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公开(公告)号：CN101855524A
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN200880115086.5
申请日：2008-11-07
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
IPC分类号： G01F23/288 , G01N23/08 , G01T1/28
CPC分类号： G01F23/288
摘要： 公开了一种辐射式测量仪表，用于测量位于容器(3)中的填充物质(1)的物理测量变量并且输出测量信号，该测量信号对应于所测的物理测量变量的测量值。测量仪表具有单一的导线对(17)，整个测量仪表的供电通过该导线对进行并且测量信号的传输也通过该导线对实现。测量仪表包括：放射性辐射体(5)，其在操作期间发送穿过容器(3)的放射性辐射；检测器(7)，其具有闪烁器(9)和光电倍增器(11)并且用于检测依赖于待测物理测量变量且穿透容器(3)的辐射强度并将其转换为电子输出信号(N)；测量仪表电子装置(15)，其用于基于检测器(7)的电子输出信号(N)产生测量信号(M)并通过导线对(17)提供该测量信号；蓄能器(27)，其通过导线对(17)得到供电；控制器(45)，其根据通过导线对(17)和蓄能器(27)而提供的能量，触发测量阶段，在测量阶段测量仪表测量物理测量变量，并且控制器在测量阶段期间仅仅令光电倍增器(11)工作，其中在测量阶段中利用高压级联电路(31)产生光电倍增器(11)工作所需的高电压。
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公开(公告)号：CN1416531A
公开(公告)日：2003-05-07
申请号：CN01806067.6
申请日：2001-03-16
申请人： 埃克斯康特尔股份公司
发明人： 汤姆·富兰克
CPC分类号： G01N23/04
摘要： 一种用于放射照相术的方法和设备，以及一种用于检测入射放射的检测器。在该方法和设备中，从X射线源(60)发射X射线(9)，该X射线形成平面束并透过要成象的目标(62)，并且在检测器(64)中检测透过所述目标(62)的X射线。检测入射放射的检测器腔(64)包括在其间施加电压以建立电场的电极配置，该电场可以引起由入射放射释放的一次和二次离子化电子的电子－离子雪崩。相对于入射放射(9)检测器(64)最好定向成使放射在其间建立电场的基本平行的第一板和第二板之间横向地进入。由所述电子－离子雪崩感生的电信号在包括多个彼此相邻排列并且各沿着大致和入射放射平行的方向的检测器电极元件的检测器电极配置的至少一个中检测。在处理电子电路中处理来自每个检测器电极元件的脉冲，以得到和每个检测器电极元件对应的每个象素的值。检测器腔中和所述X射线光子交互作用的原子属于温度在－30℃到室温之间的液体或固体材料。
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公开(公告)号：CN1042241A
公开(公告)日：1990-05-16
申请号：CN89108785.0
申请日：1989-10-28
申请人： 施卢默格工业公司
CPC分类号： H01J47/062 , G01T1/2935 , H01J47/02
摘要： 本发明涉及一个用于对入射到一个板上的中性粒子流(14)作一维分析的中性粒子检测器，这个检测器包括一个按掠射方式放置的平面固体变换器(17)，一个用于气体受激电离的栅状电荷放大丝(18)和一个电荷收集导电条(19)，这些导电条位于最靠近变换器的一侧，它们的电位和变换器的电位相同，本发明适合于成象。
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公开(公告)号：CN113433580A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202110710500.4
申请日：2021-06-25
申请人： 中国科学技术大学
摘要： 本发明公开了一种气体探测器制作方法、气体探测器及射线探测装置，包括制作信号读出板，在下层绝缘层上端面制作金属读出电极，在金属读出电极的上端面覆盖上层绝缘层；压合信号读出板和表面处理，将信号读出板压合在基板上，并使上层绝缘层上远离基板的一侧呈平面；制作阻性阳极电极，在信号读出板的上端面制作阻性层，在阻性层的上端面的外周固定低阻电极环；制作探测器放大组件，将支撑框固定在低阻电极环的上端，并使支撑框完全覆盖低阻电极环，将微网电极固定在支撑框的上端。该气体探测器制作方法、气体探测器及射线探测装置能够实现低本底、高分辨的射线粒子探测。
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公开(公告)号：CN111999755A
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN202010999232.8
申请日：2020-09-22
申请人： 江苏康众数字医疗科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种具有自动曝光控制功能的平板探测器及控制方法，平板探测器包括：第一光转换层；第一光传感器；第一扫描读取芯片；用于自动曝光控制的采集控制组件，控制方法：a.曝光开始之前，设置DAEC激活像素以及目标灰度值V，打开曝光开关，曝光开始；b.DAEC层快速不间断的重复扫描读出M×N个像素的灰度值，每一次扫描，求出DAEC激活像素的平均灰度值，将每次求出平均值进行累加；c.当累加和大于等于设置的目标值V时，高压发生器停止曝光，完成自动曝光控制。能提高采集控制组件的扫描和读出时间，实现DAEC的高速、稳定且精准的响应。
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公开(公告)号：CN107402401A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201710815355.X
申请日：2017-09-12
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01T1/28
CPC分类号： G01T1/28
摘要： 本发明公开了一种硬X射线成像探测器，解决了现有技术在探测硬X射线时时间分辨率和空间分辨率均低、并且视场小从而达不到实际探测需求的问题。本发明包括主要由探测器框体、射线滤窗和荧光屏共同围设而成密封的真空腔体，均设于真空腔体内的多通道硬X射线探测光阴极和微通道板，以及脉冲高压电源；脉冲高压电源分别为多通道硬X射线探测光阴极和微通道板提供工作电压，以及为多通道硬X射线探测光阴极和微通道板之间及微通道板和荧光屏之间加载电压。本发明结构简单、设计科学合理，使用方便，在探测硬X射线时能有效提高时间分辨率、优化空间分辨率和物方空间分辨，并且具备时间门控功能，同时具有很大的探测视场。
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公开(公告)号：CN102272628B
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201080004133.6
申请日：2010-01-11
申请人： 阿迪克森真空产品公司
发明人： P·茹尔当
CPC分类号： G01F17/00 , H01J43/246 , H01J43/30
摘要： 本发明涉及一种用于测量和处理具有至少两个十进制的输入信号(To)的设备，包括：电子倍增器(4)，其具有基于其电源电压(Vm)的指数增益并且接收输入信号(To)；电源(5)，其为倍增器(4)提供电源电压(Vm)；用于电源(5)的控制电路(6)，其增益(10)和偏移(11)参数是可调节的并且通过改述倍增器(4)的指数增益来限定输出信号范围；对数压缩放大器(T)，其输出作为控制电路(6)的输入而被接收以根据电子倍增器(4)的输出信号(IoG)在测量动态范围内连续改变电子倍增器(4)的指数增益，并且构成设备的输出信号(Vout)；测量和计算装置，其用于预先确定电子倍增器(4)的指数增益的指数值(b)并且基于所确定的指数值(b)来计算控制电路(6)的增益(10)和偏移(11)参数值。本发明还涉及相应的检漏器和测量和处理方法。
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公开(公告)号：CN101855524B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200880115086.5
申请日：2008-11-07
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
IPC分类号： G01F23/288 , G01N23/08 , G01T1/28
CPC分类号： G01F23/288
摘要： 公开了一种辐射式测量仪表，用于测量位于容器(3)中的填充物质(1)的物理测量变量并且输出测量信号，该测量信号对应于所测的物理测量变量的测量值。测量仪表具有单一的导线对(17)，整个测量仪表的供电通过该导线对进行并且测量信号的传输也通过该导线对实现。测量仪表包括：放射性辐射体(5)，其在操作期间发送穿过容器(3)的放射性辐射；检测器(7)，其具有闪烁器(9)和光电倍增器(11)并且用于检测依赖于待测物理测量变量且穿透容器(3)的辐射强度并将其转换为电子输出信号(N)；测量仪表电子装置(15)，其用于基于检测器(7)的电子输出信号(N)产生测量信号(M)并通过导线对(17)提供该测量信号；蓄能器(27)，其通过导线对(17)得到供电；控制器(45)，其根据通过导线对(17)和蓄能器(27)而提供的能量，触发测量阶段，在测量阶段测量仪表测量物理测量变量，并且控制器在测量阶段期间仅仅令光电倍增器(11)工作，其中在测量阶段中利用高压级联电路(31)产生光电倍增器(11)工作所需的高电压。
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公开(公告)号：CN102272628A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201080004133.6
申请日：2010-01-11
申请人： 阿迪森真空产品公司
发明人： P·茹尔当
CPC分类号： G01F17/00 , H01J43/246 , H01J43/30
摘要： 本发明涉及一种用于测量和处理具有至少两个十进制的输入信号(To)的设备，包括：电子倍增器(4)，其具有基于其电源电压(Vm)的指数增益并且接收输入信号(To)；电源(5)，其为倍增器(4)提供电源电压(Vm)；用于电源(5)的控制电路(6)，其增益(10)和偏移(11)参数是可调节的并且通过改述倍增器(4)的指数增益来限定输出信号范围；对数压缩放大器(T)，其输出作为控制电路(6)的输入而被接收以根据电子倍增器(4)的输出信号(IoG)在测量动态范围内连续改变电子倍增器(4)的指数增益，并且构成设备的输出信号(Vout)；测量和计算装置，其用于预先确定电子倍增器(4)的指数增益的指数值(b)并且基于所确定的指数值(b)来计算控制电路(6)的增益(10)和偏移(11)参数值。本发明还涉及相应的检漏器和测量和处理方法。
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公开(公告)号：CN101011254B
公开(公告)日：2011-10-05
申请号：CN200710007958.3
申请日：2007-02-01
IPC分类号： A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
摘要： 本发明涉及一种X射线装置的焦点和检测器系统和用于产生投影或断层造影相位对比图像的方法，包括：具有焦点(F1)和设置在焦点一侧的源光栅(G0)的辐射源(2)，该源光栅设置在辐射路径中并产生射线相干的X射线(Si)场；具有相位光栅(G1)和检测器(D1)的光栅/检测器装置，该相位光栅具有平行于源光栅(G0)的光栅线用以产生相干图案，该检测器具有多个平面设置的检测器元件(Ei)用以测量相位光栅后的取决于位置的辐射强度；检测器元件(Ei)由多个纵向闪烁条纹(SSi)形成，闪烁条纹平行于相位光栅(G1)的光栅线并且具有小周期(ps)，该周期的整数倍对应于相干图案的、由相位光栅形成的平均的大周期(p2)。
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