非易失性存储器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116013378A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202211294716.8

    申请日:2022-10-21

    Abstract: 提供了一种非易失性存储器件,该非易失性存储器件包括:存储单元阵列;第一电压生成器,该第一电压生成器被配置为为该存储单元阵列的每条字线生成字线操作电压;第二电压生成器,该第二电压生成器被配置为生成该存储单元阵列的位线操作电压;以及温度单元,该温度单元被配置为:根据该存储单元阵列的实时温度,从温度范围表中确定温度代码的温度范围,并且基于映射到所确定的温度范围的选择信号来调整该第一电压生成器或该第二电压生成器的供电电压。

    页面缓冲器电路及包括其的存储器件

    公开(公告)号:CN114121102A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202110735179.5

    申请日:2021-06-30

    Abstract: 一种存储器件包括存储单元阵列、页面缓冲器电路和计数电路。所述页面缓冲器电路包括连接到所述存储单元阵列的第一页面缓冲器列和第二页面缓冲器列。在第一级中,所述第一页面缓冲器列包括第一页面缓冲器单元,所述第二页面缓冲器列包括第二页面缓冲器单元。所述第一页面缓冲器单元响应于第一感测信号执行第一感测操作,所述第二页面缓冲器单元响应于第二感测信号执行第二感测操作。所述计数电路根据所述第一感测操作的结果对第一阈值电压区域中包括的存储单元的第一数目进行计数,以及根据所述第二感测操作的结果对第二阈值电压区域中包括的存储单元的第二数目进行计数。

    对非易失性存储器装置进行编程的方法

    公开(公告)号:CN108986861B

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN201710412107.0

    申请日:2017-06-02

    Abstract: 提供了一种对非易失性存储器装置进行编程的方法。在对三维非易失性存储器装置进行编程的方法中,至少执行一次编程循环。编程循环包括用于对多个存储器单元中的被选择的存储器单元进行编程的编程步骤和用于验证被选择的存储器单元是否被编程通过的验证步骤。在对被选择的存储器单元进行编程时,可以改变施加到共同连接到所述多个存储器单元的共源极线的电压的电平。因此,在编程操作中,可以减小对共源极线进行充放电所需要的功耗,同时增大升压效率。

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