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公开(公告)号：CN117852476A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410263528.1
申请日：2024-03-08
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/39
Abstract: 本申请涉及一种基于不完备算法进行仿真的方法和装置，方法包括：判断故障列表中是否存在故障；若故障列表中存在故障，则随机选取一个故障作为基准故障，并通过完备的自动测试向量生成算法生成基准故障的基准向量；若故障列表中仍存在故障且故障失败率未达到失败率阈值，则随机选择一个故障作为附加故障；以基准向量为约束，采用不完备的自动测试向量生成算法生成附加故障的附加向量，直至故障列表中不存在故障或故障失败率达到失败率阈值，其中，不完备的自动测试向量生成算法用于忽略故障传播路径上部分逻辑门的传播决策；若确定附加向量的数量达到预设数量阈值，则进行故障仿真。本申请在保证算法正确的基础上减少了仿真时长。
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公开(公告)号：CN117422031B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311741584.3
申请日：2023-12-18
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/333 , G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种ATPG系统测试向量生成和精简的方法和装置。该方法包括：从第一故障集合中取出一个未生成有测试向量的作为主要故障，第一故障集合保存所有待测故障；为主要故障生成原始测试立方和第一冲突子句库，第一冲突子句库保存有与主要故障相关的冲突子句；在根据主要故障的第一冲突子句库确定第一次要故障与主要故障之间不存在冲突的情况下，利用第一测试立方中的非确定位为第一次要故障生成测试向量，第一测试立方为原始测试立方或在原始测试立方中利用非确定位为其他次要故障生成测试向量后得到的，第一次要故障为从第一故障集合中取出的另一个未生成有测试向量的待测故障。本申请解决了相关技术中的测试向量较大的技术问题。
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公开(公告)号：CN117422031A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311741584.3
申请日：2023-12-18
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/333 , G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种ATPG系统测试向量生成和精简的方法和装置。该方法包括：从第一故障集合中取出一个未生成有测试向量的作为主要故障，第一故障集合保存所有待测故障；为主要故障生成原始测试立方和第一冲突子句库，第一冲突子句库保存有与主要故障相关的冲突子句；在根据主要故障的第一冲突子句库确定第一次要故障与主要故障之间不存在冲突的情况下，利用第一测试立方中的非确定位为第一次要故障生成测试向量，第一测试立方为原始测试立方或在原始测试立方中利用非确定位为其他次要故障生成测试向量后得到的，第一次要故障为从第一故障集合中取出的另一个未生成有测试向量的待测故障。本申请解决了相关技术中的测试向量较大的技术问题。
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公开(公告)号：CN119272671A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411221867.X
申请日：2024-09-02
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/3308
Abstract: 本申请涉及一种电路仿真方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：获取电路网表文件和测试向量文件；根据待仿真电路的解析结果，生成故障列表；按照预设排序方案对测试向量文件中的多个目标测试向量组进行排序，得到分组排序结果；利用不同内核的多个线程分别依据分组排序结果中的目标测试向量组对待仿真电路进行逻辑仿真或故障仿真，得到各个目标测试向量对应的逻辑仿真结果和故障仿真结果；根据逻辑仿真结果和故障仿真结果，输出电路仿真结果。利用不同内核的多个线程分别利用不同的目标测试向量组对待仿真电路进行逻辑仿真或故障仿真，从而解决现有电路仿真方法的仿真过程耗时较长、效率低下的问题。
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公开(公告)号：CN118566700B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411037331.2
申请日：2024-07-31
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Inventor： 叶靖
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种ATPG动态测试精简方法、装置、设备及计算机可读介质。该方法包括：初始化电路中所有潜在次要故障对应的失败惩罚因子和测试向量集；基于失败惩罚因子结合先验启发式规则确定各潜在次要故障的综合优先级，基于综合优先级确定当前次要故障；基于ATPG算法生成当前次要故障对应的测试向量，并判断测试向量生成结果；若测试向量生成成功，则将生成的测试向量添加至测试向量集中，同时更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤；若测试向量生成失败，则更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤，直至测试向量生成失败的次数达到失败次数阈值。本申请解决了ATPG动态测试精简方法自适应性低的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119070989A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411014442.1
申请日：2024-07-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Abstract: 本申请涉及一种格密码加速器构建方法、装置、设备及计算机可读介质。该方法包括：从预设格密码算子集合中提取出覆盖所有格密码运算的目标运算范式，其中，所述预设格密码算子集合中包括多个格密码多项式算子，所述目标运算范式用于表示出所述预设格密码算子集合中的所有所述格密码多项式算子；按照所述目标运算范式搭建针对每一个所述格密码多项式算子的通用统一化硬件架构，得到目标格密码加速器。本申请通过从格密码多项式算子集合中提取出统一运算范式，然后针对该统一运算范式进行统一硬件架构设计，实现更高的格密码加速效果，解决了算子固化导致的运算负载与算力资源不匹配以及算子模块间数据搬运造成的大量性能浪费的技术问题。
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公开(公告)号：CN118897793A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839163.2
申请日：2024-06-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本申请涉及一种诊断覆盖率的确定方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：获取目标对象提供的目标文件，并根据目标文件确定安全机制的输出点；识别电路模块上与输出点对应的输入点以及中间结构，其中，电路模块上覆盖多个安全机制，中间结构为输出点与输入点之间的连接部分；从目标文件中提取与安全机制对应的第一诊断覆盖率，并将第一诊断覆盖率映射至与输入点、输出点以及中间结构对应的部件上；根据各个部件之间的层级关系以及第一诊断覆盖率确定电路模块以及各个部件的第二诊断覆盖率。解决了无法准确地计算同时被多个安全机制覆盖的部件的诊断覆盖率的问题。
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公开(公告)号：CN118897790A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839134.6
申请日：2024-06-26
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
Abstract: 本申请涉及一种集成诊断分析与失效率的FMEDA计算方法、装置、设备及介质，方法包括：获取电子系统上各个组件的多类组件信息，并获取计算诊断覆盖率时生成的参数文件；根据多类组件信息以及参数文件提取与各个组件对应的分析数据，并分别将分析数据填入第一表格的对应列，得到第二表格，其中，第一表格的列名为预先设置并填入的；利用分析数据计算每个组件上各个故障类型的失效率，并将失效率填入第二表格，得到FMEDA汇总表格；通过FMEDA汇总表格分别计算单点故障度量、潜伏故障度量以及随机硬件失效概率度量。解决了FMEDA计算得到的度量指标的准确度不可信的问题。
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公开(公告)号：CN117852495B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263517.3
申请日：2024-03-08
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G06F30/398
Abstract: 本申请涉及一种电路的插链方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请提出一套完整的插链流程，从电路解析、用户模块唯一化处理、链数/扫描单元均衡策略到电路层次关系的打平与穿透操作，替代传统的插链方案以提高电路的解析能力和处理速度，在多时钟场景下也能成功解析并得到较高故障覆盖率，解决了传统插链方法无法覆盖多时钟场景，且无法对更高层次的Hierarchical电路进行插链操作的技术问题。
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公开(公告)号：CN117995262A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410404409.3
申请日：2024-04-07
Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本申请提供一种存储器自测试静态分组方法及装置，该方法包括：当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。本申请通过分组后，可以对存储器进行按组测试，对于不同测试成本的存储器组可以相应地规划测试次数，从而可以提高存储器的测试效率，降低测试总成本。
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