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公开(公告)号：CN111141232A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911321483.4
申请日：2019-12-20
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于多目标优化抖动算法的高质量二值条纹产生方法，y提供一种优化目标函数，并通过该函数用于优化一个二值块来代替整个二值条纹图案的优化，再利用正弦条纹的周期性和对称性，将二值块拼成一个完整的图案，本发明采用二值编码技术，大幅提高了三维测量速度，使之可以进行高速三维测量；利用离焦二值编码技术，解决了投影仪的非线性问题，提出了一种基于遗传算法的多目标优化框架，通过多目标优化技术，基于遗传算法框架，通过结合相位优化目标和灰度值优化目标，大大提高了三维测量的精度，改善了传统抖动算法的测量精度，有效地平衡了测量精度和对离焦量敏感的问题。
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公开(公告)号：CN110987943A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911300472.8
申请日：2019-12-17
Applicant: 苏州江奥光电科技有限公司 , 浙江大学昆山创新中心
Abstract: 本发明公开了一种用于PCBA检测的图像拼接系统及方法，包括：相机，用于固定和调节相机和光源位置的机构，用于移动相机位置的移动装置和控制器。本发明按照顺序拍摄多幅图像进行拼接，通过调节拼接参数改变拼接质量，能够获得高像素、大视场的拼接图像，解决由于成像范围限制导致的信息拍摄不全的问题，改进一般图像拼接实时性较差的缺点。
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公开(公告)号：CN105021130B
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201510470879.0
申请日：2015-08-04
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种石英晶片尺寸的测量方法，属于石英晶片测量技术领域。它解决了现有技术中石英晶片测量精度差的问题。石英晶片尺寸的测量涉及以下测量装置：光源、起偏器、检偏器、相机和处理器，本测量方法包括以下步骤：步骤一、调整测量装置的位置并摆放样品；步骤二，调整起偏器、检偏器以及石英晶片与起偏器、检偏器之间的角度；步骤三、拍摄图像并发送给处理器；步骤四，计算石英晶片的尺寸。该石英晶片尺寸的测量方法测量过程简单，操作方便且能够显著提高石英晶片尺寸测量的精度。
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公开(公告)号：CN104753419B
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201510121920.3
申请日：2015-03-19
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于电压切割法的开绕组永磁同步电机系统控制方法，该方法应用电压切割法在准确输出系统所需有功功率的同时降低了开关损耗，保持电容电压稳定；相比SVPWM开关损耗降低至原来的1/2，较大程度地提高了系统效率。同时，本发明控制调节逆变器在提供无功的同时还起到补偿主逆变器低开关频率引起的谐波的作用，实现了开绕组电机的高效高性能控制。
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公开(公告)号：CN105021130A
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：CN201510470879.0
申请日：2015-08-04
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种石英晶片尺寸的测量方法，属于石英晶片测量技术领域。它解决了现有技术中石英晶片测量精度差的问题。石英晶片尺寸的测量涉及以下测量装置：光源、起偏器、检偏器、相机和处理器，本测量方法包括以下步骤：步骤一、调整测量装置的位置并摆放样品；步骤二，调整起偏器、检偏器以及石英晶片与起偏器、检偏器之间的角度；步骤三、拍摄图像并发送给处理器；步骤四，计算石英晶片的尺寸。该石英晶片尺寸的测量方法测量过程简单，操作方便且能够显著提高石英晶片尺寸测量的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104959320A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201510337917.5
申请日：2015-06-18
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开了一种产品全自动目检机的校准方法，属于机器校准方法技术领域。本校准方法解决了目前目检机拾取产品效果不好的问题。本校准方法包括直线电机路径校准和转盘的圆心校准；A1、直线电机按预设位移量b1运动到电机点一；B1、将一个产品放置在吸头正下方；C1、确定在相机视场中产品中心点的坐标p1；D1、直线电机按预设位移量b2运动到电机点二；E1、将一个产品放置在吸头正下方；F1、确定在相机视场中产品中心点的坐标p2；G1、分别计算出：直线电机原点的坐标、相机的放大倍数和直线电机的路径，并将数据输入计算机。通过本方法的校准，从而使得直线电机更为有效的拾取产品。
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公开(公告)号：CN103269191A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201310193687.0
申请日：2013-05-22
Applicant: 浙江大学
IPC: H02P6/08
Abstract: 本发明公开了一种永磁同步电机直接转矩/磁链控制方法，通过采集电机三相定子电压与电流，经三相/两相静止坐标变换，得到两相静止坐标系下的电压和电流，据此计算出电磁转矩和定子磁链实际反馈值。由给定与反馈转速之差，经PI控制器得到电磁转矩的初始给定值，经给定电磁转矩与定子磁链计算模块，得到电磁转矩和定子磁链的给定值。再由给定电压计算模块，得到两相静止坐标系αβ轴上的给定电压，最后经空间矢量脉宽调制生成逆变器的开关信号，触发逆变器的开关器件，实现永磁同步电机的直接转矩/磁链控制。本发明实现了永磁同步电动机低、中、高速的宽范围运行，无需旋转坐标变换，具有计算方便、动态响应快、鲁棒性强等优点。
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公开(公告)号：CN101644890B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200910102203.0
申请日：2009-09-03
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种适用于图像传感器像素阵列的光学邻近校正方法，包括参数初始化，版图层次化处理，对称图形对称切分，对称图形对称化校正等步骤。本发明能够保证像素的一致性和光刻结果图形的对称性，从而保证像素阵列的性能，减小了光学邻近校正结果的数据量，并且能够明显抑制深亚微米工艺下的纹波现象和由其引起的断线和桥连、拐角圆滑、线端缩进等各种制造缺陷，缩短了生产周期，提高了CMOS图像传感器的成品率。
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公开(公告)号：CN1959364A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200610154764.1
申请日：2006-11-24
Applicant: 浙江大学 , 星星集团浙江水晶光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种测试装置，旨在提供一种光学低通滤波器性能测试的装置。该装置包括光源，在光源的光路上，依次设置带小孔的挡板、光学成像系统A、转像系统、光学成像系统B和图像传感器，一个计算机系统连接于图像传感器，用于将图像传感器传送的电信号处理成图像数据结果；被测光学低通滤波器摆放位置设于转像系统与光学成像系统B之间的光路上；所述转像系统是一直角棱镜；所述光学成像系统A和光学成像系统B各包括至少一个显微物镜。本发明提供的检测光学低通滤波器性能的装置相对于现有技术更加快速、批量、精确。
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公开(公告)号：CN1314602A
公开(公告)日：2001-09-26
申请号：CN00104607.1
申请日：2000-03-16
Applicant: 浙江大学
IPC: G02B21/36
Abstract: 本发明涉及一种光学显微镜光电图像转换的方法及装置。该方法是通过将CMOS成像传感器的光敏面与显微镜物镜的成像面重合,直接把光学图像转换成电学图像信号的。用于实现该方法的装置包括具有定位凸台的筒状壳体,在壳体内自下而上依次安装了红外截止滤光片、CMOS成像传感器及CMOS驱动电路板。使用时,只要将该装置插入光学显微镜接目镜筒内即可。本发明结构简单,成本低,不需要任何中继光学系统就能实现高质量的光电图像转换。
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