摄像模组镜头与图像传感器相对位置的测试方法

    公开(公告)号:CN107702695A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201710882986.3

    申请日:2017-09-26

    Inventor: 郝瑞娜 宋林东

    Abstract: 一种摄像模组镜头与图像传感器相对位置的测试方法,1)在白板测试环境下,将摄像模组样本镜头以清晰调焦距离与白板平行设置;2)在预设角度范围内调整图像传感器并拍摄图像,得到多张不同相对倾角对应的图像;3)选取两个亮度值并利用二值法计算每张图像在两个亮度值时亮度中心的差值,得到多组相对倾角与亮度中心差值之间的对应关系;4)在白板测试环境下,待测试摄像模组以和步骤1同样的清晰调焦距离拍摄图像,由步骤3的方法计算所述两个阈值时亮度中心的差值,根据对应关系内的数据,可得待测试摄像模组镜头与图像传感器相对倾角,并进一步获的相对偏移量。该方法可直接在白板测试工站完成,提高测试效率,节约测试成本。

    一种手指触控识别方法、装置和触控投影设备

    公开(公告)号:CN107515714A

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201710624857.4

    申请日:2017-07-27

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开了手指触控识别方法、装置和触控投影设备。该方法包括:根据深度相机预先获取投影平面的基准深度图像获得投影平面的深度信息;利用深度相机实时获取投影平面的当前深度图像,并将当前深度图像与基准深度图像进行比较,获得当前深度图像中的手部深度信息;根据手部深度信息和投影平面的深度信息获得手部与投影平面的深度差值,将深度差值在第一预设区域阈值范围内的区域,确定为指尖区域;将深度差值在第二预设区域阈值范围内的区域,确定为手臂区域;根据指尖区域和手臂区域的相对位置,确定手指触控位置坐标。可见,本发明结合指尖区域和手臂区域进行手指触控识别,准确确定手指触控位置坐标,提高识别准确度,提高用户体验。

    用于摄像头模组的污点检测方法及装置

    公开(公告)号:CN106791804A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611046563.X

    申请日:2016-11-23

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开了一种用于摄像头模组的污点检测方法及装置,该方法包括:获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像;对图像进行亮度分阶,得到图像的亮度等高线数据;确定图像的最亮中心点;将图像划分为各图像区域,其中,每一图像区域具有邻近和远离最亮中心点的第一和第二边缘;计算从各图像区域中选出的待检测区域的第一边缘的平均亮度A1和第二边缘的平均亮度A2;计算待检测区域的实际最大亮度差等于平均亮度A1与平均亮度A2的差值的绝对值;根据亮度等高线数据,计算待检测区域的理论最大亮度差;判断实际最大亮度差与所述理论最大亮度差之间的差值是否大于设定的亮度阈值,如是,则确定所述图像在所述待检测区域存在污点。

    投影仪的组装方法、投影仪的组装设备和可读存储介质

    公开(公告)号:CN112804509A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN202110329605.5

    申请日:2021-03-26

    Inventor: 王倩 宋林东

    Abstract: 本发明公开了一种投影仪的组装方法、投影仪的组装设备和可读存储介质,所述投影仪包括投影光机和镜头,所述镜头设于所述投影光机的出光面一侧,所述投影光机通过所述镜头投影画面,所述组装方法包括:获取投影光机经所述镜头的投影画面;确定所述投影画面的角点位置;依据所述角点位置和预设的对应关系调整所述镜头和所述投影光机之间的组装位置,其中,所述预设的对应关系由角点位置和预设的标准位置相互结合生成。本发明技术方案能够在镜头的表面和投影光机的出光面之间存在倾斜的情况,有效保证投影光机投射出去的光线经过镜头后聚焦在屏幕的表面。

    深度模组测距方法、装置、深度相机及移动终端

    公开(公告)号:CN111308484A

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201911188648.5

    申请日:2019-11-26

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开了一种深度模组测距方法、装置、深度相机及移动终端,所述深度模组用于测量与方形物体的距离,所述方法包括:控制所述深度模组对所述方形物体进行拍摄,获得深度图像和灰阶图像,所述深度图像和所述灰阶图像的像素点位置一一对应;依据所述深度图像,获得所述方形物体上表面的三维信息;依据所述灰阶图像,获得所述方形物体的外角点位置对应的外角点三维坐标;依据所述外角点三维坐标,获得所述方形物体的竖直边有效长度;通过所述三维信息和所述竖直边有效长度,测量得出所述方形物体的体积。本发明能够有效测量得出方形物体的体积,保证方形物体和地面的接触位置测量准确。

    一种滤光片污点检测方法及检测装置

    公开(公告)号:CN111122595A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN202010014711.X

    申请日:2020-01-07

    Abstract: 本发明适用于滤光片检测技术领域,提供了一种滤光片污点检测方法,包括以下步骤:使光源发出的光线经过分束装置后形成的两束光线中的一束光线射向含有待测滤光片及传感器的摄像模组,另一束光线射向反射装置;摄像模组和反射装置分别反射经过分束装置的光线形成两束反射光线,两束反射光线再次经过所述分束装置后,在拍摄装置上形成劈尖干涉条纹,获得干涉条纹图像;对获得的干涉条纹图像进行分析,若干涉条纹图像局部有阴影,则对应滤光片的位置具有污点。借此,本发明能够有效的对滤光片上的污点进行检测,进而降低拆卸检测效率,降低滤光片的损坏程度。

    深度模组的图像处理方法、装置、存储介质及深度相机

    公开(公告)号:CN110866946A

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201911178922.0

    申请日:2019-11-25

    Inventor: 宋林东

    Abstract: 本发明公开了一种深度模组的图像处理方法、装置、可读存储介质及深度相机,所述方法包括:获取所述深度模组拍摄得到的深度图像和灰度图像,所述深度图像和所述灰度图像的像素位置一一对应;计算所述灰度图像中每一像素点位置的灰阶值;依据所述灰阶值,获得所述深度图像的图像处理区域;依据所述图像处理区域,获得所述深度图像对应像素点的深度值。本发明能够对测量得到的深度图像进行有效处理,使形成的深度图像更加平滑,利于后期的使用。

    一种TOF模组标定方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN110807813A

    公开(公告)日:2020-02-18

    申请号:CN201911006870.9

    申请日:2019-10-22

    Inventor: 王非非 宋林东

    Abstract: 本发明公开一种TOF模组标定方法、装置及系统。该方法的一具体实施方式包括:控制标定板在导轨上进行远离TOF模组的匀速运动;判断匀速运动中的所述标定板所处的位置,在所述标定板自预设初始位置至预设终点位置的区间内,周期性获取TOF模组测量得到的标定板的测量距离值及对应时刻的TOF模组与标定板之间的实际距离值,得到标定数据;根据所述标定数据对所述TOF模组进行标定。该实施方式节省了标定的时间,提高了标定效率。

    投影图像检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN110418124A

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201910721058.8

    申请日:2019-08-05

    Inventor: 王倩 宋林东

    Abstract: 本发明公开了一种投影图像检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质,所述检测方法包括以下步骤:投影生成标定图像,所述标定图像依据颜色区分为若干分区图像;获取每一所述分区图像的位置;投影生成白场图像,依据所述分区图像的位置获得所述白场图像对应的待测分区图;整合所述待测分区图生成整体待测图;确定所述整体待测图显示暗区位置的数量。本发明能够有效检测投影图像中的坏点数量。

    深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN110187328A

    公开(公告)日:2019-08-30

    申请号:CN201910489765.9

    申请日:2019-06-05

    Inventor: 宋林东 王倩

    Abstract: 本发明公开一种深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质,深度模组的测量方向设置有测试反射件,测试反射件与深度模组之间的距离为第一设定距离,校准步骤包括:依据第一设定距离,确定深度模组的快门开启的第一延迟时间;依据第一延迟时间,控制深度模组测量与反射件之间的距离,获得第一深度距离;选取第一设定距离范围内的第一测试点,深度模组至第一测试点之间的距离为第二设定距离;依据第二设定距离,确定深度模组的快门开启的第二延迟时间;依据第二延迟时间,控制深度模组测量与反射件之间的距离,获得第二深度距离;校准深度模组。本发明技术方案能够有效减少测试反射件的移动,提高校准效率。

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