通过电流转换器(101)的相应方法。

    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR PRÜFUNG VON STROMWANDLERN MITTELS HOCHSTROMIMPULS
    9.
    发明申请
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR PRÜFUNG VON STROMWANDLERN MITTELS HOCHSTROMIMPULS 审中-公开
    方法和装置的功率变换器的高电流脉冲测试

    公开(公告)号:WO2007122151A1

    公开(公告)日:2007-11-01

    申请号:PCT/EP2007/053763

    申请日:2007-04-18

    CPC classification number: G01R35/02

    Abstract: Um die Funktionsfähigkeit eines herkömmlichen Stromwandlers kostengünstig überwachen zu können, wird eine Vorrichtung zum Prüfen eines Stromwandlers mit einem Teststromleiter (1) und einer Testimpulsschaltung (5), die einen Energiespeicher (6), Auflademittel (13) zum Aufladen des Energiespeichers (6) und ein Schaltelement (7) zum Entladen des Energiespeichers über den Teststromleiter (1) aufweist, bereitgestellt, so dass ein Entladungsstrom in dem Teststromleiter erzeugbar ist, wobei eine Auswerteeinheit zum Erfassen eines durch den Entladungsstrom hervorgerufenen Stromwandlersignals vorgesehen ist.

    Abstract translation: 为了监测的常规功率转换器的成本的功能能力对于测试的电流互感器与测试电流导体的装置(1)和具有能量存储装置(6),充电装置(13)进行充电的能量存储器的测试脉冲电路(5)(6)和 包括用于经由所述测试电流导体(1),设置成使得在所述测试电流导体中产生的放电电流,其特征在于,提供了一种用于检测由所述放电电力的电流信号引起的评估单元放电能量存储器的开关元件(7)。

    IC TESTING DEVICE
    10.
    发明申请
    IC TESTING DEVICE 审中-公开
    IC测试设备

    公开(公告)号:WO1991011728A1

    公开(公告)日:1991-08-08

    申请号:PCT/JP1991000125

    申请日:1991-02-01

    Abstract: An IC testing device by which the timings for sending out test signals and the timings for taking in IC response output signals can be corrected according to delay times (T1 - Tn) of transmission lines (L1 - Ln) of an IC connection board (81) to which terminals (P1 - Pn) of an IC (1) to be tested are connected. A nonvolatile storage (83) is provided on the IC connection board (81) and the data on the delay times (T1 - Tn) are stored in it beforehand. Even if the IC connection board (81) is replaced by another one, a main body (10) of the testing device reads out the data from the storage (83) when starting the test and corrects the timings using the data. Thus, the testing time can be shortened. Also, there is no necessity to identify the individual IC connection boards (81).

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