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公开(公告)号：CN101013820B
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200610156624.8
申请日：2006-12-29
申请人： 三美电机株式会社
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 本发明的目的在于提供一种计时电路，其能够缩短充电控制装置的动作确认所需要的时间，并且无需为此设置外部端子。在具有振荡器(12)、对振荡器输出的振荡信号进行分频的分频部(13)、(16)、(17)，对规定时间进行计时的计时电路中具有：比较单元(23)，把从外部供给规定电压范围的电压信号或者与所述规定电压范围不同的电压的省时模式指示电压的外部端子(21)的电压和规定电压(24)进行比较，判断是否为省时模式指示；和第一切换单元(SW1)，在为省时模式指示时进行切换，以使振荡器输出的振荡信号旁路分频部的一部分(13)。
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公开(公告)号：CN101930023A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200910303444.1
申请日：2009-06-19
申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
发明人： 陈正记
IPC分类号： G01R19/165
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 一种CPU电压测试系统包括：一电压侦测单元，用于侦测一CPU的输入电压并输出至少一侦测电压值；一数据处理单元，用于接收所述侦测电压值并判断所述侦测电压值是否处于一允许电压范围之内及用于输出一VID Code控制信号；及一VID Code编码单元，用于接收所述VID Code控制信号以输出一VID Code信号给一PWM控制器以调整所述CPU的输入电压。本发明还提供一种CPU电压测试方法。通过本发明CPU电压测试系统及其方法，可自动完成对所述CPU的输入电压的测试，提高了测试效率，且可避免由人为的因素导致错误的测试结果。
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公开(公告)号：CN101639506A
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200910041275.9
申请日：2009-07-16
申请人： 旭丽电子(广州)有限公司 , 光宝科技股份有限公司
发明人： 严道成
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 一种电子装置，其包括：一第一电源接点、一第二电源接点及一控制单元。其中，第一电源接点是电性连接一电压源的正极端，第二电源接点是电性连接电压源的负极端，而控制单元是电性连接第一电源接点及第二电源接点，以形成一信号传输路径，并接收电压源的供电。其中，当控制单元执行于一测试模式时，控制单元是依据预设的一指令集中的指令来进行启闭运作，以改变信号传输路径所传输的一电流波形信号。藉此，以达到测试方便且测试效率高的目的。
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公开(公告)号：CN100394686C
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200410097455.6
申请日：2004-11-25
申请人： 英特赛尔美国股份有限公司
IPC分类号： H02M3/04
CPC分类号： G01R31/3004 , G11C29/12005 , H03F3/45174 , H03F3/45475 , H03F3/45928
摘要： 一种集成电路包含：一个容限控制放大器电路、第一和第二偏置管脚、一个容限控制管脚、选择逻辑、和一个镜放大器电路。根据一个参考电压，该容限控制放大器电路驱动一个输出电流以控制一个输入电压。第一和第二偏置管脚提供来耦合一个外部的容限电压分压器。该容限控制管脚至少具有包括一个上态和一个下态的两个状态。根据该容限控制管脚的状态，该选择逻辑有选择地在第一和第二偏置管脚之间切换该容限控制放大器电路的输出，并且有选择地在第二和第一偏置管脚之间切换该容限控制放大器电路的输入。该镜放大器电路在第一容限电阻上镜像第一和第二偏置管脚之间的电压。
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公开(公告)号：CN101080640A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200580043108.8
申请日：2005-12-16
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 欧内斯特·P·沃克 , 罗纳德·A·萨特斯奇夫
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/2839 , G01R31/2889 , G01R31/3004
摘要： 用于提供电流至被测器件的设备包括被配置成提供电流至器件的第一参数测量单元和被配置成提供电流至器件的第二参数测量单元。来自第二参数测量单元的电流增大了在器件处的来自第一参数测量单元的电流。
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公开(公告)号：CN101064657A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：CN200710096628.6
申请日：2007-04-19
申请人： 西门子公司
IPC分类号： H04L12/40 , H04L29/02 , G05B19/048
CPC分类号： G05B19/41855 , G01R31/3004 , G01R31/31717 , G05B2219/31138 , H04L12/10 , Y02P90/185
摘要： 本发明公开了一种在通信网络中应用的分路元件(T1，T2)，其中在两个按照本发明构成的分路元件(T1，T2)协调作用时可以借助检查电流(I)识别出在两个分路元件(T1、T2)之间延伸的、具有电流输入导线(SZ)和电流反馈导线(SR)的通信介质、尤其是线路(H)中已消除的故障，该检查电流通过优选设置在每个分路元件中的馈入检查装置(PE)馈入，并由同样优选设置在每个分路元件(T1、T2)中的终端检查装置(PA)检测，其中每个终端检查装置(PA)在检测检查电流(I)时实施为抑制与相应的分路元件(T1、T2)对应的总线终端(BT)。
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公开(公告)号：CN101013820A
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200610156624.8
申请日：2006-12-29
申请人： 三美电机株式会社
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 本发明的目的在于提供一种计时电路，其能够缩短充电控制装置的动作确认所需要的时间，并且无需为此设置外部端子。在具有振荡器(12)、对振荡器输出的振荡信号进行分频的分频部(13)、(16)、(17)，对规定时间进行计时的计时电路中具有：比较单元(23)，把从外部供给规定电压范围的电压信号或者与所述规定电压范围不同的电压的省时模式指示电压的外部端子(21)的电压和规定电压(24)进行比较，判断是否为省时模式指示；和第一切换单元(SW1)，在为省时模式指示时进行切换，以使振荡器输出的振荡信号旁路分频部的一部(13)。
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公开(公告)号：CN1742209A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN03826009.3
申请日：2003-02-20
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2879 , G01R31/275 , G01R31/2856 , G01R31/3004 , G01R31/3008
摘要： 一种用于测试半导体电路(10)的方法，包括测试电路并在测试期间调节电路的阱偏置(14，18)。该方法通过在测试期间调节阱偏置改善了基于电压的和IDDQ测试和诊断的分辨率。另外，该方法在应力测试中提供了更有效的应力。该方法应用于IC，其中半导体阱(阱和/或衬底)从芯片VDD和GND单独地连线，允许在测试期间对阱电势的外部控制(40)。总之，本方法依赖于利用阱偏置来改变晶体管的阈值电压。
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公开(公告)号：CN1500246A
公开(公告)日：2004-05-26
申请号：CN01821524.6
申请日：2001-12-03
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 迈克尔·C·帕尼斯 , 布拉德福德·B·罗宾斯
IPC分类号： G06F11/26 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31716 , G01R31/3004 , G01R31/3016 , H04L1/243
摘要： 一用于经济且全面地检测串行端口的装置包括一接收器和一发射器。该接收器可与串行端口的TX线耦合用于接收一串行位流。该发射器可与串行端口的RX线耦合用于产生一串行位流。该接收器与发射器耦合，从而在串行端口的TX和RX线之间建立一环回连接。在接收器和发射器之间插入一时间失真电路和一选择器。该时间失真电路加入预定量的时序失真以检测串行端口。该选择器在接收器和直接输入之间进行选择，它提供一算法检测信号。该算法检测信号与接收器接收到的输入串行位流不同，从而可单独的检测TX和RX线。
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公开(公告)号：CN1347144A
公开(公告)日：2002-05-01
申请号：CN01125214.6
申请日：2001-08-31
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 提供一种借助于打算的高度集成和高速度的实现能够得到高度可靠的半导体器件的制造方法。在诸过程期间,在一个包括一个CMOS静态型电路的希望电路形成在半导体衬底上直到产品装运之后,进行:一种第一操作,把一个预定输入信号供给到电路,并且检索与它对应的一个第一输出信号;和一种第二操作,给出增大构成CMOS静态型电路的MOSFET的导通电阻值的一种操作条件,并且检索与该条件对应的一个第二输出信号;及一个测试步骤,通过从第二输出信号变化的第一输出信号确定失效。
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