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公开(公告)号：CN102565570A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110392791.3
申请日：2011-12-01
CPC classification number: G11B5/455 , G01R31/2635 , G01R31/2642 , G11B5/105 , G11B5/3166 , G11B5/3173 , G11B2005/0021 , H01S5/0021 , H01S5/0042
Abstract: 提供了一种用于对受验对象执行老化测试的方法，其中多个电极被设置在不同高度的位置。该方法包括如下步骤：制备受验对象，其中在所述多个电极中处于较高位置的电极具有较高的表面粗糙度；使多个片式探针分别与所述多个电极接触；以及，通过所述多个片式探针向所述多个电极供应电流。通过实施该方法，所述片式探针可以与所述电极保持稳定接触，因为处于较高位置的电极比处于较低位置的电极具有更高的表面粗糙度Ra。因此，可执行稳定和可靠的老化测试。
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公开(公告)号：CN100550135C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200410104726.6
申请日：2004-10-29
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B5/3166 , G11B5/455 , Y10T29/49025 , Y10T29/49131 , Y10T29/5313 , Y10T29/53165 , Y10T29/53187
Abstract: 本发明涉及一种测量一悬架上将要安装一用于磁头的磁头浮动块的预定位置的方法，包括：获得在悬架延伸的X-Y平面内的基准部的中心部分的第一X-Y坐标；从垂直于X-Y平面的方向向形成在一凹座的凸面的背面内的一凹面照射光线而对该凹座进行拍摄以获得该凹座的图像；对基准部的中心部分和凹座的中心部分进行拍摄以获得相应的图像；在X-Y平面上沿悬架的延伸方向获得一中心线的X-Y坐标和磁头浮动块的一中心点的X-Y坐标；以及通过使磁头浮动块的中心线与预定方向一致，并使磁头浮动块的中心点的X-Y坐标与凹座的中心部分的第二X-Y坐标一致而获得磁头浮动块将要安装到悬架上的位置。本发明还涉及实现上述方法的装置。
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公开(公告)号：CN100402974C
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：CN200410054665.7
申请日：2004-07-27
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30148 , H01L21/67144 , H01L21/67259
Abstract: 本发明的一个目的是提供一种在安装电子器件过程中，获取用于安装的底板、被安装部件和包含例如一部分透射光的粘合剂的固定剂的图像，从而对安装状态进行检查的方法。为了实现上述目的，在按照本发明的方法中，照相机，第一光源和第二光源被集成为一个单元，所述照相机被设置在所述用于安装的底板正上方，所述第一光源被设置在该底板的斜上方，所述第二光源被设置在该底板的斜上方但位于与第一光源不同的位置上，它们沿与该用于安装的底板基本上平行的方向移动，以确定所述第一光源等的位置，在该位置上，光透射部分可以被理想地拍照。
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公开(公告)号：CN1308926C
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200410091047.X
申请日：2004-11-15
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B5/4826 , G11B5/3169 , G11B5/455 , G11B5/6005 , Y10T29/49027 , Y10T29/4903 , Y10T29/49037
Abstract: 本发明提供一种制造磁头的方法，其中可通过将确定飞行特性的ABS方式作为基准进行一浮动块和一悬架的粘接，并且在浮动块或悬架上不需要特殊的构造。该方法涉及一种用于将其上形成有一空气轴承表面(ABS)的一浮动块与一悬架相接合的制造磁头的方法。拍摄其上形成有该ABS表面的该浮动块的一表面，并从拍摄出的图像中识别该ABS和在该ABS内形成的一刻入区域。然后，计算用作接合该悬架时的引导的一个基准，并根据该基准将该浮动块与该悬架相接合，其中，该拍摄步骤包括用波长比一般可见光的波长短的紫外光照射浮动块，并使用紫外光检测相机拍摄从浮动块反射的光。因此，可以使在ABS中产生的正压力和负压力围绕悬架很好地平衡，从而可以稳定飞行姿态和电特性。
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公开(公告)号：CN1288632C
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200410095910.9
申请日：2004-10-29
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G01B11/25 , G01B11/2433
Abstract: 在一平行于一平面部件的延伸平面的平面内的XY-坐标中获得形成在该平面部件上的一突出部分的凸面的顶部位置与该凸面的背面侧上的凹面的最深位置之间的偏差量。拍摄通过照射该凹面所获得的环形图像，并根据如此获得的图像来获取该凹面的最深位置的XY-坐标。对于该凸面，通过具有一与该平面部件的延伸平面平行的摄影光轴的一正面相机和具有一与该平面平行并与该正面相机的摄影光轴垂直的摄影光轴的侧面相机来分别获得该凸面的顶部位置的X坐标和Y坐标，并根据所获得的其相应的XY-坐标来获取偏差量和偏差方向。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN1615077A
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：CN200310103457.7
申请日：2003-11-03
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种可以处理高密度安装、较窄间距安装、腔体安装等的安装方法。在该安装方法中，获得拾取嘴从晶片上拾取并吸持的芯片相对于参考空间方位的偏差量，并且当将芯片传送到安装嘴以实际将芯片安装到基片上时，考虑偏差量并进行偏差量校正，以使安装嘴以一固定的空间方位吸持芯片。
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公开(公告)号：CN1591260A
公开(公告)日：2005-03-09
申请号：CN200410057038.9
申请日：2004-08-25
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: H05B33/0842
Abstract: 本发明提供了一种照明装置，该照明装置配置简单并且能够从由LED等构成的光源提供稳定的光通量。在本发明中，注意力被集中在这样一个事实，即加在LED的电压对应于LED的温度而变化，并因此由珀耳帖元件等构成的温度控制器件对应于加在LED上的电压而被操作。
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公开(公告)号：CN102565570B
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201110392791.3
申请日：2011-12-01
CPC classification number: G11B5/455 , G01R31/2635 , G01R31/2642 , G11B5/105 , G11B5/3166 , G11B5/3173 , G11B2005/0021 , H01S5/0021 , H01S5/0042
Abstract: 提供了一种用于对受验对象执行老化测试的方法，其中多个电极被设置在不同高度的位置。该方法包括如下步骤：制备受验对象，其中在所述多个电极中处于较高位置的电极具有较高的表面粗糙度；使多个片式探针分别与所述多个电极接触；以及，通过所述多个片式探针向所述多个电极供应电流。通过实施该方法，所述片式探针可以与所述电极保持稳定接触，因为处于较高位置的电极比处于较低位置的电极具有更高的表面粗糙度Ra。因此，可执行稳定和可靠的老化测试。
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公开(公告)号：CN102749532A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210117343.7
申请日：2012-04-20
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B5/455 , G01R31/2635 , G01R31/2642 , G11B2005/0021 , H01S5/0021 , H01S5/0042
Abstract: 本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。
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