光学中心测试方法、装置和设备

    公开(公告)号:CN109163888A

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201810997883.6

    申请日:2018-08-29

    Inventor: 宋林东 王倩

    Abstract: 本发明实施例提供一种光学中心测试方法、装置和设备,该方法包括:确定通过图像采集设备获取的第一图像的亮度阈值;基于所述亮度阈值对所述第一图像进行二值化处理以获得第二图像;确定所述第二图像的多列中具有预设像素值的数量最多的列坐标,确定所述第二图像的多行中具有所述预设像素值的数量最多的行坐标,所述预设像素值为所述二值化处理后的一种像素值;基于所述列坐标和所述行坐标确定所述图像采集设备的光学中心。通过测试设备对第一图像的简单二值化处理,以及预设像素值的数量的计算,从而可以快速、准确的确定光学中心的坐标,进一步可以快速判断图像采集设备是否合格,能够有效提升测试工作效率。

    基于TOF模组的深度信息测量方法及装置

    公开(公告)号:CN108845332A

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201810725027.5

    申请日:2018-07-04

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开一种基于TOF模组的深度信息测量方法及装置。该方法的一具体实施方式包括:使TOF模组交替出射不同光强的光脉冲信号;获取TOF模组基于各光强的光脉冲信号及与其对应的反射光信号所输出的深度信息,得到各光强的光脉冲信号对应的深度信息点云图和灰度图;根据各光强的光脉冲信号对应的深度信息点云图和灰度图,计算得到作为深度信息测量结果的最终深度信息点云图。该实施方式测量范围大且测量精度高。

    一种手指触控识别方法、装置和触控投影设备

    公开(公告)号:CN107515714B

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN201710624857.4

    申请日:2017-07-27

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开了手指触控识别方法、装置和触控投影设备。该方法包括:根据深度相机预先获取投影平面的基准深度图像获得投影平面的深度信息;利用深度相机实时获取投影平面的当前深度图像,并将当前深度图像与基准深度图像进行比较,获得当前深度图像中的手部深度信息;根据手部深度信息和投影平面的深度信息获得手部与投影平面的深度差值,将深度差值在第一预设区域阈值范围内的区域,确定为指尖区域;将深度差值在第二预设区域阈值范围内的区域,确定为手臂区域;根据指尖区域和手臂区域的相对位置,确定手指触控位置坐标。可见,本发明结合指尖区域和手臂区域进行手指触控识别,准确确定手指触控位置坐标,提高识别准确度,提高用户体验。

    一种深度信息采集方法及系统

    公开(公告)号:CN107564051B

    公开(公告)日:2020-06-02

    申请号:CN201710790832.1

    申请日:2017-09-05

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开一种深度信息采集方法,包括对深度关系进行标定;垂直于待测物体方向发射第一激光图案,第一激光图案经待测物体表面反射形成第二激光图案;在垂直于待测物体方向接收第二激光图案;计算第二激光图案中采样点位置的像素密度值;根据标定的深度关系,确定像素密度值对应采样点的深度值。本发明还公开一种深度信息采集系统。本发明的方法和系统具有计算速度快、复杂度低、采集效率高、精度合适、系统结构简单、成本低等优点,深度图像分辨率可基于采样点的设计进行调整,适用于不同尺寸和不同精度要求的待测物体的深度信息采集。

    投影设备及镜头畸变校正方法、畸变校正装置和存储介质

    公开(公告)号:CN111093067A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201911423693.4

    申请日:2019-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种镜头畸变校正方法,该方法包括:控制镜头将标定图像投影到投影面,获取所述标定图像对应形成的投影图像;基于所述目标区域确定所述投影图像对应的目标图像;根据所述标定图像、所述投影图像和所述目标图像,确定镜头校正参数;按照所述镜头校正参数控制所述镜头进行图像投影。本发明还公开了一种畸变校正装置、投影设备和可读存储介质。本发明旨在消除镜头投影图像的畸变,提高投影图像的显示质量。

    一种DLP投影仪清晰度评价方法及其检测系统

    公开(公告)号:CN110864880A

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201911006966.5

    申请日:2019-10-22

    Inventor: 赵团伟 宋林东

    Abstract: 本发明公开了一种基于工业相机矫正进行DLP投影仪清晰度侧视的方法,本发明包括采用矫正过程获取的参考值SFRcal和采用检测过程获取的检测值SFRrel,并根据归一化公式SFR=SFRrel/SFRcal×100%计算矫正值SFR,其中:所述检测过程中的检测图形为黑色矩形投影,所述矫正过程中的检测图形为粘贴的黑色不透光矩形片,且黑色矩形投影的位置与黑色不透光矩形片的位置相重合。本发明通过该种方式降低因工业相机的自身成像原因造成的检测值不准确的因素,因此通过归一法,将矫正值SFRcal作为基数来矫正检测值,获取的最终用于判定DLP投影仪的矫正值,该矫正值的获取排除了工业相机本身的因素,对于评价DLP投影仪的成像质量更具有代表性。

    基于结构光的深度信息获取方法及装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN110557622A

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201910826857.1

    申请日:2019-09-03

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开一种基于结构光的深度信息获取方法及装置、设备及介质。该方法的一具体实施方式包括:控制投影模组向待测物体投射编码光,以在待测物体形成阵列排布的多个特征块,特征块包含划分特征区域的划界线及各特征区域分别包含的多个特征点;控制摄像头模组采集在待测物体形成的编码光图像;基于划界线获取各特征块的像素坐标,并根据像素坐标获取各特征块包含的特征点及特征点的特征;根据编码光图像中的各特征块包含的特征点的特征将编码光图像中的各特征块与标准图像中的各特征块对应,并根据编码光图像与标准图像中的对应特征块的像素坐标之间的差值计算得到待测物体各位置的深度信息。该实施方式可实现高精度且高效率的深度信息获取。

    缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN110441326A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201910721059.2

    申请日:2019-08-05

    Inventor: 王倩 宋林东

    Abstract: 本发明公开一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质,所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置,缺陷检测装置包括采集单元,缺陷检测方法包括:控制投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于投影屏;移动采集单元,使采集单元的采集方向指向第一投影区块;控制采集单元采集第一检测图像,第一检测图像与第一投影区块相关联;确定第一投影区块的的第一缺陷信息。重复上述步骤,直至第一投影图像的全部第一投影区块完成缺陷检测。本发明提供一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质,旨在解决现有技术中对投影系统的缺陷通过人工的方式进行检测,导致检测标准不统一,检测结果不准确的问题。

    一种投影仪清晰度检测方法、装置、系统和设备

    公开(公告)号:CN110087046A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201910182175.1

    申请日:2019-03-11

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明实施例提供一种投影仪清晰度检测方法、装置、系统和设备,该方法包括:获取投射到光幕上的水平条纹图像和垂直条纹图像;其中,所述水平条纹图像和垂直条纹图像的中心点与所述光幕的中心点对齐;根据获取的所述水平条纹图像和所述垂直条纹图像,计算所述投影仪的清晰度。通过上述技术方案,根据水平条纹图像、垂直条纹图像的灰度值,和预设的黑阈值、白阈值,计算得到投影仪的清晰度。

    一种广角模组的测试装置、测试系统以及测试方法

    公开(公告)号:CN109375470A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201811495458.3

    申请日:2018-12-07

    Inventor: 徐振宾 宋林东

    CPC classification number: G03B43/00 G01M11/02 G01M11/0292

    Abstract: 本发明公开一种广角模组的测试装置,包括形成有球型空腔的箱体,所述箱体内壁的顶部中心处设置有中心光板,所述箱体内壁的底部中心处设置有供待测广角模组的镜头伸入的通道,所述空腔的半径大于等于所述待测广角模组的调焦距离,所述箱体内壁的侧部设置有周向均布的至少四个周边光板,其中,所述中心光板以及所述周边光板上分别设置有至少一组黑白线对,所述中心光板以及所述周边光板与从所述通道伸入的待测广角模组镜头之间的距离为所述待测广角模组的调焦距离。本发明能够降低制造成本,提高产品的测试效率。

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