工业检测中的异常检测方法、异常检测装置

    公开(公告)号:CN116777906A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202311035668.5

    申请日:2023-08-17

    摘要: 本发明涉及工业检测技术领域,提供一种工业检测中的异常检测方法、异常检测装置,所述方法包括:获取良品工件图像生成第一数据集;在良品工件图像的全图区域中进行随机裁图生成第二数据集;在良品工件图像的预设区域中进行随机裁图生成第三数据集;将三个数据集组合后训练DDPM;将待检测工件图像缩放后输入训练后的DDPM,将DDPM的输出输入超分辨率生成模型生成修复图像;对待检测工件图像和修复图像进行相似度评估;根据评估结果进行异常检测。本发明采用不同的裁剪策略组成数据集训练DDPM,使得DDPM对图像背景和前景的理解更加准确,在推理阶段将DDPM和超分辨率生成模型结合,对高分辨率小缺陷的情况可有效发挥作用。

    工业检测中的缺陷检测方法、缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN116721098A

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202310993738.1

    申请日:2023-08-09

    摘要: 本发明涉及工业检测技术领域,提供一种工业检测中的缺陷检测方法、缺陷检测装置,所述方法包括:获取待检测工件的图像,采用光学面聚类算法输出待检测工件的光学面对应的缺陷检测模型,将待检测工件的图像输入对应的缺陷检测模型,以输出目标检测结果;将图像输入实例分割网络,以获取实例分割结果,通过异常检测网络给出实例分割目标的置信度,根据置信度输出异常检测结果;采用非极大值抑制方法对目标检测结果和异常检测结果进行多类别目标框融合,根据融合结果生成缺陷检测结果。本发明对工件图像的异常检测和实例分割结果进行置信度融合,并结合缺陷检测结果进行最终的目标融合,由此,可以有效解决缺陷样本被稀释和缺陷形态多样性的问题。

    透明材料光学层析缺陷检测方法、检测系统及介质

    公开(公告)号:CN115586195A

    公开(公告)日:2023-01-10

    申请号:CN202211470051.1

    申请日:2022-11-23

    IPC分类号: G01N21/896 G01N21/94 G06T7/00

    摘要: 本发明提供了一种透明材料光学层析缺陷检测方法、检测系统及介质,包括:驱动被测透明物沿预定方向移动;对被测透明物的运动方向的缺陷进行暗场成像、对被测透明物的运动方向以外的其他方向的缺陷进行明场成像、对被测透明物垂直于运动方向的侧面进行层析成像,以及对被测透明物进行透射从而对被测透明物的表面灰尘进行透射成像;对采集到的图像分别进行缺陷检测。本申请采用偏振透射光区分透明物体表面的划伤缺陷与灰尘,结合光学层析技术,对透明材料内部缺陷进行成像,为保证样品测试时间,系统结合了分时曝光技术,既保证了缺陷检出率,又保证了样品检测速度,进而满足透明材料快速高检出率的缺陷检测需求。

    工业质检中机械臂轨迹规划方法及设备

    公开(公告)号:CN117754593A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202410073305.9

    申请日:2024-01-18

    IPC分类号: B25J9/16

    摘要: 本发明提供了一种工业质检中机械臂轨迹规划方法及设备,提供以强化学习算法实现工业质检中机械臂运动轨迹智能规划软件,包括数据解算步骤、拍照点位分组步骤、机器人仿真步骤和轨迹规划步骤,可以完成全智能化的机械臂的移动步长规划并且提供可靠的运动轨迹,解决工业品图像数据采集难的同时通过智能化提高了质检效率。

    缺陷检测方法和系统
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117392678A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311656832.4

    申请日:2023-12-06

    摘要: 本发明提供了一种缺陷检测方法和系统,该方法包括:从图像数据集中选取预处理图像;提取待处理图像中的显著性区域,并获取可贴图区域;选取第一历史缺陷图像,并获取相应的第二标注文件;根据第二标注文件随机选取一个目标缺陷,并抠出相应的缺陷图和掩码图;在可贴图区域中选取目标区域放入掩码图,以及根据目标区域将缺陷图覆盖在预处理图像中的对应区域,获取相应的第一缺陷图像和第三标注文件;根据第三标注文件统计第一缺陷图像中的缺陷类别,按照缺陷大小依次存入第一寄存器中;对第一缺陷图像进行前向加噪处理以获取前向加噪图像,输入扩散生成模型以输出第一解噪图像;获取目标检测图像和相应的第四标注文件,对目标设备进行缺陷检测。

    基于OpenGL的缺陷生成方法及装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117095111A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311131547.0

    申请日:2023-09-01

    IPC分类号: G06T15/80 G06T19/20

    摘要: 本发明涉及工业质检技术领域,提供一种基于OpenGL的缺陷生成方法及装置,方法包括:获取良品图和缺陷样本图,并生成缺陷样本图的第一颜色贴图和第一法线贴图;生成良品图的掩膜图,在掩膜图的掩膜区域任意选择缺陷位置,并得到第二颜色贴图和第二法线贴图;在OpenGL渲染工作室中,生成具有顶点数据的3D平面;通过OpenGL着色器对良品图、第二颜色贴图、第二法线贴图和3D平面及其顶点数据进行处理得到待渲染图;对待渲染图进行渲染得到目标缺陷图。由此,通过OpenGL对良品图、掩膜图的颜色贴图和法线贴图进行渲染处理生成目标缺陷图,渲染效率高,可以在保证缺陷生成效果的同时提升缺陷生成效率。

    基于目标特征与位置编码的缺陷检测方法及装置

    公开(公告)号:CN116934718A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310924463.6

    申请日:2023-07-25

    摘要: 本发明涉及工业质检技术领域,提供一种基于目标特征与位置编码的缺陷检测方法及装置,方法包括:根据良品图像、历史缺陷图像和待测图像得到合成缺陷图像;基于训练集对目标检测模型进行训练;将测试集输入训练后的目标检测模型,以得到目标检测模型输出的目标检测图像;提取目标检测图像中的目标特征;进行编码计算,以得到每个目标特征对应的空间位置编码;基于所有目标特征和对应的空间位置编码得到待测图像中缺陷所在的目标框和目标类别。由此,通过融合目标特征和空间位置编码实现缺陷检测,可以解决缺陷样本不足导致模型精度低的问题,提高了检测效率和检测精度,且算法复杂度低。

    工业机器人运动点位顺序规划方法及设备

    公开(公告)号:CN117840998A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202410073292.5

    申请日:2024-01-18

    IPC分类号: B25J9/16

    摘要: 本发明提供了一种工业机器人运动点位顺序规划方法及设备,包括:点位信息重构、模型推理和结果输出。本发明采用关节位姿信息进行点位重排,降低了计算复杂度,节约了算力和时间;用关节位姿替代了点位坐标,规避了运动学逆解可能存在多解和无解问题,提升了结果精度;通过在对机器人运动点位进行重排序,优化机器人的运动路径,并实时提供轨迹质量信息实现输出结果的动态调整,减少了遍历运动点位所需要的时间。

    基于缺陷迁移技术的缺陷检测方法和系统

    公开(公告)号:CN117523338A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311518252.9

    申请日:2023-11-14

    摘要: 本发明提供了一种基于缺陷迁移技术的缺陷检测方法和系统,该方法包括以下步骤:获取目标设备的第一样本图像,并获取相关设备的历史样本图像集;分别对历史样本图像集进行缺陷特征提取以获取相应的第一缺陷特征图像集;对第一样本图像进行显著性特征提取以获取相应的第二缺陷特征图像;分别计算第一缺陷特征图像集与第二缺陷特征图像的相似度;根据各相似度提取第三缺陷特征图像集;将第三缺陷特征图像集中的缺陷特征分别迁移至目标设备的良品图像,获取第四缺陷特征图像集;根据第四缺陷特征图像集和第一样本图像训练目标检测模型;根据目标检测模型进行缺陷检测。由此,大大增强了训练出的目标检测模型对目标设备的适应能力和泛化能力。

    工业检测中的缺陷检测方法、缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN116721098B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202310993738.1

    申请日:2023-08-09

    摘要: 本发明涉及工业检测技术领域,提供一种工业检测中的缺陷检测方法、缺陷检测装置,所述方法包括:获取待检测工件的图像,采用光学面聚类算法输出待检测工件的光学面对应的缺陷检测模型,将待检测工件的图像输入对应的缺陷检测模型,以输出目标检测结果;将图像输入实例分割网络,以获取实例分割结果,通过异常检测网络给出实例分割目标的置信度,根据置信度输出异常检测结果;采用非极大值抑制方法对目标检测结果和异常检测结果进行多类别目标框融合,根据融合结果生成缺陷检测结果。本发明对工件图像的异常检测和实例分割结果进行置信度融合,并结合缺陷检测结果进行最终的目标融合,由此,可以有效解决缺陷样本被稀释和缺陷形态多样性的问题。