Invention Publication
CN101889103A 薄膜形成装置和薄膜形成方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 薄膜形成装置和薄膜形成方法
- Patent Title (English): Thin film forming apparatus and thin film forming method
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Application No.: CN200880119323.5Application Date: 2008-11-19
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Publication No.: CN101889103APublication Date: 2010-11-17
- Inventor: 篠川泰治 , 本田和义 , 神山游马 , 山本昌裕 , 柳智文
- Applicant: 松下电器产业株式会社
- Applicant Address: 日本大阪府
- Assignee: 松下电器产业株式会社
- Current Assignee: 松下电器产业株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪府
- Agency: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- Agent 龙淳
- Priority: 2007-314300 2007.12.05 JP
- International Application: PCT/JP2008/003375 2008.11.19
- International Announcement: WO2009/072242 JA 2009.06.11
- Date entered country: 2010-06-04
- Main IPC: C23C14/56
- IPC: C23C14/56 ; G11B5/85 ; G11B5/851 ; H01B13/00

Abstract:
本发明提供一种薄膜形成装置和薄膜形成方法。在使用气体冷却的成膜方法中,达成充分的冷却效果,并且避免气体导入引起的成膜率的降低和对真空泵的过大的负荷。本发明的薄膜形成装置包括在薄膜形成区域(14)中接近基板(7)的背面配置的冷却体(10);将气体向冷却体(10)与基板(7)的背面之间导入的气体导入机构;接近基板(7)的背面,将薄膜形成区域(14)分割为第一薄膜形成区域(14a)和成膜速度比第一薄膜形成区域(14a)低的第二薄膜形成区域(14b),且维持冷却体(10)与基板(7)的间隙的间隙维持机构(11)。冷却条件被设定为第一区域(14a)的冷却量比第二区域(14b)的冷却量大。
Public/Granted literature
- CN101889103B 薄膜形成装置和薄膜形成方法 Public/Granted day:2011-12-28
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