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公开(公告)号：CN100375175C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN1687990A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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公开(公告)号：CN100375182C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN1687988A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN100369139C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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公开(公告)号：CN1687989A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN100347775C
公开(公告)日：2007-11-07
申请号：CN200510053509.3
申请日：2005-03-08
申请人： 清华大学
摘要： 本发明涉及多阶只读光盘及其制法，该多阶只读光盘具有多种记录坑，多种记录坑的、沿记录坑的宽度方向的纵截面为多阶任意形状，不同阶数的记录坑的纵截面的面积各不相同，记录坑的纵截面的面积满足下式：S＝∫h(x)dx，其中，S表示所述记录坑的纵截面的面积，x表示记录坑宽度方向的坐标，h(x)表示所述记录坑的纵截面上的坑深分布函数，积分区域为所述记录坑的整个纵截面。另外，还可以对多阶只读光盘的游长进行限制。本发明提供的游程长度受限的多阶只读光盘及其制法结合了多阶技术和游长受限编码的优点，在不改变激光波长和光学数值孔径的情况下，能显著提高只读光盘存储容量和数据传输率，与目前的只读光盘系统保持了最大的兼容性。
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公开(公告)号：CN101013587A
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200610167682.0
申请日：2005-03-08
申请人： 清华大学
IPC分类号： G11B7/26 , G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B7/007
摘要： 本发明提供了用于制作道间距小于0.52微米的多阶只读光盘的方法，该方法包括以下步骤：a)将二进制的用户数据通过纠错编码和多阶调制编码形成多阶编码序列，生成控制母盘刻录的写入信号，并将多阶只读母盘的道间距设定为小于0.52微米；b)用写入信号控制激光器输出的刻录激光的功率，对母盘盘片进行刻录，生成多阶只读母盘；c)以多阶只读母盘为模具，复制出金属制的压模；以及d)使用压模模压复制出多阶只读光盘。根据本发明的方法结合了多阶技术和游长受限编码的优点，在不改变激光波长和光学数值孔径的情况下，能显著提高只读光盘存储容量和数据传输率，与目前的只读光盘系统保持了最大的兼容性。
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公开(公告)号：CN1758347A
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN200510102403.8
申请日：2005-09-09
申请人： 清华大学
摘要： 本发明涉及一种基于聚焦误差的高倍速高密度盘片的质量检测方法，属于光存储技术领域。首先设待测盘片的转速为n倍速，将光盘上的激光反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区对应的四个电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；设定待测盘片质量所期望的抖晃值，并测定与该抖晃值所对应的标准盘片的聚焦偏置值；将标准盘片的聚焦偏置值设定为待测盘片聚焦信号的峰峰值阀值，将上述待测盘片的聚焦误差信号与峰峰值阀值进行比较，若聚焦误差信号位于阀值内，则待测盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则待测盘片质量不合格。本发明的方法，对待测盘片的评价参数少，因此检测速度快，适于在线、大批量快速检测盘片的质量，提高盘片检测效率。
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