发明授权
- 专利标题: 等离子体处理装置和方法
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申请号: CN201110206125.6申请日: 2005-06-21
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公开(公告)号: CN102263026B公开(公告)日: 2016-01-20
- 发明人: 舆石公 , 杉本胜 , 日向邦彦 , 小林典之 , 舆水地盐 , 大谷龙二 , 吉备和雄 , 齐藤昌司 , 松本直树 , 大矢欣伸 , 岩田学 , 矢野大介 , 山泽阳平 , 花冈秀敏 , 速水利泰 , 山崎广树 , 佐藤学
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳
- 优先权: 2004-183093 2004.06.21 JP; 2005-013912 2005.01.21 JP; 2005-045095 2005.02.22 JP
- 分案原申请号: 2005800205180 2005.06.21
- 主分类号: H01L21/311
- IPC分类号: H01L21/311 ; H01J37/32
摘要:
本发明提供等离子体处理装置和方法。本发明的等离子体处理方法的特征在于:在处理容器内,将第一电极和支承被处理基板的第二电极相对配置,一边向所述第一电极施加频率相对较高的第一高频电力、并向所述第二电极施加频率相对较低的第二高频电力,一边向所述处理容器内供给处理气体,以生成该处理气体的等离子体,对被支承在所述第二电极上的被处理基板进行等离子体处理,该等离子体处理方法具有:向所述第一电极施加直流电压的工序;和一边向所述第一电极施加直流电压,一边对所述被处理基板进行等离子体处理的工序,在对被支承在所述第二电极上的被处理基板的绝缘膜进行蚀刻时,使用CF4、Ar、N2、CHF3的组合作为所述处理气体。
公开/授权文献
- CN102263026A 等离子体处理装置和方法 公开/授权日:2011-11-30