公开(公告)号：WO2003067626A1

公开(公告)日：2003-08-14

申请号：PCT/GB2003/000312

申请日：2003-01-27

Applicant: MICROSAIC SYSTEMS LIMITED ,  SYMS, Richard

Inventor： SYMS, Richard

IPC: H01J49/10

CPC classification number: H01J49/147 ,  H01J49/0018 ,  H01J49/08 ,  H01J49/4215

Abstract: A method of fabricating miniature quadrupole electrostatic mass filter has been previously described. The electrodes are metallised cylinders, mounted in grooves etched in oxidised silicon substrates, which are held apart at the correct spacing by cylindrical spacer rods. This invention concerns an ion source mounted on extensions of the spacer rods, which project beyond the mass filter. The ion source consists of a cold-cathode electron emitter, which emits electrons with energies sufficient to cause impact ionisation, and electrostatic optics suitable for coupling the ion flux into the mass filter. Methods of constructing a single self-aligned electron source and a similar dual source are described. Arrangements for mounting the electron source and the ion coupling lens so that the electron and ion beams travel at right angles to one another for efficient separation are described. A method of fabricating a self-aligned one-dimensional einzel electrostatic lens from metallised cylinders mounted in the silicon substrates using etched grooves is described. A method of fabricating a-self-aligned two-dimensional einzel lens from metal plates is also described.

Abstract translation: 以前已经描述了制造微型四极静电质量过滤器的方法。 电极是金属化的气缸，安装在蚀刻在氧化硅衬底中的槽中，它们通过圆柱形间隔棒以正确的间隔分开。 本发明涉及一种安装在间隔棒的延伸部上的离子源，其突出超过质量过滤器。 离子源由冷阴极电子发射器组成，其发射能量足以引起冲击电离的电子，以及适于将离子通量耦合到质量过滤器中的静电光学器件。 描述了构建单个自对准电子源和类似双源的方法。 描述了用于安装电子源和离子耦合透镜以使电子和离子束彼此成直角行进以进行有效分离的布置。 描述了使用蚀刻槽从安装在硅衬底中的金属化气缸制造自对准的一维立体静电透镜的方法。 还描述了从金属板制造自对准二维单面透镜的方法。

公开(公告)号：WO2016108451A3

公开(公告)日：2016-10-13

申请号：PCT/KR2015013252

申请日：2015-12-04

Applicant: KOREA BASIC SCIENCE INST

Inventor： YANG MO ,  KIM SEUNG YONG ,  KIM HYUN SIK ,  JEONG WAN SEOP

IPC: H01J49/40

CPC classification number: H01J49/147 ,  H01J43/246 ,  H01J49/08 ,  H01J49/142 ,  H01J49/40

Abstract: A time-of-flight mass spectrometer comprises: an ionization unit for receiving an electron beam and emitting ions; a cold electron supply unit for injecting an electron beam into the ionization unit; an ion detection unit for detecting ions discharged from the ionization unit; and an ion separation unit for connecting the ionization unit and the ion detection unit, wherein the cold electron supply unit comprises a microchannel plate, which receives ultraviolet rays and emits an electron beam, ions discharged from the ionization unit pass through the ion separation unit and reach the ion detection unit, and the ion separation unit has the shape of a straight tube.

Abstract translation: 飞行时间质谱仪包括：用于接收电子束并发射离子的电离单元; 用于将电子束注入电离单元的冷电子供应单元; 离子检测单元，用于检测从电离单元排出的离子; 以及用于连接电离单元和离子检测单元的离子分离单元，其中冷电子供给单元包括接收紫外线并发射电子束的微通道板，从电离单元排出的离子穿过离子分离单元，以及 到达离子检测单元，并且离子分离单元具有直管的形状。

公开(公告)号：WO2016108451A2

公开(公告)日：2016-07-07

申请号：PCT/KR2015/013252

申请日：2015-12-04

Applicant: 한국기초과학지원연구원

Inventor： 양모 ,  김승용 ,  김현식 ,  정완섭

CPC classification number: H01J49/147 ,  H01J43/246 ,  H01J49/08 ,  H01J49/142 ,  H01J49/40

Abstract: 비행시간 질량분석기는 전자 빔을 수용하여, 이온을 방출하는 이온화부, 이온화부에 전자 빔을 주입하는 냉전자 공급부, 이온화부로부터 방출된 이온을 감지하는 이온 검출부, 및 이온화부와 이온 검출부를 연결하는 이온 분리부를 포함하되, 냉전자 공급부는 자외선을 수용하여 전자 빔을 방출하는 마이크로채널 플레이트(Microchannel Plate)를 포함하며, 이온화부에서 방출된 이온은 이온 분리부를 통과하여 이온 검출부에 도달하고, 이온 분리부는 곧은 관(straight tube) 형상을 가진다.

Abstract translation: 飞行时间质谱仪包括：用于接收电子束并发射离子的电离单元; 用于将电子束注入电离单元的冷电子供给单元; 离子检测单元，用于检测从电离单元排出的离子; 以及用于连接离子化单元和离子检测单元的离子分离单元，其中冷电子供给单元包括接收紫外线并发射电子束的微通道板，从电离单元排出的离子通过离子分离单元， 到达离子检测单元，离子分离单元具有直管形状。

公开(公告)号：WO2007108211A1

公开(公告)日：2007-09-27

申请号：PCT/JP2007/000238

申请日：2007-03-16

Applicant: 株式会社リガク ,  浜松ホトニクス株式会社 ,  有井忠 ,  高田義博 ,  大竹智士 ,  松浦恵樹

Inventor： 有井忠 ,  高田義博 ,  大竹智士 ,  松浦恵樹

IPC: G01N27/64 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N27/64 ,  H01J49/08 ,  H01J49/147 ,  H01J49/162

Abstract: 　ガスに含まれる複数の分子成分を互いに同時にＰＩ法によるイオン化対象とする。例えば、ある瞬間に発生したガスに含まれる複数の分子成分をＰＩ法に基づいてリアルタイムで正確に分析する。 　試料室Ｒ０内の試料Ｓで発生したガスを分析室Ｒ１へ搬送するガス搬送装置４と、ガスをイオン化するイオン化装置１９と、イオンを質量電荷比ごとに分離する四重極フィルタ２１と、分離されたイオンを検出するイオン検出装置２２とを有するガス分析装置である。イオン化装置１９は、ガス搬送装置４のガス排出口の近傍に設けられたイオン化領域と、そのイオン化領域へ光を照射するランプ３３Ａとを有する。ランプ３３Ａは、光の指向性がレーザ光よりも低くて広がって進む光を放射するので、イオン化装置１９内のイオン化領域へ入ったガスは広い範囲で光の照射を受け、その内部の複数のガス成分が同時にイオン化される。

Abstract translation: 包含在气体中的多个分子成分将通过PI法同时离子化。 例如，在一定情况下产生的气体中包含的多个分子成分基于PI法实时地被准确地分析。气体分析装置设置有用于传送由样品产生的气体的气体传送装置（4） S）到样品室（RO）中的分析室（R1）; 用于使气体离子化的离子发生器（19）; 用于通过质量/电荷比分离离子的四重过滤器（21） 和用于检测分离的离子的离子检测器（22）。 电离器（19）设置有布置在气体输送装置（4）的排气附近的电离区域和用于在电离区域上施加光的灯（33A）。 由于灯（33A）输出光指向性低于激光束的光并通过扩展而行进，所以进入离子发生器（19）的电离区域的气体接收到宽范围的光，内部的气体成分被离子化 与此同时。

公开(公告)号：WO2016174545A1

公开(公告)日：2016-11-03

申请号：PCT/IB2016/052226

申请日：2016-04-20

Applicant: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.

Inventor： HAGER, James Walter

IPC: H01J49/42 ,  H01J49/08 ,  H01J49/36

CPC classification number: H01J49/38 ,  H01J49/08 ,  H01J49/4205

Abstract: A quadrupole is filled with ions and the ions are cooled by applying a pressure and gas flow within the quadrupole. Ions are trapped in the quadrupole by applying a DC voltage and an RF voltage to quadrupole rods of the quadrupole, one or more DC voltages to a plurality of auxiliary electrodes of the quadrupole, and a DC voltage and an RF voltage to an exit lens at the end of the quadrupole. The ions are coherently oscillated after the filling and cooling by applying a coherent excitation between at least two rods of the quadrupole rods. The coherently oscillating ions are axially ejected through the exit lens and to a destructive detector for detection by changing one or more voltages of the one or more DC voltages of the plurality of auxiliary electrodes and changing the DC voltage of the exit lens.

Abstract translation: 四极杆填充有离子，并通过在四极杆内施加压力和气流来冷却离子。 通过向四极杆的四极杆施加直流电压和RF电压，将一个或多个直流电压施加到四极杆的多个辅助电极，并将直流电压和射频电压施加到出射透镜 四极杆的末端。 通过在四极棒的至少两个杆之间施加相干激发，在填充和冷却之后离子相干地振荡。 通过改变多个辅助电极中的一个或多个直流电压的一个或多个电压并改变出射透镜的直流电压，相干振荡离子通过出射透镜轴向地弹出并通过一个破坏性检测器进行检测。

公开(公告)号：WO2013081195A1

公开(公告)日：2013-06-06

申请号：PCT/KR2011/009105

申请日：2011-11-28

Applicant: 한국기초과학지원연구원 ,  김현식 ,  김승용 ,  양모

Inventor： 김현식 ,  김승용 ,  양모

IPC: H01J49/26 ,  H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: H01J49/08 ,  H01J27/028 ,  H01J43/04 ,  H01J43/246 ,  H01J49/0045 ,  H01J49/0054 ,  H01J49/10 ,  H01J49/147 ,  H01J49/38 ,  H01J49/426

Abstract: 본 발명은 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치에 관한 것으로, 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기의 이온트랩 내에서 이온화를 위한 전자빔 발생을 하기 위하여 MCP전자증배판을 사용하되, 자외선다이오드에서 방출하는 자외선 광자를 MCP 전자증배판 전면에 주사하여 증폭된 전자빔을 획득하고, 전자집속렌즈를 이용하여 트랩내로 전자빔을 집속하여 주입하고, 이온트랩 내에서 중성분자의 음이온화를 목적으로 하는 저에너지 전자빔 방출 장치와 다중양전하를 띈 분자에 전자를 결합시켜 ECD 반응 생성하게 한다. 본 발명은 고진공 상태의 질량분석기 내부에 조사된 자외선광자로부터 많은 수의 냉전자를 발생하는 냉전자발생모듈로 구성된 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치에 있어서, 질량분석기 내에 자외선 광자를 방출하는 다수의 자외선다이오드; 자외선다이오드로부터 자외선 광자들의 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 후면판에서 대량의 전자빔을 발생시키는 MCP 전자증배판; MCP 전자증배판을 통해 증폭된 전자빔을 집적하는 전자집적렌즈; 전자의 에너지와 전류를 조정하는 그리드;를 포함하여 이루어진다.

Abstract translation: 本发明涉及使用冷电子的阴离子产生和电子俘获解离装置，其使用MCP电子倍增器板在傅里叶变换离子回旋共振质谱仪的离子阱内产生用于电离的电子束，注入从 跨越MCP电子倍增器板的整个表面的紫外线二极管使用电子聚焦透镜将电子束聚焦并注入陷阱，并通过使用低能电子束将电子耦合到具有多个正电荷的分子来产生ECD反应 用于离子阱中的中性分子的负电离的发射装置。 本发明的阴离子产生和电子捕获和分析装置，其使用冷电子并且由在高真空状态下发射到质谱仪中的紫外光子产生大量冷电子的冷电子发生模块构成，包括 ：在质谱仪中发射紫外光子的多个紫外二极管; 诱导和放大来自紫外二极管的紫外光子的初始电子发射并从背板产生高容量电子束的MCP电子倍增器板; 用于聚焦通过MCP电子倍增器板放大的电子束的电子聚焦透镜; 以及用于调节电子的能量和电流的栅格。

公开(公告)号：WO2012080352A1

公开(公告)日：2012-06-21

申请号：PCT/EP2011/072790

申请日：2011-12-14

Applicant: THERMO FISHER SCIENTIFIC (BREMEN) GMBH ,  MAKAROV, Alexander Alekseevich

Inventor： MAKAROV, Alexander Alekseevich

IPC: H01J49/42

CPC classification number: H01J49/282 ,  H01J49/027 ,  H01J49/08 ,  H01J49/38 ,  H01J49/4245

Abstract: Mass analysers and methods of ion detection for a mass analyser are provided. An electrostatic field generator provides an electrostatic field causing ion packets to oscillate along a direction. A pulse transient signal is detected over a time duration that is significantly shorter than a period of the ion oscillation or using pulse detection electrodes having a width that is significantly smaller than a span of ion harmonic motion. A harmonic transient signal is also detected. Ion intensity with respect to mass-to-charge ratio is then identified based on the pulse transient signal and the harmonic transient signal.

Abstract translation: 提供了用于质量分析仪的质量分析仪和离子检测方法。 静电场发生器提供静电场，使离子包沿着一个方向振荡。 在比离子振荡的周期短的持续时间内检测脉冲瞬态信号，或使用具有明显小于离子谐波运动的跨度的宽度的脉冲检测电极。 还检测到谐波瞬态信号。 然后基于脉冲瞬态信号和谐波瞬态信号来识别关于质荷比的离子强度。

公开(公告)号：WO2007070500A2

公开(公告)日：2007-06-21

申请号：PCT/US2006/047342

申请日：2006-12-12

Applicant: VARIAN, INC. ,  WELLS, Gregory, J. ,  MARQUETTE, Edward, G.

Inventor： WELLS, Gregory, J. ,  MARQUETTE, Edward, G.

IPC: H01J49/14

CPC classification number: H01J49/14 ,  H01J3/024 ,  H01J49/08

Abstract: ABSTRACT OF THE DISCLOSURE An electron source includes a first electrode, a second electrode, a thermionic element interposed between and electrically isolated from the first electrode and the second electrode, and a guard electrode interposed between and electrically isolated from the first electrode and the second electrode. The thermionic element and the guard electrode may be at substantially the same voltage. Another electron source includes a first electrode, a second electrode, a thermionic element interposed between and electrically isolated from the first electrode and the second electrode, and a thermal expansion component interposed between and electrically isolated from the first electrode and the second electrode. The thermal expansion component may be heated to cause expansion. The heating may be cycled to cause alternating expansion and contraction.

Abstract translation: 发明内容电子源包括插入在第一电极和第二电极之间并且与第一电极和第二电极电绝缘的第一电极，第二电极和热离子元件，以及插入在第一电极和第二电极之间并与之隔离的保护电极 。 热电子元件和保护电极可以处于基本上相同的电压。 另一电子源包括介于第一电极和第二电极之间并与之电隔离的第一电极，第二电极和热离子元件，以及介于第一电极和第二电极之间并与之电隔离的热膨胀部件。 可以加热热膨胀组分以引起膨胀。 可以循环加热以引起交替的膨胀和收缩。

公开(公告)号：WO2014028695A1

公开(公告)日：2014-02-20

申请号：PCT/US2013/055067

申请日：2013-08-15

Applicant: THE STATE OF OREGON ACTING BY AND THROUGH THE STATE BOARD OF HIGHER EDUCATION ON BEHALF OF OREGON STATE UNIVERSITY

Inventor： BAROFSKY, Douglas, F. ,  VOINOV, Valery, G.

IPC: H01J49/08 ,  H01J49/26

CPC classification number: H01J49/147 ,  H01J49/0054 ,  H01J49/062 ,  H01J49/08 ,  H01J49/26

Abstract: An electron source for electron-induced dissociation in an RF-free electromagnetostatic cell for use installation in a tandem mass spectrometer is provided. An electromagnetostatic electron-induced dissociation cell may include at least one magnet having an opening disposed therein and having a longitudinal axis extending through the opening, the magnet having magnetic flux lines associated therewith, and an electron emitter having an electron emissive surface comprising a sheet, the emitter disposed about the axis at a location relative to the magnet where the electron emissive surface is substantially perpendicular to the magnetic flux lines at the electron emissive surface.

Abstract translation: 提供了一种用于无串联电磁静电电池中电子诱导解离的电子源，用于串联质谱仪中的安装。 电磁静电电子诱导解离单元可以包括至少一个具有设置在其中的开口的磁体，并且具有延伸穿过该开口的纵向轴线，该磁体具有与之相关联的磁通线，以及具有包括片材的电子发射表面的电子发射体， 所述发射极围绕所述轴设置在相对于所述磁体的位置处，其中所述电子发射表面基本上垂直于所述电子发射表面处的磁通线。

公开(公告)号：WO2013075203A1

公开(公告)日：2013-05-30

申请号：PCT/CA2011/001300

申请日：2011-11-24

Applicant: AL MOUSSALAMI, Samir

Inventor： AL MOUSSALAMI, Samir

IPC: H01J49/08

CPC classification number: H01J49/08 ,  B82Y15/00 ,  H01J3/021 ,  H01J2237/082

Abstract: The present relates to a high brightness electron gun for mass spectrometry and spectroscopy. The electron gun comprises a nano emission ionization (NEI) electron source, an electrostatic lens system and a control system. The nano emission ionization (NEI) electron source comprises a cathode having a substrate on which are mounted nano-components and an anode. The control system controls the high brightness electron gun, the beam regime and the beam physical proprieties.

Abstract translation: 本发明涉及用于质谱和光谱学的高亮度电子枪。 电子枪包括纳米发射电离（NEI）电子源，静电透镜系统和控制系统。 纳米发射电离（NEI）电子源包括具有衬底的阴极，其上安装有纳米组分和阳极。 控制系统控制高亮度电子枪，光束状态和光束物理特性。