Invention Grant
- Patent Title: 检测系统以及检测方法
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Application No.: CN201510860140.0Application Date: 2015-11-30
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Publication No.: CN105987957BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 李雨青 , 余青芳 , 林俊宏 , 秦圣基 , 许庭豪 , 张庆祥
- Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹市
- Assignee: 台湾积体电路制造股份有限公司
- Current Assignee: 台湾积体电路制造股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹市
- Agency: 隆天知识产权代理有限公司
- Agent 王芝艳; 冯志云
- Priority: 14/658,399 2015.03.16 US
- Main IPC: G01N29/12
- IPC: G01N29/12

Abstract:
一薄膜设置于一蚀刻掩模之上,一声波生成器放置在薄膜之上,声波生成器用来产生多个声波以使薄膜以一目标共振频率振动。一共振检测工具用来检测回应声波的薄膜的一实际共振频率。一或多个电子处理器利用从目标共振频率到实际共振频率的偏移量来估算薄膜的老化状态。
Public/Granted literature
- CN105987957A 检测系统以及检测方法 Public/Granted day:2016-10-05
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