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公开(公告)号：CN110857988A
公开(公告)日：2020-03-03
申请号：CN201910772277.9
申请日：2019-08-21
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 小松崎晋路
Abstract: 一种测量装置100，包括：激光装置110，其具有激光谐振器并输出具有多个模式的调频激光束；分支部件120，其将调频激光束分支成参考光和测量光；差拍信号生成部件150，其通过混合将测量光照射到待测量物体10而反射的反射光来生成差拍信号；和检测部件160，其对通过以第一频率采样差拍信号而生成的第一采样数据和通过以第二频率采样差拍信号而生成的第二采样数据进行频率分析，其中第一频率是等于激光谐振器的谐振频率的频率或者是等于或大于谐振频率的两倍的频率，第二频率是通过将激光谐振器的谐振频率除以正整数而获得，并提供了一种测量方法。
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公开(公告)号：CN105806372B
公开(公告)日：2020-03-03
申请号：CN201610041774.8
申请日：2016-01-21
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 加藤庆显
Abstract: 本发明涉及一种编码器。在标尺中，形成有参考检测图案和位移检测图案。检测头输出参考检测信号、相位补偿信号和位移检测信号。信号处理单元通过对相位补偿信号和参考检测信号其中之一或这两者进行放大并进行相加来生成参考信号，并且检测检测头相对于标尺的位置。复合受光光栅包括参考检测用受光光栅和被配置成相对于参考检测用受光光栅在测量方向上发生偏移的相位补偿用受光光栅。复合受光元件包括被配置为输出参考检测信号的参考检测用受光元件和被配置为输出相位补偿信号的相位补偿用受光元件。
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公开(公告)号：CN110793432A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201910677959.1
申请日：2019-07-25
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种非接触型位移传感器，包括：光源，其发射测量光；液体透镜装置，其折射率响应于输入驱动信号而周期性地变化；物镜，其将从光源发射并已经穿过液体透镜装置的测量光照射在可测量物体处；光检测器，接收由可测量物体反射的测量光，并输出光检测信号；以及信号处理器(控制器)，其基于从光检测器输出的光检测信号计算测量光聚焦在可测量物体的表面上的聚焦定时，并且基于聚焦定时相对于驱动信号周期的相位获得可测量物体的位置。
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公开(公告)号：CN107131853B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201710104606.3
申请日：2017-02-24
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供一种能够保持高灵敏度并且以简易的结构降低灵敏度的测定方向依赖性的测定探头。在探头外壳(306)的轴向(O)上具备两个容许测针(336)的姿势变化的、呈旋转对称形状的支承构件(322、324)，在两个支承构件(322、324)中的具备四个能够变形的臂部(324B)的一个支承构件(324)，四个检测元件(325)配置在四重对称的位置，信号处理电路(320)具备第一处理部(364)，该第一处理部(364)对检测元件(325)的输出进行处理，输出表示接触部(362)在彼此正交的三个方向的各方向上的位移分量的三个位移信号(Vx、Vy、Vz)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110657827A
公开(公告)日：2020-01-07
申请号：CN201910572924.1
申请日：2019-06-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： T.S.库克
IPC: G01D5/14
Abstract: 一种电子位置编码器，包括标尺、检测器、和信号处理结构，该标尺具有按波长λ1周期性布置的信号调制元件(SME)的第一图案轨道和按波长λ2周期性布置的SME的第二图案轨道。检测器包括磁场产生线圈结构、配置为基于第一图案轨道提供检测器信号的第一组传感元件和配置为基于第二图案轨道提供检测器信号的第二组传感元件。第一组传感元件包括经由至少第一对和第二对连接线连接到信号处理结构的第一空间相位子组传感元件和第二空间相位子组传感元件，所述第一对和第二对连接线包括延伸经过或重叠于第二图案轨道的相应跨越段。相应跨越段定位在沿测量轴线方向按距离N×λ2间隔开的位置处，其中N为整数。
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公开(公告)号：CN110657826A
公开(公告)日：2020-01-07
申请号：CN201910572670.3
申请日：2019-06-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/14
Abstract: 一种感应类型位置编码器包括标尺、检测器部分和信号处理器。标尺沿测量轴线布置的信号调制元件(SME)的周期性图案，具有空间波长W1。图案中的一类SME包括相似的导电板或环路。检测器部分包括传感元件且磁场产生线圈产生变化磁通量。传感元件可以包括沿测量轴线布置的导电环路部分且配置为提供检测器信号，该检测器信号对通过邻近SME提供的变化磁通量上的局部效应做出响应。在各种实施方式中，第一类型的SME具有沿测量轴线方向的平均尺寸DSME，其大于DSEN且至少为0.55×W1且最大为0.8×W1，其提供有利的检测器信号特性。
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公开(公告)号：CN105865292B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201610119040.7
申请日：2016-02-04
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 寺内达志
IPC: G01B5/00
Abstract: 提供一种检测指示器，利用该检测指示器可容易地获得准确的测量值。检测指示器包括在其末端具有接触球的测量头，枢转地支撑测量头的壳体，以及检测测量头的旋转位移量的旋转编码器。检测指示器进一步包括根据测量对象表面和测量头之间的角度θ校正测量值的校正单元。校正单元包括存储测量对象表面与测量头之间的角度θ的角度存储器，根据角度θ计算校正系数的校正系数计算单元，以及将基于旋转编码器的检测值的接触球位移量乘以校正系数的校正运算单元。
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公开(公告)号：CN105486251B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201510633501.8
申请日：2015-09-29
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种形状测定装置、形状测定方法及点感测器的定位单元，定位单元包括配设在点感测器(200)周围的两个以上的激光源(231、232)。来自于两个以上的激光源(231、232)的激光(LA、LA)在远离点感测器(200)的与检测点(Ps)相距既定距离的调整点(Pc)处交叉。使调整点(Pc)定位在工件(W)上的所期望的测定开始点(Pm)，使点感测器(200)移动既定距离(Dz)以接近工件(W)并开始进行工件(W)的测定扫描。本发明可容易且迅速地将点感测器的检测点和测定开始点定位。
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公开(公告)号：CN110491226A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910399144.1
申请日：2019-05-14
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 阿部信策
Abstract: 本发明提供一种学习支持系统和计算机可读记录介质。该学习支持系统是用于支持使用用于对测量对象进行测量的实际测量机的作业的学习的学习支持系统，所述学习支持系统包括：位置和姿势识别单元，用于识别实际三维空间内的对象的位置和/或姿势；存储单元，用于存储学习数据，所述学习数据定义在虚拟三维空间内化身使用虚拟测量机进行的示范作业；立体视频生成单元，用于基于所述位置和姿势识别单元所识别的所述对象的位置和/或姿势、以及所述存储单元中所存储的所述学习数据，来生成所述化身进行的示范作业的三维视频；以及头戴式显示器，其安装在学习者的头部上，并且将所述三维视频以叠加在所述实际三维空间上的方式显示。
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