-
公开(公告)号：CN118913631A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410976388.2
申请日：2024-07-20
申请人： 浙江大学
IPC分类号： G01M11/02 , G06T7/00 , G06V10/764
摘要： 本发明公开了一种基于偏振光的柔性OLED面板缺陷检测装置及检测方法，本发明快速扫描待测柔性OLED面板样品，对待测柔性OLED面板样品进行全面检测，显著提高检测效率，结合先进的图像处理算法，能够自动识别并分类待测柔性OLED面板样品的各缺陷，减少人力成本和时间成本，通过计算对比不同缺陷的穆勒矩阵差异进行区分，识别柔性OLED面板表面多种缺陷，拓宽缺陷检测范围，通过计算各像素点偏振因子的变化趋势，准确定位待测柔性OLED面板样品缺陷所在层的位置，使用视觉检测方案，通过计算机对偏振信息的计算得到缺陷信息，避免检测过程中对待测物品的损害，结合缺陷的种类、像素点位置和所在层级位置，提供更为全面的缺陷描述方法，提高缺陷检测质量。
-
公开(公告)号：CN113624129B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202110356816.8
申请日：2021-04-01
申请人： 浙江大学台州研究院
摘要： 本发明公开一种尺寸测量仪的实时测量方法，1)初始化步骤、2)实时测量步骤、3)匹配步骤；本发明提供了高兼容、标准化、高效实时匹配检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。
-
公开(公告)号：CN110187175B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN201910608688.4
申请日：2019-07-08
申请人： 浙江大学台州研究院
IPC分类号： G01R23/06
摘要： 本发明公开了一种石英晶片抛光研磨在线测频系统，包括DDS信号模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、阻抗匹配模块、信号处理模块、MCU控制系统模块和用于为以上模块提供工作电压的电源模块，所述DDS信号模块根据MCU控制系统模块发出指定的扫频指令产生指定频率范围和扫频速度，输出功率的正弦扫频信号，经过射频功率放大模块把DDS信号模块产生的谐振信号进行功率放大，功率放大后的信号连接到π网络接口电路模块，正弦扫频信号通过π网络作用在晶片上使其产生机械振动，同时晶片的机械振动又产生交变电场，当外加的正选扫频信号频率为某一特定值的时候，振幅明显增大，当产生振幅明显增大的信号时，再去捕获有效信号。
-
公开(公告)号：CN117235995A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311133499.9
申请日：2023-09-04
申请人： 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司 , 浙江大学
IPC分类号： G06F30/20
摘要： 本发明提供一种基于参数等值的光伏电站聚合建模方法，包括：基于光伏电站的内部结构和各光伏发电单元的容量与结构，确定聚合等值模型的结构和总容量；对光伏组件、逆变器、机端变压器、集电线路等部分进行等值参数计算，构建出光伏电站的聚合等值模型。本发明能够在显著降低系统复杂度的基础上实现大型光伏电站的聚合等效，在保留光伏电站模型运行特性和聚合模型精度的同时，极大地提高了仿真计算效率。
-
公开(公告)号：CN116295114A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310195331.4
申请日：2023-03-03
申请人： 浙江大学
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明公开了一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法。基于高反射表面反光特性，建立一个主辅双视角结构光三维重建系统。通过额外引入一个辅助重建视角，使得单次投影重建过程中可避开由于镜面反射造成的图像过曝，在主重建视角下图像过曝的区域，采用辅助视角下的图像重建进行补偿，实现在单次视角下重建更多的点，提升测量速度及效率，同时采用共用同一投影仪的方式也很好的节约了硬件成本，结合多灰度级投影方法，通过逐级降低投影强度，对在主辅双视角下均过曝的点进行重建，进而重建出完整的高反射表面，同时提出了一种双视角下过曝点判别方法，以此判别该点是否在主辅视角下均过曝。
-
公开(公告)号：CN116147534A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202310195327.8
申请日：2023-03-03
申请人： 浙江大学
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明公开了一种基于镜面辅助的多视角三维激光扫描系统及复杂表面全景测量方法，通过引入平面镜的辅助，激光扫描系统(TLS)可以同时从三个不同的视角对物体进行成像，通过前期对两个平面镜进行精准标定，由两个虚拟系统重建的三维数据可以转换到真实系统的坐标系中，从而实现对物体360度全表面三维轮廓重建。解决了传统多视角测量系统设置复杂，需要较高计算成本的问题，可以在更大的景深范围内对物体进行三维测量，这允许我们可以对更大体积的，拥有更加复杂的材质和表面纹理的物体进行三维全景重建，本发明的技术方案可以应用于更多种类型的测量场景。
-
公开(公告)号：CN112284250B
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011103724.0
申请日：2020-10-15
申请人： 浙江大学台州研究院
摘要： 一种基于机器视觉的尺寸测量评分系统及测量方法，其中系统包括操作模块和检测模块，所述操作模块包括系统设置模块以及尺寸测量模块；系统设置模块包括参数配置、试题制作以及模板校准功能；进入系统设置模块需要输入密码；尺寸测量模块包括正面尺寸测量和侧面尺寸测量的功能；尺寸测量评分系统还包括退出系统模块；本发明通过设置尺寸测量界面完成参数配置、试题制作、模板校准以及尺寸测量的功能，实现模板的制作以及待检测零件的精确测量。
-
公开(公告)号：CN112162145B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942393.3
申请日：2020-09-09
申请人： 浙江大学台州研究院
IPC分类号： G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
摘要： 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法，自动搜索实现对SC晶片当前频率的搜索，并且根据自动搜索的不同结果进行不同的处理，若指定圈数内未搜索到频率则系统提示搜索异常报警，若搜索到一个频率则进行单频率跟踪测频流程，若搜索到两个频率则进行双频率跟踪测频流程；同时当系统出现测频异常且频率未到达停机阈值时，调用自动搜索功能重新搜索频率；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法。
-
公开(公告)号：CN113467664A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110356518.9
申请日：2021-04-01
申请人： 浙江大学台州研究院
IPC分类号： G06F3/0482 , G01B11/00 , G01B11/24
摘要： 本发明公开一种基于模板匹配的尺寸测量仪使用方法，2.1)初始步骤、2.2)用户操作判断步骤、2.3)进入测量步骤、2.4)空模板步骤、2.5)退出取消步骤；本发明提供了多参数测量、容易标准化、高效工作的一种基于模板匹配的尺寸测量仪使用方法。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
145 条记录 (耗时 0.038 秒)
