-
公开(公告)号:CN108588766A
公开(公告)日:2018-09-28
申请号:CN201810371406.9
申请日:2013-09-11
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
Abstract: 本发明涉及附载体铜箔。本发明提供一种适于形成窄间距的附载体铜箔。该附载体铜箔具备铜箔载体、积层于铜箔载体上的剥离层、与积层于剥离层上的极薄铜层,极薄铜层经粗化处理,极薄铜层表面的Rz以非接触式粗糙度计进行测定为1.6μm以下。
-
公开(公告)号:CN105209252B
公开(公告)日:2018-01-30
申请号:CN201480012569.8
申请日:2014-03-04
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
CPC classification number: B32B15/01 , C25D1/04 , H05K1/09 , H05K3/025 , H05K2201/0355
Abstract: 提供一种适于形成窄间距的附载体铜箔。一种附载体铜箔,其依序具备作为支持体的载体、中间层、极薄铜层,该极薄铜层表面的至少一面以非接触式粗糙度计进行测定而得的Rz在0.5μm以下。
-
公开(公告)号:CN103796422B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201310516914.9
申请日:2013-10-28
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
Abstract: 本发明提供带载体的铜箔、使用它的覆铜板、印刷布线板、印刷电路板和印刷布线板的制造方法。所述带载体的铜箔能很好地抑制铜箔的翘曲而不会限制极薄铜层和载体的种类、以及它们的厚度。所述带载体的铜箔具有铜箔载体、层叠在铜箔载体上的中间层以及层叠在中间层上的极薄铜层,当设残余应力在收缩方向上时为正值、在拉伸方向上时为负值时,铜箔载体厚度和铜箔载体外侧表面的残余应力的乘积、与极薄铜层厚度和极薄铜层外侧表面的残余应力的乘积之差为-150μm·MPa以上500μm·MPa以下。
-
公开(公告)号:CN104822524B
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201380062756.2
申请日:2013-11-29
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
CPC classification number: C25D7/0614 , C23C18/1653 , C25D1/04 , C25D3/12 , C25D3/38 , C25D3/562 , C25D5/022 , C25D5/14 , C25D5/48 , C25D9/08 , C25D11/38 , H05K1/09 , H05K3/205 , H05K2201/0355 , H05K2201/0367
Abstract: 本发明提供一种在向绝缘基板的积层步骤前极薄铜层不会自载体剥离,另一方面,在向绝缘基板的积层步骤后可进行剥离的附载体铜箔。本发明的附载体铜箔依序具有铜箔载体、中间层、及极薄铜层,并且中间层自铜箔载体侧依序具有Ni层及Cr层,中间层中的Ni的附着量为100μg/dm2以上且未达1000μg/dm2,中间层中的Cr的附着量为5~100μg/dm2。
-
公开(公告)号:CN104812944A
公开(公告)日:2015-07-29
申请号:CN201380060497.X
申请日:2013-11-20
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
CPC classification number: C25D5/10 , C23C18/1653 , C25D1/04 , C25D3/38 , C25D5/12 , C25D7/0614 , H05K1/09 , H05K3/025 , H05K3/384 , H05K2201/0355
Abstract: 本发明提供一种适于形成细间距的附载体铜箔。本发明的附载体铜箔依序具备载体、剥离层、极薄铜层、及任意的树脂层,并且极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.5μm以下,且Rz的标准偏差为0.1μm以下。
-
公开(公告)号:CN103796422A
公开(公告)日:2014-05-14
申请号:CN201310516914.9
申请日:2013-10-28
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
Abstract: 本发明提供带载体的铜箔、使用它的覆铜板、印刷布线板、印刷电路板和印刷布线板的制造方法。所述带载体的铜箔能很好地抑制铜箔的翘曲而不会限制极薄铜层和载体的种类、以及它们的厚度。所述带载体的铜箔具有铜箔载体、层叠在铜箔载体上的中间层以及层叠在中间层上的极薄铜层,当设残余应力在收缩方向上时为正值、在拉伸方向上时为负值时,铜箔载体厚度和铜箔载体外侧表面的残余应力的乘积、与极薄铜层厚度和极薄铜层外侧表面的残余应力的乘积之差为-150μm·MPa以上500μm·MPa以下。
-
公开(公告)号:CN110863221A
公开(公告)日:2020-03-06
申请号:CN201911075883.1
申请日:2013-11-20
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
Abstract: 本发明公开了附载体铜箔。具体地,本发明提供一种适于形成细间距的附载体铜箔。本发明的附载体铜箔依序具备载体、剥离层、极薄铜层、及任意的树脂层,并且极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.5μm以下,且Rz的标准偏差为0.1μm以下。
-
公开(公告)号:CN110117799A
公开(公告)日:2019-08-13
申请号:CN201910106665.3
申请日:2013-11-20
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
Abstract: 本发明提供一种适于形成细间距的附载体铜箔。本发明的附载体铜箔依序具备载体、剥离层、极薄铜层、及任意的树脂层,并且极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.5μm以下,且Rz的标准偏差为0.1μm以下,上述极薄铜层具有选自由耐热层、防锈层、铬酸盐处理层及硅烷偶合处理层所组成的群中1种、2种、3种或4种的层。
-
-
公开(公告)号:CN108277509A
公开(公告)日:2018-07-13
申请号:CN201711470157.0
申请日:2013-11-20
Applicant: JX日矿日石金属株式会社
Abstract: 本发明公开了附载体铜箔。具体地,本发明提供一种适于形成细间距的附载体铜箔。本发明的附载体铜箔依序具备载体、剥离层、极薄铜层、及任意的树脂层,并且极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.5μm以下,且Rz的标准偏差为0.1μm以下。
-
-
-
-
-
-
-
-
-