中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

185 records (took 0.036 seconds)

    直流高圧電源装置
    1.
    发明申请
    直流高圧電源装置 审中-公开
    直流高压电源装置

    公开(公告)号：WO2017145380A1

    公开(公告)日：2017-08-31

    申请号：PCT/JP2016/055881

    申请日：2016-02-26

    Applicant: 株式会社島津製作所

    Inventor： 長　治生

    IPC: H01J49/10 ,  H01J49/06 ,  H02M7/10

    CPC classification number: H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  H02M7/10

    Abstract: 正イオン測定と負イオン測定との切替えを高速化するために出力高電圧の正負を高速に切り替え可能な直流高圧電源装置を提供する。正極側の励振回路（１Ａ１）をオン、高電圧スイッチ（３Ａ）をオンすることで正極性の高電圧を電圧出力端（６）から出力している状態から電圧の極性を切り替える際には、制御部（７）は励振回路（１Ａ１）をオフするとともに負極側の高電圧スイッチ（３Ｂ）をオンする。高電圧スイッチ（３Ａ、３Ｂ）が共にオンするため、その直前に出力コンデンサ（４）に蓄積していた電荷やフィルタ回路（１Ａ３）のコンデンサ（３１Ａ）に蓄積していた電荷は保護抵抗５Ｂ、高電圧スイッチ（３Ｂ）、ダイオード（２Ｂ）を含む経路で放電される。保護抵抗（５Ａ、５Ｂ）の抵抗値は小さいので放電の時定数は小さく、放電用抵抗を用いた従来装置に比べて出力電圧を迅速に零にすることができ、正負極性の切替えを高速化することができる。

    Abstract translation:

    提供交换能够以加快正离子测量和负离子测量以高速切换输出高电压的极性的直流高电压供电装置。 在正电极侧（1A1）的激励电路，从一个状态切换的电压的极性时，其中从高压开关电压输出端子的输出通过导通（3A）的高电压的正极性的（6）是 控制器（7）导通负极侧的高电压开关（3B）关断励磁电路（1A1）。 高压开关（3A，3B）都接通，电容器的电荷在（31A）保护电阻积累5B充电和滤波电路，其已经被存储在所述输出电容器（4）之前（1A3）， 高压开关（3B）和二极管（2B）。 由于保护电阻器的电阻值（5A，5B）是放电的更小的时间常数小，输出电压与使用放电电阻可以迅速为零传统装置中，正和负更快的开关 你可以做。

    イオン分析装置
    2.
    发明申请
    イオン分析装置 审中-公开
    离子分析装置

    公开(公告)号：WO2017061034A1

    公开(公告)日：2017-04-13

    申请号：PCT/JP2015/078771

    申请日：2015-10-09

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ

    Inventor： 西村　和茂 ,  佐竹　宏之 ,  杉山　益之 ,  長谷川　英樹 ,  坂井　友幸

    IPC: G01N27/62 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26

    CPC classification number: G01N27/62 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26

    Abstract: 添加剤による装置の汚染を低減し、添加剤の噴霧と停止を高速に切り替えるために、測定対象物質をイオン化するイオン源と、測定対象物質に向けて測定対象物質と反応する添加剤を含む液体を微粒化して噴霧する噴霧部と、測定対象物質と添加剤が反応して生成したイオンを分離分析する分離分析部と、分離分析部で分離分析されたイオンを検出する検出器と、添加剤が不要な時間に噴霧部に供給する添加剤の流量を低下させる制御部と、を有する。

    Abstract translation: 为了减少由添加剂引起的装置污染，并且在起始和停止添加剂喷射之间快速切换，该离子分析装置设置有用于离子化待测量物质的离子源，用于雾化和喷射包括添加剂的液体的喷雾单元， 待被测物质被测量物质，分离分析单元，用于分离和分析由待测物质与添加剂之间的反应产生的离子;检测器，用于检测由分离和分析单元分离和分析的离子 以及控制单元，用于当不需要添加剂时，降低供给喷雾单元的添加剂的流量。

    一种用于质谱仪离子化以及离子引入装置
    3.
    发明申请
    一种用于质谱仪离子化以及离子引入装置 审中-公开

    公开(公告)号：WO2017013609A1

    公开(公告)日：2017-01-26

    申请号：PCT/IB2016/054330

    申请日：2016-07-21

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 王睿 ,  沈嘉祺 ,  金峤 ,  孙文剑

    IPC: H01J49/04 ,  H01J49/24

    CPC classification number: H01J49/10 ,  H01J49/04 ,  H01J49/0404 ,  H01J49/062 ,  H01J49/24

    Abstract: 本发明提供一种用于质谱仪离子化以及离子引入装置，包括一个低于大气压的电离源腔室；至少一个电离源，置于所述电离源腔室内；至少一个离子聚焦导引装置腔室，用于导引离子进入与所述离子聚焦导引装置腔室相连的质量分析装置腔室；至少一个低于大气压的传输腔室，处于所述电离源腔室与所述离子聚焦导引装置腔室之间，包括所述电离源腔室到所述传输腔室的入口和所述传输腔室到所述离子聚焦导引装置腔室的出口；所述传输腔室的气压低于所述电离源腔室的气压，高于所述离子聚焦导引装置腔室的气压。本发明的用于质谱仪离子化以及离子引入装置将电离源从大气压环境转移到低于大气压环境，提高离子的传输效率，进一步提高质谱仪的检测灵敏度。

    INSTRUMENTS FOR MEASURING ION SIZE DISTRIBUTION AND CONCENTRATION
    8.
    发明申请
    INSTRUMENTS FOR MEASURING ION SIZE DISTRIBUTION AND CONCENTRATION 审中-公开
    用于测量离子尺寸分布和浓度的仪器

    公开(公告)号：WO2015179709A1

    公开(公告)日：2015-11-26

    申请号：PCT/US2015032074

    申请日：2015-05-21

    Applicant: BENNER W HENRY

    Inventor： BENNER W HENRY

    IPC: G01N27/62 ,  H01J49/16 ,  H01J49/40

    CPC classification number: H01J49/22 ,  G01N27/622 ,  H01J49/0445 ,  H01J49/10 ,  H01J49/167

    Abstract: Instruments are disclosed for analyzing ions from about 1000 to 10,000,000 Daltons by controlling a gaseous medium through which the ions travel under the influence of an electric field so that properties of the ions, such as diameter, electrical mobility, and charge, are measured. One embodiment of the disclosed instruments include an ion source (9), a nozzle (12), a jet relaxation region (14), an ion accumulation region (17), an electronic gate (38), a flow chamber (39) and an ion detector (54).

    Abstract translation: 公开了用于通过控制离子在电场影响下行进的气体介质来分析约1000至10,000,000道尔顿的离子的仪器，从而测量离子的性质，例如直径，电迁移率和电荷。 所公开的仪器的一个实施例包括离子源（9），喷嘴（12），射流弛豫区（14），离子聚集区（17），电子门（38），流动室（39）和 离子检测器（54）。

    SAMPLE COLLECTION IN COMPACT MASS SPECTROMETRY SYSTEMS
    9.
    发明申请
    SAMPLE COLLECTION IN COMPACT MASS SPECTROMETRY SYSTEMS 审中-公开
    紧凑质谱系统中样品采集

    公开(公告)号：WO2015108969A1

    公开(公告)日：2015-07-23

    申请号：PCT/US2015/011393

    申请日：2015-01-14

    Applicant: 908 DEVICES INC. ,  BROWN, Christopher D. ,  HARRIS, Glenn A. ,  KNOPP, Kevin J. ,  JOBIN, Michael ,  GOODWIN, Michael ,  LIEPERT, Anthony G. ,  BLANK, Cyril P.

    Inventor： BROWN, Christopher D. ,  HARRIS, Glenn A. ,  KNOPP, Kevin J. ,  JOBIN, Michael ,  GOODWIN, Michael ,  LIEPERT, Anthony G. ,  BLANK, Cyril P.

    IPC: G01N1/40 ,  H01J49/04

    CPC classification number: H01J49/049 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/10 ,  H01J49/24 ,  H01J49/26 ,  H01J49/4245

    Abstract: Mass spectrometry systems include a core featuring an ion source, an ion trap, and an ion detector connected along a gas path, a pressure regulation subsystem connected to the gas path and configured to regulate a gas pressure in the gas path, a sample pre-concentrator connected to the gas path, where the sample pre-concentrator includes an adsorbent material, and a controller connected to the sample pre-concentrator, where during operation of the system, the controller is configured to heat sample particles adsorbed on the adsorbent material to desorb the particles from the adsorbent material and introduce the desorbed particles into the gas path, and a pressure difference between a gas pressure in the sample pre- concentrator and a gas pressure in at least one of the ion source, the ion trap, and the ion detector when the desorbed particles are introduced into the gas path is 50 mTorr (6,67 Pascal) or less.

    Abstract translation: 质谱系统包括具有离子源，离子阱和沿着气体路径连接的离子检测器的核心，连接到气体路径并被配置为调节气体通道中的气体压力的压力调节子系统， 浓缩器连接到气体路径，其中样品预浓缩器包括吸附材料，以及连接到样品预浓缩器的控制器，其中在系统操作期间，控制器被配置为将吸附在吸附材料上的样品颗粒加热到 从吸附剂材料中解吸颗粒并将解吸的颗粒引入气体路径中，并且样品预浓缩器中的气体压力与离子源，离子阱和至少一个离子阱中的至少一个中的气体压力之间的压力差 当解吸的颗粒被引入气体通路中时，离子检测器为50mTorr（6,67帕斯卡）或更低。

Patent Agency Ranking