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公开(公告)号：CN101221813B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN200710306135.0
申请日：2007-10-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/26
CPC classification number: G11C16/349 , G11C16/3495
Abstract: 在包括闪存设备和控制闪存设备的存储控制器的存储系统中设置读取电压的方法，包括顺序改变分布读取电压以从闪存设备读取页数据；构成具有数据位号和分布读取电压的分布表，该数据位号指示分别从闪存设备读取的页数据中的擦除状态，分布读取电压对应于读取页数据；根据分布表检测对应于数据位号的分布读取电压，每个数据位号表示存储单元的可能的单元状态的最大点；并根据检测的分布读取电压定义新的读取电压。
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公开(公告)号：CN101206922B
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN200710160149.6
申请日：2007-12-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/10
CPC classification number: G11C16/3418 , G11C16/24 , G11C16/3427
Abstract: 本发明提供了在非易失性存储器中编程的方法，使用增量步进脉冲作为被施加到所选择的字线的编程电压。本方法可以包括：施加预充电电压到偶数位线和奇数位线，以便该偶数位线和该奇数位线被交替地充以预充电电压和高于该预充电电压的升压电压。本方法可以还包括：施加与编程数据相对应的位线电压到偶数位线和奇数位线中所选择的位线。
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公开(公告)号：CN102479550A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201110382310.0
申请日：2011-11-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开一种在非易失性存储器件中生成经补偿的操作电压的方法，以及相关的非易失性存储器件，所述操作电压如读取电压。响应于一个或多个存储单元条件来补偿操作电压，所述存储单元条件如温度变化、所选择的存储单元的编程数据状态或物理位置、所选择的存储单元的页信息、或所选择的字线的位置。
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公开(公告)号：CN101202105B
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN200710305769.4
申请日：2007-10-26
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C16/10 , G11C11/5628 , G11C11/5642 , G11C16/0483 , G11C16/12 , G11C16/3454 , G11C2211/5621 , G11C2211/5641 , G11C2211/5642
Abstract: 一种快闪存储器件，包括每个单元均能储存不同位数的存储单元阵列。该快闪存储器件的页缓冲器电路包括多个页缓冲器，每个页缓冲器在存储单元的编程、擦除和读取操作期间运行。控制逻辑单元根据储存在相应存储单元中的位数控制页缓冲器的功能。
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公开(公告)号：CN101727977A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910174045.X
申请日：2009-10-20
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C16/10 , G11C16/0483 , G11C16/24 , G11C16/3427 , H01L27/11521 , H01L27/11524
Abstract: 一种闪存装置，包括第一存储单元串和第二存储单元串，该第一存储单元串包括多个串联连接的存储单元、以及被配置为将所述串联连接的存储单元耦接到位线的第一和第二串联连接的伪晶体管，该第二存储单元串包括多个串联连接的存储单元、以及被配置为将所述串联连接的存储单元耦接到位线的第一和第二串联连接的伪晶体管。所述第一和第二存储单元串的第一伪存储单元具有与第一伪字线共同连接的栅极并具有不同的阈值电压，并且所述第一和第二存储单元串的第二伪存储单元具有与第二伪位线共同连接的栅极并具有不同的阈值电压。在一些实施例中，第一存储单元串的第一伪存储单元和第二存储单元串的第二伪存储单元可具有比预定电压大的阈值电压，并且第一存储单元串的第二伪存储单元和第二存储单元串的第一伪存储单元可具有比预定电压小的阈值电压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101521042A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200910008372.8
申请日：2009-02-26
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/12
CPC classification number: G11C16/3418
Abstract: 提供了一种用于对非易失性存储设备进行编程的方法。所述方法包括：将第一编程脉冲施加到非易失性存储设备的对应字线；将第二编程脉冲施加到所述字线，其中第二编程脉冲的电压不同于第一编程脉冲的电压；以及将电压施加到连接到字线的每条位线，所述施加到每条位线的电压根据将要编程到对应存储单元的多个比特值、并响应于第一编程脉冲或者第二编程脉冲而彼此不同。
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公开(公告)号：CN101206922A
公开(公告)日：2008-06-25
申请号：CN200710160149.6
申请日：2007-12-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/10
CPC classification number: G11C16/3418 , G11C16/24 , G11C16/3427
Abstract: 本发明提供了在非易失性存储器中编程的方法，使用增量步进脉冲作为被施加到所选择的字线的编程电压。本方法可以包括：施加预充电电压到偶数位线和奇数位线，以便该偶数位线和该奇数位线被交替地充以预充电电压和高于该预充电电压的升压电压。本方法可以还包括：施加与编程数据相对应的位线电压到偶数位线和奇数位线中所选择的位线。
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公开(公告)号：CN107342291B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN201710122841.3
申请日：2017-03-03
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H10B43/35
Abstract: 提供了一种非易失性存储装置，所述非易失性存储装置包括基板、在基板上的存储单元阵列、多个结合焊盘和焊盘电路。存储单元阵列包括沿竖直方向堆叠在基板上的多个栅极导电层以及贯穿在基板的上部上的所述多个栅极导电层的多个沟道。所述多个结合焊盘在存储单元阵列的上部的至少一部分上。所述多个结合焊盘被构造成使非易失性存储装置电连接到外部装置。焊盘电路在基板和存储单元阵列之间。焊盘电路电连接到所述多个结合焊盘中的至少一个。
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