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公开(公告)号：CN106990368B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201710356061.5
申请日：2017-05-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明公开了一种LED灯具的结温测量方法。该LED灯具的结温测量方法包括：在LED光源加载电流脉冲；采集LED瞬间结电压响应；测量不同温度下LED的结电压响应，完成对LED光源的V‑t标定；测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。本发明提供的LED灯具的结温测量方法能够测量LED灯具的结温，避免了加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化等对结温产生的影响。
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公开(公告)号：CN105444995B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201510788358.X
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种LED照明灯具加速寿命在线测试设备，属于半导体器件的可靠性检测领域，为解决现有技术的问题，测试箱体，包括光学测量通道和温度施加单元，所述光学测量通道位于测试箱体与外接积分球系统连接处；灯具夹具装置，其设置在测试箱体内，其为正反360°可旋转式多工位独立灯架，被测LED灯具样品安装在灯具夹具装置上；外接积分球系统，其与测试箱体紧密连接无漏光，且使隔温抽真空双层玻璃管置入外接积分球系统内部；控制主机，其分别与测试箱体、外接积分球系统和计算机通过数据线连接，用于控制测试箱体的加速温度的设置和外接积分球的测试参量设置；计算机，用于实时显示控制主机的在线数据；该设备能够快速显现LED灯具产品的性能。
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公开(公告)号：CN105136655B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201510600593.X
申请日：2015-09-21
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01N17/00
摘要： 本发明公开了一种在线测量氮化物荧光粉老化程度的设备，包括罐体，在罐体上方密封扣合有盖体，且盖体与罐体之间形成密封腔体，在密封腔体内装有液体，同时在盖体上设置有贯通上下端面的光纤通孔，光纤通孔的上端密封连接有分叉式Y型光纤，该分叉式Y型光纤上端一分叉连接有光源，另一分叉连接有探测设备，在盖体和罐体之间形成的密封腔体内设置有用于装有测量样品容器的放置的样品架，在罐体下方设置有加热装置，在密封腔体内，位于液面的上方还设置有温度传感器和压力传感器，上述的加热装置、温度传感器和压力传感器均与控制器电连接，该设备具有结构简单，设计合理，使用方便，能够在线测量氮化物荧光粉老化程度等优点。
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公开(公告)号：CN105467542B
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：CN201510867545.7
申请日：2015-12-02
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G02B7/00
摘要： 一种双重封闭平面凸轮侧向调焦装置，涉及光学镜头的机械侧调焦领域，解决了现有侧向调焦机构存在的无越程保护功能、结构复杂、成本高的问题。包括固定座、移动座、探测器、探测器联接螺钉、调焦手轮、两个力封闭压缩弹簧、导向座挡板、导向座、导向轴、导向轴轴端固定座、手轮外密封圈、调焦凸轮安装座、凸轮安装座密封圈、调焦偏心凸轮轴、手轮内密封圈、轴承内圈挡圈、轴承外圈挡圈、凸轮轴旋转轴承、调焦施力轴承和施力轴承挡圈。调焦施力轴承的外圆柱面位于移动座的矩形封闭槽内部构成形封闭平面凸轮副；两个力封闭压缩弹簧将移动座的矩形封闭槽的受力面压向调焦施力轴承的外圆柱面。本发明具备越程保护功能，结构简单、成本低。
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公开(公告)号：CN104458544B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201410833077.7
申请日：2014-12-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01N15/14
摘要： 一种流式细胞仪的液流系统，涉及流式细胞仪领域，解决了现有细胞仪的液流系统存在的无法保证细胞仪在低样品进样速率和高样品进样速率条件下均具有高检测精度的问题。包括两个辅助鞘液泵、样品泵、微珠泵、主鞘液泵、冲洗泵、四个电磁阀、五个卸压阀、五个过滤器、六个换向阀、多个三通、流动室、脉动缓冲器、气泡检测模块、通气模块、空气过滤器、冲洗缓冲区、样品进样管、微珠进样管、废液池、鞘液池、清洗液池、消毒液池和去气泡液池。本发明保证了细胞仪在低样品进样速率和高样品进样速率下均具有较高的检测精度，具有清洗、消毒、去气泡功能，既保证了不同样品在液流系统中的纯净度，又提高了样品液通过激光检查区时的流体稳定性和直线性。
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公开(公告)号：CN104296661B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201410617422.3
申请日：2014-10-31
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01B11/00
CPC分类号： G01J3/18 , G01D5/24476 , G01D5/34746 , G01J3/2803 , G01J2003/282
摘要： 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法，属于绝对式光栅尺测量领域，为克服光照强度不均匀、绝对编码刻线质量不高以及光电二极管阵列光电响应不均匀等导致最终输出的具有绝对位置的电信号不一致问题，该方法包括上位机通过存储器给绝对式光栅尺的光电二极管阵列的一致性校正结构的增益校正电路和偏置校正电路分别输入两组初始值；将n个光电二极管在m档光源偏置电流下经过一致性校正结构后输出的电压响应曲线进行直线性拟合；选取一条作为目标直线，并将剩余其他n‑1条响应直线向该目标响应直线拟合；全部直线取平均值；全部直线向该平均值移动；输出电压的响应直线的离散度满足要求为止及进行线性范围扩展，直到离散度和线性范围满足要求为止。
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公开(公告)号：CN104298077B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201410508288.3
申请日：2014-09-26
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G03F7/20
摘要： 本发明涉及一种用于滚动灰度光刻的DMD动作方法，使用DMD多个微镜对光刻胶的单个像素进行曝光，DMD相对于光刻胶相对运动和曝光动作同时进行。本发明公开了DMD的具体动作的时序，DMD动作的微镜状态编码方法，DMD状态寄存器的存储RAM的更新方法，数据获取方法和大小。本发明的滚动灰度光刻的DMD动作方法使得光刻机能够连续光刻，并且刻蚀的图案是8位灰度图案。
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公开(公告)号：CN103308084B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201310269819.3
申请日：2013-06-28
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 一种用于增量式位移测量装置的光电接收传感器涉及精密加工测量领域，解决了位移测量精度不高，无法实现成品后的修调和长期稳定输出光信号。传感器包括：光电探测器阵列、加法器和减法器，增益可调放大电路；光电探测器阵列输出与光信号对应的正弦电流信号；增益可调放大电路接收正弦电流信号后进行放大并转换电压信号；加法器将增益可调放大电路输出的电压信号加和，得到一直流电压信号；减法器将增益可调放大电路输出的电压信号转换成正弦信号或者余弦信号。本发明适应多种光源要求，可对位移信息量高精度分析，并且明显降低由于光源不均匀性和光电探测器阵列分布不均匀所带来的影响，光源可以长期稳定输出光信号，增益可调节，并且结构简单。
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公开(公告)号：CN103322924B
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201310231490.1
申请日：2013-06-09
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01B11/02
摘要： 基于计时计数器算法消除非线性误差的光外差干涉法属于光外差干涉领域，该方法是在存在着非线性误差干扰成分的光路上，设法获得至少3路信号并使其中至少3路中各自的非线性误差干扰成分，在要被消除的信号频率成分上的相位角在一个对应的圆周角范围内各不相同，并且在模拟电信号通道中采用滤波器对信号进行滤波，在模数转换之后，采用计时计数器测得每路测量信号和参考信号的特定相位之间所差的时间，然后换算成相位差，由位移计算部分计算出位移量之后再进行后续处理来消除或抑制干扰成分。本发明可消除非线性误差或干扰的特定谐波成份，调整过程非常容易，提高了系统性能，降低了成本。
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公开(公告)号：CN103322923B
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201310231480.8
申请日：2013-06-09
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01B11/02
摘要： 基于方波均值法消除非线性误差的光外差干涉法属于光外差干涉领域，该方法是在存在着非线性误差干扰成分的光路上，设法获得至少3路信号并使其中至少3路中各自的周期性非线性误差干扰成分，在要被消除的信号频率成分上的相位角在一个对应的圆周角范围内或者排除整数倍圆周角后的一个对应圆周角范围内各不相同，并且在模拟电信号通道中采用滤波器对信号进行滤波，并采用方波均值法求出各路测量信号和参考信号之间的相位差，然后进行模数转换、位移计算、加权和叠加处理，以便消除或抑制这些干扰成分。本发明可以消除非线性误差或干扰的特定谐波成份，其调整过程非常容易，提高了系统性能，降低了成本。
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