一种封装基板测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN119246224A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411221853.8

    申请日:2024-09-02

    Abstract: 本申请实施例提供一种封装基板测试装置以及测试方法,用于检测封装基板与印制板之间的可靠性,封装基板测试装置包括固定件、固封件以及测量组件。固定件包括承载台与夹持件,承载台用于承载印制板,夹持件安装于承载台上以夹持印制板;固封件具有液体形态以及固体形态;测量组件包括连接件与测量件,测量件的与连接件的一端连接,连接件的另一端设置于封装基板上;液体形态的所述固封件浇筑于连接件的另一端与封装基板上,液体形态的固封件能够固化为固体形态,以固定连接连接件与封装基板。本申请实施例提供的封装基板测试装置能够避免封装基板与印制板的焊接界面受到破坏,方便测量分离力值,进而方便判断封装基板与印制板的焊接可靠性。

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